深圳市泰立儀器儀表有限公司
主營產(chǎn)品: 金屬材料檢測, 復(fù)合材料檢測, 磁力測量, 電導(dǎo)率測量, 相控陣探傷, 汽車點(diǎn)焊探傷
德國EPK-涂層測厚儀-720F2-升級
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德國EPK一體式涂層測厚儀 720F2 升級版:725F2
簡介:
-創(chuàng)新的SIDSP(探頭內(nèi)部數(shù)字信號處理)技術(shù)提升了測量的性
-測量范圍達(dá)15mm,可更換F、N或FN探頭,供內(nèi)置或外接探頭使用
-FN探頭自動(dòng)識別F(鐵磁性)或N(非磁性)基體,操作方便不易出錯(cuò)
MINITEST700優(yōu)點(diǎn)一覽:
-SIDSP使測量不受干擾,測值更加
-可更換探頭使用更加靈活(MINITEST740探頭可由內(nèi)置換為外置)
-FN探頭自動(dòng)識別基體,使測量更迅速,避免操作錯(cuò)誤
-溫度補(bǔ)償功能避免溫度變化引起的錯(cuò)誤
推薦配件:
帶塑料手提箱,內(nèi)含: -F1.5/N0.7/FN1.5探頭用測量支架
標(biāo)準(zhǔn)配置:
-MINITEST
720/730/740主機(jī)(可選)
-SIDSP探頭(可選)
-校準(zhǔn)套裝含校準(zhǔn)片和零板
-操作使用說明CD,德語、英語、法語、西班牙語
-2節(jié)AA電池
SIDSP技術(shù)-新技術(shù),智能數(shù)字化的涂層測厚探頭
模擬信號處理時(shí)代已成過去,數(shù)字信號處理將成為未來的趨勢
什么是SIDSP?
SIDSP是由ElektrPhysik(簡稱EPK)研發(fā)的涂層測厚探頭技術(shù)。EPK此項(xiàng)技術(shù)為涂層測厚領(lǐng)域的創(chuàng)新奠定了新標(biāo)準(zhǔn)。
SIDSP即探頭內(nèi)部數(shù)字信號處理,這項(xiàng)技術(shù)使探頭在測量時(shí),同時(shí)在探頭內(nèi)部將信號完全處理為數(shù)字形式。SIDSP探頭完全依據(jù)技術(shù)生產(chǎn)。
SIDSP工作原理?
跟傳統(tǒng)技術(shù)不同,SIDSP在探頭頂部產(chǎn)生和控制激發(fā)信號,回傳的信號經(jīng)過32位數(shù)字轉(zhuǎn)換和處理,帶給您的涂層厚度值。此項(xiàng)尖端的數(shù)字處理技術(shù),同時(shí)應(yīng)用在現(xiàn)代通訊技術(shù)(手機(jī)網(wǎng)絡(luò))方面,如數(shù)字濾波器,基帶轉(zhuǎn)換,平均值,隨機(jī)分析,等等。此項(xiàng)技術(shù)能獲得與模擬信號處理無可比擬的信號質(zhì)量和度。厚度值通過探頭電纜數(shù)字化傳輸?shù)斤@示裝置。
SIDSP探頭與普通模擬探頭相比,具有決定性的優(yōu)勢,為涂層測厚設(shè)定了一個(gè)新的標(biāo)準(zhǔn)。
為什么選擇SIDSP?
SIDSP探頭具有極高的抗干擾性任何與測量相關(guān)的信號,都由SIDSP在靠近探頭頂部的位置進(jìn)行處理。測量信號不會(huì)通過探頭電纜傳輸時(shí)受到干擾,因?yàn)椴辉儆袦y量信號的傳輸。探頭電纜僅僅為探頭供電,并傳輸數(shù)字化的厚度值到顯示裝置。即使您的測量工件需要特別長的電纜線也沒問題,加長的電纜線同樣具有極強(qiáng)的抗干擾能力。
SIDSP-測量信號高穩(wěn)定性
EPK的SIDSP探頭具有極高的重現(xiàn)性。將探頭放在同一測量點(diǎn)測量幾次,每次您都可以得到基本一樣的結(jié)果,再次證明了SIDSP探頭的性能。
高度的SIDSP探頭特征曲線
在生產(chǎn)過程中,EPK的SIDSP探頭要經(jīng)過嚴(yán)格的校準(zhǔn)。一般的模擬探頭只會(huì)在特征曲線上選幾個(gè)點(diǎn)來校準(zhǔn),但SIDSP探頭不同:由于是全自動(dòng)化過程,探頭在50個(gè)點(diǎn)上進(jìn)行校準(zhǔn),大大降低了特征曲線的偏離。因此特征曲線在整個(gè)量程范圍內(nèi)都十分,將測量錯(cuò)誤降至。
SIDSP探頭對溫度變化不敏感
在生產(chǎn)過程中,對每個(gè)SIDSP探頭都進(jìn)行了溫度補(bǔ)償?shù)木幋a,這對于模擬探頭是根本不可能實(shí)現(xiàn)的。這樣溫度改變就不會(huì)影響測量,與溫度相關(guān)的錯(cuò)誤不會(huì)在SIDSP探頭上發(fā)生!
SIDSP探頭適應(yīng)性強(qiáng)
需要快速測量幾個(gè)點(diǎn)嗎?只要開啟快速測量模式,探頭自動(dòng)轉(zhuǎn)換到特定設(shè)置。想進(jìn)行高精度測量嗎?沒問題,只要選擇高精度模式,儀器同樣能自動(dòng)轉(zhuǎn)換。不論您要求測量單個(gè)數(shù)值還是連續(xù)測量,SIDSP都能完成您的選擇!
SIDSP N和FN型探頭基體導(dǎo)電性補(bǔ)償
由于使用了EPK特殊的自動(dòng)補(bǔ)償方法,SIDSP電渦流探頭可以適應(yīng)多種導(dǎo)電性不同的非鐵基體材料,如銅,鈦,等等,無需特別在基體上校準(zhǔn)儀器。
SIDSP-未來解決方案
EPK將繼續(xù)改進(jìn)SIDSP技術(shù)以滿足客戶的需求。您可以從EPK的網(wǎng)站進(jìn)行免費(fèi)的軟件升級,使您的SIDSP探頭總是版本。
MINITEST700系列及SIDSP
新的MINITEST
700產(chǎn)品線,加強(qiáng)了EPK在全球涂層測厚市場的領(lǐng)導(dǎo)地位.
有了新的SIDSP
F型探頭(測量鐵基體)和N型探頭(測量非鐵基體),您可享受到高度和高重現(xiàn)性帶給您的優(yōu)勢和便利。新的MINITEST
700可以解決您所有涂層厚度問題,而產(chǎn)品優(yōu)質(zhì)的外觀是您長期價(jià)值和成功的關(guān)鍵,比如汽車、造船、鋼鐵、橋梁建筑,或電鍍等行業(yè)。
增加了測量速度設(shè)置選項(xiàng)MINITEST700可以讓您輕松變換測量需求。在對精度要求不高的條件下,您可以短時(shí)間測量大量數(shù)值;也可以只測量少數(shù)幾個(gè)數(shù)值,但要求精度很高,您只需選擇相應(yīng)的模式就可以做到。測量值超過您所設(shè)定的極限值時(shí),儀器會(huì)報(bào)警,您即使在快速模式下也不會(huì)錯(cuò)過任何信息。儀器具備聲、光報(bào)警,在極限范圍內(nèi)用綠色LED燈表示,超過極限值則用紅色LED燈提示。
使用簡單方便
MINITEST700按照人體工學(xué)設(shè)計(jì),外形很適合人手掌握。為了質(zhì)量控制和檢驗(yàn)的靈活性,MINITEST740可以輕易由內(nèi)置探頭變換為外置探頭,方便測量難以到達(dá)的部位。MINITEST700系列可以滿足您所有涂層測量需求:如果您想單手測量,可以選擇內(nèi)置探頭的720。730則是外置探頭的。所有型號都配有一個(gè)超大、背光的顯示屏,顯示內(nèi)容可以180度旋轉(zhuǎn),方便您讀取數(shù)據(jù)。預(yù)設(shè)選項(xiàng)節(jié)省您的時(shí)間和金錢
所有MINITEST700探頭都可以對不規(guī)則形狀表面做出補(bǔ)償。當(dāng)您在無涂層基體上校零時(shí),整個(gè)量程范圍都在這個(gè)特定的形狀和材料基礎(chǔ)上進(jìn)行校準(zhǔn)。為節(jié)省您的時(shí)間和金錢,儀器預(yù)設(shè)了大量校準(zhǔn)方法,適用于各種表面情況和精度要求。您可選擇出廠校準(zhǔn),零點(diǎn)校準(zhǔn),2點(diǎn)校準(zhǔn)和3點(diǎn)校準(zhǔn)。另外,還有針對不同粗糙程度的粗糙度校準(zhǔn)。FN探頭自動(dòng)識別基體類型避免操作者犯錯(cuò)。為適應(yīng)全球銷售需要,MINITEST700滿足各種國際標(biāo)準(zhǔn):SSPC-PA2,ISO,瑞典(SS184160),澳大利亞(AS 3894.3),ISO 19840和ASTMD7091(以前的D1186和D1400)。
德國EPK一體式涂層測厚儀 探頭
探頭 特性 | F1.5,N0.7,F(xiàn)N1.5 | F2 | F5,N2.5,F(xiàn)N5 | F15 | ||
F | N | F | F | N | F | |
測量范圍 | 0-1.5mm | 0-0.7mm | 0-2mm | 0-5mm | 0-2.5mm | 0-15mm |
使用范圍 | 小工件,薄涂層,跟測量支架一起使用 | 粗糙表面 | 標(biāo)準(zhǔn)探頭,使用廣泛 | 厚涂層 | ||
測量原理 | 磁感應(yīng) | 電渦流 | 磁感應(yīng) | 磁感應(yīng) | 電渦流 | 磁感應(yīng) |
信號處理 | 探頭內(nèi)部32位信號處理(SIDSP) | |||||
度 | ±(1μm+0.75%讀值) | ±(1.5μm+0.75%讀值) | ±(5μm+0.75%讀值) | |||
重復(fù)性 | ±(0.5μm+0.5%讀值) | ±(0.8μm+0.5%讀值) | ±(2.5μm+0.5%讀值) | |||
低端分辨率 | 0.05μm | 0.1μm | 1μm | |||
曲率半徑(凸) | 1.0mm | 1.5mm | 5mm | |||
曲率半徑(凹,外置探頭) | 7.5mm | 10mm | 25mm | |||
曲率半徑(凹,內(nèi)置探頭) | 30mm | 30mm | 30mm | |||
測量面積 | Φ5mm | Φ10mm | Φ25mm | |||
基體厚度 | 0.3mm | 40μm | 0.5mm | 0.5mm | 40μm | 1mm |
連續(xù)模式下測量速度 | 每秒20個(gè)讀數(shù) | |||||
單值模式下測量速度 | 每分鐘70個(gè)讀數(shù) |