直讀光譜儀二手金屬分析儀金屬光譜分析儀 德國斯派克
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直讀光譜儀二手金屬分析儀金屬光譜分析儀-德國斯派克

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品牌 德國斯派克
生產地 德國
型號 直讀光譜儀
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報價方式 按實際訂單報價為準
報價方式 按實際訂單報價為準
產品編號 6928056
商品介紹

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維護直讀光譜儀的要點

一、直讀光譜儀維護保養(yǎng)原則

光電直讀光譜儀是光和電結合的精密儀器,正確地使用和維護保養(yǎng)是機器正常運行,延長使用壽命,保持高性能和高指標的關鍵。一定要按照儀器說明書來全i面理解,從原理到實際操作、測試等整個過程。直讀光譜儀維護要做到三防一恒。即防震,防塵,防潮,儀器要保持恒溫。這個條件必須在設計試驗室需要考慮的。

二、直讀光譜儀激發(fā)光源的維護

光源的穩(wěn)定性與直讀光譜分析至關重要;光源內積塵太多和空氣溫度較大時容易造成漏電或放電。所以我們應該定期進行清掃,吸去塵土。

關于選擇直讀光譜儀的分析

CCD具有體積小、重量輕、測量范圍寬的優(yōu)點,每個CCD可以測量多條譜線。因此CCD光譜儀體積小重量輕,性價比較高。后期儀器增設也比較簡單。適合檢測產品種類多且成分復雜的客戶使用。但是由于CCD噪聲相對PMT要高,因此CCD光譜儀的檢出限比PMT機型相對要差一點,對于需要分析純金屬的客戶是不太適合的。DF400、DF500屬于CCD型機器。

PMT/CCD混合型的機器集PMT和CCD的優(yōu)點于一身,微量元素用PMT測量,常量及高含量元素用CCD測量,兼顧了PMT的低檢出限和CCD的多通道特性,性能和價格都比較理想。




廣州儀德精密科學儀器股份有限公司主營:火花直讀光譜儀,光譜機,金屬材料分析儀,金屬元素分析儀,金屬成分分析儀,進口直讀光譜儀,火花直讀光譜儀,光電直讀光譜儀等等

火花直讀光譜儀應用前景分析

利用火花直讀光譜儀進行非金屬元素/夾雜物的測定,目前還不是很理想,需要進一步研究。納克高宏斌先生、斯派克王彥彪先生、煙臺東方趙珍陽先生均認為目前火花直讀光譜儀測定氮尤其是高含量氮已經比較常規(guī),但測定氧、碳、氫元素還比較困難。裴雷先生認為:“要測定C,S,O,N,H等元素,不只對儀器有要求,還要求相關配套的標準樣品,檢測方法標準也要向前發(fā)展?!迸=騼x器的諸煒先生也表示:“根據研究顯示:利用火花直讀光譜儀進行酸溶鋁測定的結果與濕法分析結果之間時常出現偏差,所以進行夾雜物的分析還不是很成熟?!?

影響手持式光譜儀射線強度因素

手持式光譜儀的定量分析是以熒光X射線的強度為依據的,影響手持式光譜儀射線強度的因素會影響分析的準確度,以下是主要兩大影響因素

1、基體效應

基體效應包括吸收效應及增強i效應吸收效應包括基體對入射X射線的吸收及對熒光X射線的吸收。因為用射線激發(fā)樣品時,不只是作用于樣品表面而且能穿透一定的厚度進入樣品內部,而且樣品內部分析元素產生的熒光X射線,也必須穿過一定厚度的樣品才能射出。在穿透過程中,這兩種X射線都會因基體元素的吸收而使射線強度減弱,射線減弱會影響對分析元素的激發(fā)效率。

如果入射X射線使基體元素激發(fā)所產生的熒光X射線的波長稍短于分析元素的吸收邊,它會使分析元素產生二次熒光X射線,從而使分析元素的熒光X射線強度增強,這就是基體的增強i效應。

如果吸收效應占主導地位,則分析結果偏低,如果增強i效應占主導地位,則分析結果偏高。




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不均勻效應

不均勻效應是指樣品顆粒大小不均勻及樣品表面光潔度對熒光X射線強度的影響。對于粉末樣品,大顆粒吸收效應強,小顆粒吸收效應弱,因此,要求顆粒粒度盡量小一些,以減少對X射線的吸收。測短波X射線時,要求粒度在250目以上,測量波長大于0.2nm的長波x射線時,則粒度要求在400目以上。

固體塊狀試樣一定要磨平拋光,粉末試樣要壓實并使表面平滑。粗糙表面會使熒光X射線的強度明顯下降。測量短波X射線時,光潔度在1005m左右,測量長波X射線時,光潔度為20-50Mm.

直讀光譜儀的光學系統(tǒng)構造

羅蘭裝置,光柵中心和感光板中心固定在可動的連桿兩端,連桿的長度為光柵的曲率半徑,其兩端可沿互相垂直的導軌自由滑動,狹縫裝有導軌的交點上。在連桿移動過程中,狹縫、光柵和感光板始終在一羅蘭圓上。這種裝置的缺點為:只能用移動連桿來讀取不同波段的光譜。

帕邢裝置的羅蘭圓為一圓形鋼軌,狹縫和光柵都固定在鋼軌上,感光板環(huán)繞鋼軌安裝有一排底板架因而可同時拍攝幾組光譜,其優(yōu)點是穩(wěn)定性高。

依格爾裝置,其入射角等于衍射角,其中縫光源安裝在底板架的正上方,要改變波段可將光柵和底板沿相反的方向轉動同一角度,改變二者間的距離,使之始終位于羅蘭圓上。該裝置優(yōu)點為體積緊湊,通常用于真空紫外光譜儀。




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