西門子S7-300CPU315模塊

高壓固態(tài)軟起動主要由進(jìn)線接觸器、高壓可控硅串聯(lián)閥組和旁路接觸器組成，如圖2-1所示。其中高壓可控硅串聯(lián)閥組是功率變換執(zhí)行部件，由多只可控硅串并聯(lián)組成，并輔以收、均壓箝位電路，保證其在高壓環(huán)境中的可靠性。當(dāng)進(jìn)線端得電后，通過控制可控硅的導(dǎo)通角以實現(xiàn)對交流三相電源進(jìn)行斬波，控制輸出電壓的幅值。并在起動過程完成后將旁路接觸器閉合，軟起動器切換到旁路狀態(tài)，同時關(guān)閉可控硅。 一般專業(yè)高壓固態(tài)軟起動廠家設(shè)計基本上遵循將電量信號采集、系統(tǒng)控制、故障處理、脈沖觸發(fā)、電源等功能集成在一塊電路板上，例如2011市場上推出的一款高壓固態(tài)軟起動，該裝置采用先進(jìn)DSP控制技術(shù)、電力電子技術(shù)、可控硅串并聯(lián)及光纖觸發(fā)技術(shù)對電動機(jī)進(jìn)行控制和綜合保護(hù)，與其它傳統(tǒng)的起動方法相比較，其特有的智能控制方式，既可以方便準(zhǔn)確的設(shè)置起動轉(zhuǎn)矩、起動電流、起動時間、停機(jī)時間等參數(shù)，又可以與微機(jī)、PLC等進(jìn)行聯(lián)網(wǎng)控制。如此集成化的電路板設(shè)計及軟件控制編程需要進(jìn)行大量的科研投入以及研發(fā)周期的增長，其中電路板測試、軟件測試、整機(jī)測試、老化測試、抗干擾等測試也需要占用較長時間周期。研發(fā)周期過長勢必將導(dǎo)致新產(chǎn)品在市場的占有率，另外新產(chǎn)品的穩(wěn)定性及實用性也待市場的檢驗。

CPU元件：
即處理單元(CPU)是可編程邏輯控制器的控制中樞。主要有運算器，控制器，寄存器以及實現(xiàn)它們之間聯(lián)系的數(shù)據(jù)，控制及狀態(tài)總線構(gòu)成。它按照可編程邏輯控制器系統(tǒng)程序賦予的功能接收并存儲從編程器鍵入的用戶程序和數(shù)據(jù);檢查電源、存儲器、I/O以及戒定時器的狀態(tài)，并能用戶程序中的語法錯誤。當(dāng)可編程邏輯控制器投入運行時，先它以掃描的方式接收現(xiàn)場各輸入裝置的狀態(tài)和數(shù)據(jù)，并分別存入I/O映象區(qū)，然后從用戶程序存儲器中逐條讀取用戶程序，經(jīng)過命令解釋后按指令的規(guī)定執(zhí)行邏輯或算數(shù)運算的結(jié)果送入I/O映象區(qū)或數(shù)據(jù)寄存器內(nèi)。等所有的用戶程序執(zhí)行完畢之后，后將I/O映象區(qū)的各輸出狀態(tài)或輸出寄存器內(nèi)的數(shù)據(jù)傳送到相應(yīng)的輸出裝置，如此循環(huán)運行，直到停止運行。

觸摸屏畫面設(shè)計 觸摸屏畫面由ProTool等專用軟件進(jìn)行設(shè)計，然后先通過編程電腦調(diào)試，合格后再到觸摸屏。觸摸屏畫面總數(shù)應(yīng)在其存儲空間允許的范圍內(nèi)，各畫面之間盡量做到可相互及強(qiáng)制切換。 （1）主畫面的設(shè)計 一般的，可用歡迎畫面或被控系統(tǒng)的主系統(tǒng)畫面作為主畫面，該畫面可進(jìn)入到各分畫面。各分畫面均能一步返回主畫面。若是將被控主系統(tǒng)畫面作為主畫面，則應(yīng)在畫面中顯示被控系統(tǒng)的一些住要參數(shù)，以便在此畫面上對整個被控系統(tǒng)有大致的了結(jié)。 （2）控制畫面的設(shè)計 該種畫面主要用來控制被控設(shè)備的啟停及顯示變頻器內(nèi)部的參數(shù)，也可將變頻器參數(shù)的設(shè)定做在其中。該種畫面的數(shù)量在觸摸屏畫面中占的多，其具體畫面數(shù)量由實際被控設(shè)備決定。 （3）參數(shù)設(shè)置頁面的設(shè)計 該畫面主要是對變頻器的內(nèi)部參數(shù)進(jìn)行設(shè)定，同時還應(yīng)顯示參數(shù)設(shè)定完成的情況，實際制做時還應(yīng)考慮加密的問題。 （4）實時趨勢頁面的設(shè)計 該畫面住要是以曲線記錄的形式來顯示被控值、變頻器的主要工作參數(shù)（如輸出頻率）等的實時狀態(tài)。 （5）信息記錄頁面的設(shè)計 該畫面主要是記錄可能出現(xiàn)的設(shè)備損壞、過載、數(shù)值超范圍和系統(tǒng)急停等故障。另外該畫面還可記錄各設(shè)備啟停操作，作為憑證。 （6）節(jié)能畫面的設(shè)計 該畫面主要是記錄和顯示變頻器的累積用電數(shù)及實時節(jié)電狀態(tài)，以便向用戶展示變頻節(jié)能的好處，也可用來與其它的節(jié)電測量作比較。

為了進(jìn)一步提高可編程邏輯控制器的可靠性，對大型可編程邏輯控制器還采用雙CPU構(gòu)成冗余系統(tǒng)，或采用三CPU的表決式系統(tǒng)。這樣，即使某個CPU出現(xiàn)故障，整個系統(tǒng)仍能正常運行。
西門子PLC CPU芯片針腳多（200pin），主要有地址總線，數(shù)據(jù)總線，I/O引腳，及附屬檢測針腳與對應(yīng)的芯片進(jìn)行聯(lián)系，CPU壞，可導(dǎo)致PLC報（SF燈亮），也會導(dǎo)致PLC某些輸入輸出點不正常，通訊不上等故障現(xiàn)象。損壞原因主要有CPU供電電壓高（導(dǎo)致內(nèi)部短，某些針腳對地短路）CPU老化等，損壞后用手摸，有發(fā)燙的感覺。此種CPU針腳多，更換麻煩，并且市場不容易買到配件，可以用拆機(jī)件替換。
4. 模擬運行，工程。 1) 選中HIM項目，編譯并，點擊仿真按鈕。如圖所示，溢流閥設(shè)定控件中變?yōu)?.0，說明成功。不成功會顯示#。 2) 打開一個控變量表，把PLC至于在線狀態(tài)，改變溢流閥壓力設(shè)定值為30.0，在仿真頁面看此控件值也變?yōu)?0.0 3) 同樣的在仿真界面改變控件值為15.0 ，在控表里面檢查其值的變化。

2：PLC系統(tǒng)中的存儲器：
PLC系統(tǒng)中的存儲器主要用于存放系統(tǒng)程序、用戶程序和工作狀態(tài)數(shù)據(jù)。PLC的存儲器包括系統(tǒng)存儲器和用戶存儲器。
（1）ROM 即只讀存儲器，用于由PLC生產(chǎn)廠家編寫的系統(tǒng)程序，并固化在ROM內(nèi)，用戶不能更改，能夠完成PLC設(shè)計者規(guī)定的各項工作。實現(xiàn)指令解釋，報處理等，和PC機(jī)的BIOS差不多，系統(tǒng)程序質(zhì)量的好壞很大程度上決定了PLC的性能。
如果里面的數(shù)據(jù)丟失，或芯片損壞會引起不開機(jī)，報現(xiàn)象。在平時的維修當(dāng)中，ROM故障所占的比例也是很大的?？梢杂镁幊唐髦厮⒐碳绦颍ㄊ孪扔袀浞荩?，來解決此類問題。

4. 模擬運行，工程。 1) 選中HIM項目，編譯并，點擊仿真按鈕。如圖所示，溢流閥設(shè)定控件中變?yōu)?.0，說明成功。不成功會顯示#。 2) 打開一個控變量表，把PLC至于在線狀態(tài)，改變溢流閥壓力設(shè)定值為30.0，在仿真頁面看此控件值也變?yōu)?0.0 3) 同樣的在仿真界面改變控件值為15.0 ，在控表里面檢查其值的變化。
  （2）用戶存儲器
用戶存儲器包括用戶程序存儲器（程序區(qū)）和數(shù)據(jù)存儲器（數(shù)據(jù)區(qū)）兩部分。用戶程序存儲器用來存放用戶針對具體控制任務(wù)采用PLC編程語言編寫的各種用戶程序。用戶程序存儲器根據(jù)所選用的存儲器單元類型的不同（可以是RAM、EPROM或EEPROM存儲器），其內(nèi)容可以由用戶修改或增刪。用戶數(shù)據(jù)存儲器可以用來存放（記憶）用戶程序中所使用器件的ON/OFF狀態(tài)和數(shù)據(jù)等。用戶存儲器的大小關(guān)系到用戶程序容量的大小，是反映PLC性能的重要指標(biāo)之一。

高壓固態(tài)軟起動主要由進(jìn)線接觸器、高壓可控硅串聯(lián)閥組和旁路接觸器組成，如圖2-1所示。其中高壓可控硅串聯(lián)閥組是功率變換執(zhí)行部件，由多只可控硅串并聯(lián)組成，并輔以收、均壓箝位電路，保證其在高壓環(huán)境中的可靠性。當(dāng)進(jìn)線端得電后，通過控制可控硅的導(dǎo)通角以實現(xiàn)對交流三相電源進(jìn)行斬波，控制輸出電壓的幅值。并在起動過程完成后將旁路接觸器閉合，軟起動器切換到旁路狀態(tài)，同時關(guān)閉可控硅。 一般專業(yè)高壓固態(tài)軟起動廠家設(shè)計基本上遵循將電量信號采集、系統(tǒng)控制、故障處理、脈沖觸發(fā)、電源等功能集成在一塊電路板上，例如2011市場上推出的一款高壓固態(tài)軟起動，該裝置采用先進(jìn)DSP控制技術(shù)、電力電子技術(shù)、可控硅串并聯(lián)及光纖觸發(fā)技術(shù)對電動機(jī)進(jìn)行控制和綜合保護(hù)，與其它傳統(tǒng)的起動方法相比較，其特有的智能控制方式，既可以方便準(zhǔn)確的設(shè)置起動轉(zhuǎn)矩、起動電流、起動時間、停機(jī)時間等參數(shù)，又可以與微機(jī)、PLC等進(jìn)行聯(lián)網(wǎng)控制。如此集成化的電路板設(shè)計及軟件控制編程需要進(jìn)行大量的科研投入以及研發(fā)周期的增長，其中電路板測試、軟件測試、整機(jī)測試、老化測試、抗干擾等測試也需要占用較長時間周期。研發(fā)周期過長勢必將導(dǎo)致新產(chǎn)品在市場的占有率，另外新產(chǎn)品的穩(wěn)定性及實用性也待市場的檢驗。