壓敏電阻的檢測(cè)

壓敏電阻作為一種非常常見(jiàn)的電子元件，常常被用于精密電子儀器和消費(fèi)電子的電路設(shè)計(jì)中，對(duì)設(shè)備提供相應(yīng)保護(hù)。

 壓敏電阻的好壞檢測(cè)在進(jìn)行壓敏電阻器的選用時(shí)，工程師首先應(yīng)該做的是利用萬(wàn)用表來(lái)判斷這一電阻是否是完好的，以及能否被應(yīng)用于電路系統(tǒng)中。

 要進(jìn)行壓敏電阻的性能檢測(cè)其實(shí)非常簡(jiǎn)單，首先我們將萬(wàn)用表置于R×1kΩ或R×10kΩ檔，然后按照測(cè)電阻的步驟來(lái)測(cè)出壓敏電阻的阻值。

 此時(shí)，交換表筆后再測(cè)一次，并記錄下阻值。

 逐漸加大電源電壓，剛開(kāi)始時(shí)電流表無(wú)指示，當(dāng)電壓增加到某一數(shù)值后，電流表的指示顯著增加。

 這時(shí)電源電壓所示的數(shù)值應(yīng)是壓敏電阻的標(biāo)稱(chēng)電壓，否則說(shuō)明壓敏電阻性能欠佳。

壓敏電阻的優(yōu)點(diǎn)也是極為顯著

壓敏電阻是典型的鉗位型過(guò)壓器件，在實(shí)際過(guò)壓防護(hù)中，利用壓敏電阻的非線(xiàn)性特性。

 大電流時(shí)限制電壓(箝位電壓)較高，低電壓時(shí)漏電流較大，較易老化。

 壓敏電阻的缺點(diǎn)是易老化，大多數(shù)情況下P-N結(jié)過(guò)載時(shí)會(huì)造成短路且不可回轉(zhuǎn)至正常狀態(tài)。

 在電沖擊的反復(fù)多次作用下壓敏電阻內(nèi)的二極管元件被擊穿，電阻體的低阻線(xiàn)性化逐步加劇，壓敏電壓越來(lái)越低，漏電流越來(lái)越大。

 形成1kΩ左右的短路孔后，電源繼續(xù)推動(dòng)一個(gè)較大的電流灌入短路點(diǎn)，形成高熱而起火。

壓敏電阻及其分類(lèi)參數(shù)

目前市場(chǎng)上壓敏電阻主要分為普通插件壓敏電阻，雷壓敏電阻，和貼片壓敏電阻防普通插件壓敏電阻主要是用于線(xiàn)路過(guò)壓保護(hù)。

 貼片壓敏電阻主要用來(lái)作為低壓產(chǎn)品的過(guò)壓保護(hù)或者ESD防靜電，封裝形式從(0201~4032)使用在ESD靜電防護(hù)上貼片壓敏電阻。

 特別是信號(hào)線(xiàn)的ESD防護(hù)需要注意其寄生電容的大小，對(duì)于高頻信號(hào)選用防靜電壓敏電阻電容量應(yīng)盡量選小，壓敏電阻器與其他浪涌抑制器比較的優(yōu)勢(shì)

 與硅二極管只有一個(gè)P-N結(jié)承受浪涌電流不一樣，氧化鋅壓敏電阻是由數(shù)百萬(wàn)個(gè)P-N結(jié)組成，這種結(jié)構(gòu)有更好的能量吸收能力和浪涌承受能力。

 形成高熱而起火。研究結(jié)果表明，若壓敏電阻存在著制造缺陷，易發(fā)生早期失效，強(qiáng)度不大的電沖擊的反復(fù)多次作用，也會(huì)加速老化過(guò)程，使老化失效提早出現(xiàn)。

 壓敏電阻經(jīng)大脈沖電流沖擊后，其U/I特性會(huì)產(chǎn)生蛻變。蛻變的結(jié)果會(huì)使漏電流增大，壓敏電壓下降。