廣州儀德精密科學(xué)儀器股份有限公司
店齡6年 · 企業(yè)認(rèn)證 · 廣東省廣州市
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廣州儀德精密科學(xué)儀器股份有限公司
主營(yíng)產(chǎn)品: 電腦產(chǎn)品制造設(shè)備
X射線熒光光譜儀WDXRF-日本理學(xué)-WDXRF
價(jià)格
訂貨量(件)
¥1500000.00
≥1
店鋪主推品 熱銷潛力款
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廣州儀德精密科學(xué)儀器股份有限公司
店齡6年 企業(yè)認(rèn)證
聯(lián)系人
丘先生
聯(lián)系電話
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經(jīng)營(yíng)模式
生產(chǎn)加工
所在地區(qū)
廣東省廣州市
主營(yíng)產(chǎn)品
我國(guó)學(xué)者對(duì)不同時(shí)期WDXRF的進(jìn)展曾予以評(píng)述。WDXRF譜儀從儀器光路結(jié)構(gòu)來(lái)看,依然是建立在布拉格定律基礎(chǔ)之上,但儀器面目全新??v觀30年來(lái)的發(fā)展軌跡,可總結(jié)出如下特點(diǎn) 。
檢測(cè)技術(shù)的改進(jìn)提高了檢測(cè)速度。探測(cè)器技術(shù)及用于脈沖信號(hào)處理的電子學(xué)線路的迅速發(fā)展,在允許的死時(shí)間情況下,探測(cè)器接收光子的數(shù)量提高了1個(gè)數(shù)量級(jí)以上,如流氣正比計(jì)數(shù)管由100 kcps提高到 2500 kcps,在保證同樣分析精度情況下,元素的測(cè)定時(shí)間縮短了近10倍。如在20世紀(jì)80年代使用順序式 WDXRF譜儀測(cè)定硅酸鹽中10個(gè)常規(guī)元素需要約30 min,現(xiàn)在僅需3 min 左右。為了將計(jì)數(shù)率控制在探測(cè)器所允許的計(jì)數(shù)線性范圍內(nèi),譜儀在測(cè)定同一元素的不同含量時(shí)可依據(jù)計(jì)數(shù)率自動(dòng)調(diào)節(jié)管電流,確保在條件下測(cè)量,在時(shí)間內(nèi)獲得分析工作者預(yù)定的分析結(jié)果準(zhǔn)確度。采用新的計(jì)數(shù)線路和多道分析器(MCA) 取代原有脈沖高度分析器,不僅可有效地扣除高次線干擾和晶體熒光干擾,且可同時(shí)處理不同幅度的脈沖信號(hào),記錄脈沖信號(hào)較原來(lái)快了100倍。
專業(yè)化的儀器和應(yīng)用軟件發(fā)展迅速。各個(gè)廠家依據(jù)用戶的需要開發(fā)出多種軟件包,如分析多層膜分析軟件、地質(zhì)樣品中的痕量元素測(cè)定軟件、氧化物分析軟件、油品中雜質(zhì)分析軟件、高溫合金和有色金屬分析軟件等,這些軟件提供經(jīng)過(guò)優(yōu)化的分析方法,并配有適當(dāng)?shù)臉?biāo)準(zhǔn)樣品。在絕大多數(shù)情況下可保證獲得準(zhǔn)確的分析結(jié)果。
廣州儀德精密科學(xué)儀器股份有限公司(原廣州市儀德科學(xué)儀器有限公司)創(chuàng)立于2005年,十三年來(lái)堅(jiān)持服務(wù)于國(guó)內(nèi)實(shí)驗(yàn)分析領(lǐng)域,專注于各類儀器的研究制造與營(yíng)銷服務(wù),是一家專門為客戶打造一站式、全鏈條和“交鑰匙”實(shí)驗(yàn)室而組建的高新技術(shù)企業(yè)。
產(chǎn)品資源豐富,種類齊全,涵蓋實(shí)驗(yàn)室通用儀器、化學(xué)分析、表面科學(xué)等,如全譜直讀光譜儀、波長(zhǎng)\能量色散型X射線熒光光譜儀、電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀、輝光放電光譜儀、紫外可見分光光譜儀、分子熒光光譜儀、原子吸收光譜儀、掃描電鏡、原子力顯微鏡、金相顯微鏡、氧氮?dú)浞治鰞x、碳硫分析儀等。、
開發(fā)了X射線熒光光譜法快速測(cè)定硫化銅礦中主量元素的分析方法,實(shí)驗(yàn)采用玻璃熔融法制備硫化銅礦樣品,在600℃下預(yù)氧化20min,使低價(jià)態(tài)的硫轉(zhuǎn)變?yōu)榱蛩猁},不僅避免了鉑金坩堝被腐蝕,而且可以更好的測(cè)定以Cu和S為主的主量元素的含量。該方法為X射線熒光分析法在硫化礦樣品分析領(lǐng)域的拓展提供了一套可借鑒的分析程序,有一定的實(shí)際應(yīng)用價(jià)值。隨著分析技術(shù)由整體分析向微區(qū)分析發(fā)展,地學(xué)研究由宏觀表征向微觀信息獲取的發(fā)展,巖礦的分析研究已經(jīng)由宏觀深入到更微觀的領(lǐng)域。目前實(shí)驗(yàn)室常規(guī)使用的微區(qū)分析技術(shù)包括電子探針、激光燒蝕等離子體質(zhì)譜和各類電子顯微鏡等。微區(qū)X射線熒光光譜分析(Micro-XRF)技術(shù)作為一種基于普通X射線熒光的無(wú)損分析技術(shù),是X射線光譜學(xué)領(lǐng)域的重要分支,可實(shí)現(xiàn)微米級(jí)微小區(qū)域內(nèi)樣品中多元素定性或定量分析,成為獲取樣品微區(qū)結(jié)構(gòu)元素空間線掃描、面掃描分布及時(shí)序性信息的有力工具。使用了臺(tái)式能量色散X射線熒光儀,對(duì)氧化物組合標(biāo)樣和礦物光片點(diǎn)掃描,對(duì)31個(gè)礦物光片和涂有防曬霜的指紋樣品進(jìn)行面掃描,5個(gè)金屬薄膜片點(diǎn)掃描。