貼片電容容值偏低？怎么解決？

1、量測儀器差異對量測結(jié)果的影響對策：

在測量貼片電容容值時將儀器調(diào)校并將儀器的設(shè)定電壓與實(shí)際加在產(chǎn)品兩端所測電壓盡量調(diào)整,使實(shí)際加載在待測物上的電壓和輸出電壓一致。

2、測試條件對量測結(jié)果的影響的對策：

對于不同容值的貼片電容會采用不同的測試電壓和測試頻率來量測其容值。

3、量測環(huán)境條件對量測結(jié)果的影響的解決對策：

將產(chǎn)品放置在20℃的環(huán)境下一段時間,使材料在較穩(wěn)定的測試環(huán)境下再進(jìn)行測試。

4、MLCC產(chǎn)品材料老化現(xiàn)象的解決對策：

高溫烘烤：將測試容量偏低的產(chǎn)品放置在環(huán)境溫度為：150℃條件下烘烤1hour。然后在常溫25℃下放置24小時，再行測試，容值將恢復(fù)到正常規(guī)格范圍內(nèi)；

或者將測試容量偏低的產(chǎn)品浸至錫爐或過回流焊后，再進(jìn)行測試，容值將恢復(fù)到正常規(guī)格范圍內(nèi)。

 安裝時貼片鋁電解電容經(jīng)過正錯的安裝及加載之后，不要在試圖用于其他線路板或其他用途

電容器是個復(fù)雜的東西，因為它是由很多基礎(chǔ)元件組成的，由于原材料及制造工藝的原因，很多小廠生產(chǎn)的電容器介質(zhì)中很容易存在雜質(zhì)，機(jī)械損傷，針孔，清潔度低等問題。

 電容器的早期損壞多由于制造原因，高壓電容器:通常由多個元件申并聯(lián)構(gòu)成，每個元件由鋁箔作電極，將固體介質(zhì)放于電極之間.經(jīng)卷繞而制成。

 元件的極板面積很大，由于原材料及制造工藝等原因。

 介質(zhì)中可能存在雜質(zhì)，機(jī)械損傷.針孔、清潔度低等問題，這就成了電容器固有的隱患。

 在系統(tǒng)中受各種原因引起的過電壓，過電流及周圍高、低溫度的作用，這些薄弱點(diǎn)便引起介質(zhì)擊穿。擊穿時通常會產(chǎn)生火花，進(jìn)一步的擴(kuò)大范圍。

從而形成多層短路甚至整個元件短路。與擊穿元件串聯(lián)的元件上的電壓將會隨之升高，與其并聯(lián)的元件組會被短接，從而使剩余的串聯(lián)組上的電壓隨之升高。

 通過每個元件的電流也隨之增大.將導(dǎo)致各個元件的迅速老化，增加發(fā)熱量.同時在較高電壓作用下也將產(chǎn)生極板邊緣的局部放電。

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可以用做出小體積大容量的產(chǎn)品。

 有助于提高生產(chǎn)效率，可以自動化生產(chǎn)。

 使用貴金屬生產(chǎn)，高穩(wěn)定性，耐高溫，可靠性好，壽命長。

但是，在交流電路中，因為電流的方向是隨時間成一定的函數(shù)關(guān)系變化的。

 而電容器充放電的過程是有時間的，這個時候，在極板間形成變化的電場，而這個電場也是隨時間變化的函數(shù)。

 實(shí)際上，電流是通過場的形式在電容器間通過的。

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