Nidek 晶片平坦度/翹曲度測量儀FT-17 Nidek高精密平面度檢測儀
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Nidek-晶片平坦度-翹曲度測量儀FT-17-Nidek高精密平面度檢測儀

價格

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東莞市準納光電科技有限公司

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商品參數(shù)
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商品介紹
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聯(lián)系方式
品牌 Nidek 晶片平坦度
型號 FT-17
光源 半導(dǎo)體激光(655nm、3mW)
樣本尺寸 直徑130mm以下 (平坦度測定100mm以下)
樣本厚度 2000um以下
樣本傾斜角度 垂直方向傾斜8度
設(shè)備生產(chǎn)產(chǎn)地 中國
設(shè)備所在地 東莞
商品介紹

Nidek 晶片平坦度/翹曲度測量儀FT-17和FT-900(Si/Ge/GaAs/InP/SiC/LT/LN)

 

Nidek高精密平面度檢測儀, 適用于透明晶體物體(如藍寶石晶片等)和LED外延晶片、芯片的檢測。

其應(yīng)用不僅局限于對藍寶石襯底單面/雙面的表面平坦檢測,而且更多地應(yīng)用于對外延之后,外延層表面品質(zhì)、TTV等的檢測和評估。

在電腦顯示屏上,它可自動生成三維立體的表面彩色效果圖,以幫助人們清楚細微地、直觀地了解和掌握對象物表面層生長的情況。

 

此外,它也適用于液晶電視屏幕面板所需要的大而平的圖形掩膜的檢測。

 


FT-17 Series

FT-900 Series

無解析

無顯示

帶解析

帶解析

(V2規(guī)格)

無解析

無顯示

帶解析

帶解析

(V2規(guī)格)

測定方法

光波干涉方式(斜入射)

光源

半導(dǎo)體激光(655nm、3mW)

He-Ne激光(632.3A、5mW)

樣本尺寸

直徑130mm以下

(平坦度測定100mm以下)

直徑200mm以下

樣本厚度

2000um以下(根據(jù)測量承載臺不同,最大可達10mm),其他厚度需客戶另行協(xié)商

樣本種類

Wafer(Si、化合物、酸化物、玻璃)、金屬片、硬盤(鋁、玻璃)等鏡面和非鏡面(反射率低的非鏡面不可測試)

樣本傾斜角度

垂直方向傾斜8度

垂直或垂直方向傾斜8度

干涉計設(shè)定敏感度

1、2、3、4、5u/紋理(下底面基準時只有1、2um/紋理,且厚度1mm以上時1um/紋理)

測定范圍

紋理敏感度30倍(根據(jù)紋理狀況以及測試鏡頭倍率關(guān)系,有時不能達到30倍)

攝影鏡頭倍率

3倍以上

顯示分解能


0.01um


0.01um

重復(fù)精度

Repeatability:1б


0.02S+0.02M(um)

條件:樣本設(shè)定后連續(xù)測試

S:紋理敏感度

M:測定值


0.02S+0.02M(um)

條件:樣本設(shè)定后連續(xù)測試

S:紋理敏感度

M:測定值

 

 

Nidek高精密平面度檢測儀, 適用于透明晶體物體(如藍寶石晶片等)和LED外延晶片、芯片的檢測。

其應(yīng)用不僅局限于對藍寶石襯底單面/雙面的表面平坦檢測,而且更多地應(yīng)用于對外延之后,外延層表面品質(zhì)、TTV等的檢測和評估。

在電腦顯示屏上,它可自動生成三維立體的表面彩色效果圖,以幫助人們清楚細微地、直觀地了解和掌握對象物表面層生長的情況。

 

該產(chǎn)品目前已在國內(nèi)大手廠商中廣泛采用,特別是在外延片的品質(zhì)檢測方面。頗受好評。

據(jù)不完全統(tǒng)計,至2012年底該產(chǎn)品已被國內(nèi)LED襯底和外延片80多家廠家所使用。

 


測試項目

吸附:GFLR、GF3D、GF3R、TV、GBIR、TAPER、TAng、SFLR、SFLD、SFQR、SF3R、SF3D、SBIR、SBID

非吸附:BOW、SORI、整體應(yīng)力、局部應(yīng)力

 

可測試晶片種類

切割片、研磨片、拋光片、外延片、磊晶片

可選配光刻區(qū)域模擬軟件、應(yīng)力分析軟件等

 

 
晶片平坦度測量項目

聯(lián)系方式
公司名稱 東莞市準納光電科技有限公司
聯(lián)系賣家 錢云蕾
手機 憩憭憭憦憧憩憪憭憨憪憧
地址 廣東省東莞市