西安天光測(cè)控技術(shù)有限公司
店齡6年 · 企業(yè)認(rèn)證 · 陜西省西安市
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西安天光測(cè)控技術(shù)有限公司
主營(yíng)產(chǎn)品: 高溫反偏差測(cè)試系統(tǒng), 半導(dǎo)體器件測(cè)試篩選系
IGBT開(kāi)關(guān)參數(shù)測(cè)系統(tǒng)
價(jià)格
訂貨量(套)
¥199.00
≥1
店鋪主推品 熱銷潛力款
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西安天光測(cè)控技術(shù)有限公司
店齡6年 企業(yè)認(rèn)證
聯(lián)系人
張先生
聯(lián)系電話
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經(jīng)營(yíng)模式
生產(chǎn)廠家
所在地區(qū)
陜西省西安市
主營(yíng)產(chǎn)品
ST-AC1200_X
用于測(cè)試器件級(jí)的 Diode,IGBT,MOSFET動(dòng)態(tài)交流參數(shù)
1200V/100A,短路電流2500A
替代ITC57300,多項(xiàng)功能及指標(biāo)優(yōu)于ITC57300
? 技術(shù)規(guī)格
基礎(chǔ)能力 |
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物理規(guī)格 |
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ST-AC1200_S_R 開(kāi)關(guān)時(shí)間(阻性)測(cè)試單元 美軍標(biāo)750 方法為3472 |
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ST-AC1200_D 反向恢復(fù)特性測(cè)試單元 美軍標(biāo)750 方法3473 |
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ST-AC1200_Q 柵電荷測(cè)試單元 美軍標(biāo)750, 方法3471 |
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ST-AC1200_S_L 開(kāi)關(guān)時(shí)間(感性)測(cè)試單元 美軍標(biāo)750, 方法3477 |
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ST-AC1200_S 短路特性測(cè)試單元 美軍標(biāo)750, 方法3479 |
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ST-AC1200_RC 柵電阻結(jié)電容測(cè)試單元 JEDEC Std JESD24-11 |
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電網(wǎng)環(huán)境 |
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MOSFET動(dòng)態(tài)參數(shù)測(cè)試儀主要用于測(cè)試二極管、IGBT、MOS動(dòng)態(tài)特性參數(shù),產(chǎn)品功能指標(biāo)對(duì)標(biāo)ITC57300,對(duì)標(biāo)資料如下。
資料說(shuō)明:
- 對(duì)比內(nèi)容:半導(dǎo)體分立器件動(dòng)態(tài)參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)
- 對(duì)比廠商:美國(guó)ITC公司(下文簡(jiǎn)稱ITC)、西安天光測(cè)控技術(shù)有限公司(下文簡(jiǎn)稱西安天光)
- 對(duì)比型號(hào):ITC/ITC57300、西安天光/ST-AC1200_X
MOSFET動(dòng)態(tài)參數(shù)測(cè)試儀 以ITC57300作為參考標(biāo)準(zhǔn),西安天光的產(chǎn)品資料中“藍(lán)色字體”為西安天光的減分項(xiàng)(指標(biāo)低于ITC57300),“紅色字體”為西安天光的加分項(xiàng)(指標(biāo)高于ITC57300),“黑色字體”表示雙方指標(biāo)一致。
美國(guó)ITC公司 ITC57300 | 西安天光測(cè)控技術(shù)有限公司 ST-AC1200_X | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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其它測(cè)試功能(加分項(xiàng))
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產(chǎn)品系列
晶體管圖示儀
半導(dǎo)體分立器件測(cè)試篩選系統(tǒng)
靜態(tài)參數(shù)(包括 IGEs / VGE(th) / VCEsat / VF / ICEs / VCEs等)
動(dòng)態(tài)參數(shù)(包括 Turn_ON&OFF_L / Qrr_FRD / Qg / Rg / UIS / SC / RBSOA等)
環(huán)境老化(包括 HTRB / HTGB / H3TRB / Surge等)
熱特性(包括 PC / TC / Rth / Zth / Kcurve等)
可測(cè)試 Si / SiC / GaN 材料的 IGBTs / MOSFETs / DIODEs / BJTs / SCRs等功率器件