我們可以提供的半導體材料領域5N-7N的高純及超高純材料，這些材料廣泛用于半導體材料，高純合金，紅外材料，太陽能電池材料的制備。

常規(guī)產(chǎn)品明細如下：

高純銻 Sb 5N-7N 晶體顆粒

高純鉍 Bi 5N 6N 顆粒 粉末

高純鎘 Cd 5N-7N 顆粒 錠 粉末 片狀

高純銅 Cu 5N 6N 顆粒

高純銦 In 5N-7N 顆粒 錠 粉末

高純磷 P 5N 6N 塊狀

高純鉛 Pb 5N-7N 顆粒 粉末

高純硒 Se 5N-6N 顆粒 錠 粉末

高純碲 Te 5N-7N 顆粒 粉末

高純硫 S 5N 6N 粉末 塊狀

高純錫 Sn 5N 6N 顆粒 錠

高純鋅 Zn 5N 6N 顆粒 錠 棒

公司愿景

中諾新材作為一家技術(shù)科技先導型企業(yè)，所有員工均受過專業(yè)技能培訓和職業(yè)素質(zhì)教育，專業(yè)技術(shù)人員的比例超過50%，研發(fā)和技術(shù)力量非常雄厚，為公司的長久發(fā)展奠定了堅實的良好基礎。

我們將不斷完善品質(zhì)體系，打造品牌價值，滿足客戶的需求，同客戶建立長久的伙伴關系，并致力于成為國內(nèi)的優(yōu)質(zhì)企業(yè)和國際上有影響力的薄膜材料生產(chǎn)商。

分析測試設備1

中諾新材分析測試設備——PDS-34000超聲波探傷檢測（C-Scan）                      

  PDS-34000超聲波探傷儀是利用超聲波能透入金屬材料深處的特性，從而對金屬材料內(nèi)部的缺陷進行檢測的方法，檢測中超聲波由一截面進入另一截面，在界面邊緣發(fā)生反射，當超聲波束自材料表面通至金屬內(nèi)部，遇到缺陷與材料底面時就分別發(fā)生反射波，在熒光屏上形成脈沖波形，根據(jù)這些脈沖波形來判斷缺陷的位置和大小。主要用于各種金屬及非金屬材料內(nèi)部夾雜、氣孔、裂紋等缺陷分析以及產(chǎn)品焊接后的焊接結(jié)合率檢測。具有靈敏度高，操作便捷、無損傷、精密度高等優(yōu)點。