X熒光光譜儀測(cè)試方法：

1、X熒光光譜儀樣品制備

進(jìn)行x射線熒光光譜分析的樣品，可以是固態(tài)，也可以是水溶液。無(wú)論什么樣品，樣品制備的情況對(duì)測(cè)定誤差影響很大。對(duì)金屬樣品要注意成份偏析產(chǎn)生的誤籌；化學(xué)組成相同，熱處理過(guò)程不同的樣品，得到的計(jì)數(shù)率也不同；成份不均勻的金屬試樣要重熔，快速冷卻后車(chē)成圓片；對(duì)表面不平的樣品要打磨拋光；對(duì)于粉末樣品，要研磨至300目一400目，然后壓成圓片，也可以放人樣品槽中測(cè)定。對(duì)于固體樣品如果不能得到均勻平整的表面，則可以把試樣用酸溶解，再沉淀成鹽類進(jìn)行測(cè)定。對(duì)于液態(tài)樣品可以滴在濾紙上，用紅外燈蒸干水份后測(cè)定，也可以密封在樣品槽中?？傊鶞y(cè)樣品不能含有水、油和揮發(fā)性成份，更不能含有腐蝕性溶劑。

低成本

理學(xué)的Supermini200不僅是XRF元素分析需要的一個(gè)經(jīng)濟(jì)實(shí)惠的選擇，運(yùn)行成本也很低。只有氣流正比探測(cè)器的P10氣體為消耗物。Supermini200不需要冷卻水、管道或外部冷卻裝置。因此降低了系統(tǒng)維修和產(chǎn)品生命周期成本，以及耗材和維修的年度預(yù)算。

超級(jí)輕元素性能

分析從微量到高濃度的具有廣泛范圍的輕元素和重元素的復(fù)雜基體材料，是儀器的核心技術(shù)。理學(xué)的Supermini200為了解決復(fù)雜基體中的線重疊，無(wú)需反卷積，提供輕元素高靈敏度和卓越的光譜分辨率。輕元素（F、Na、Mg、Ca、Si、Al和P）的低濃度水平分析簡(jiǎn)單。

SQX基本參數(shù)軟件和EZ掃描軟件

EZ掃描允許用戶在沒(méi)有事先設(shè)定任何條件的情況下分析未知樣品。此節(jié)省時(shí)間的功能僅要求單擊幾次鼠標(biāo)和輸入樣品名稱。結(jié)合SQX基本參數(shù)軟件，可以提供準(zhǔn)確、快速的XRF的結(jié)果。SQX可以自動(dòng)修復(fù)包括重疊的全部矩陣效果。SQX還可以通過(guò)光電子（輕元素和超輕元素）、變化的氣體環(huán)境、雜質(zhì)和不同的樣品尺寸，校正二次激發(fā)的效應(yīng)。使用匹配庫(kù)和的掃描分析程序提高了準(zhǔn)確性。