不同元素的熒光x射線具有各自的特定波長或能量，因此根據(jù)熒光x射線的波長或能量可以確定元素的組成。如果是波長色散型光譜儀，對于一定晶面間距的晶體，由檢測器轉(zhuǎn)動的2e角可以求出x射線的波長入，從而確定元素成份。對于能量色散型光譜儀，可以由通道來判別能量，從而確定是何種元素及成份。但是如果元素含量過低或存在元素間的譜線干擾時，仍需人工鑒別。首先識別出管靶材的特征x射線和強(qiáng)峰的伴隨線，然后根據(jù)能量標(biāo)注剩余譜線。在分析未知譜線時，要同時考慮到樣品的來源、性質(zhì)等元素，以便綜合判斷。

3、X熒光光譜儀定量分析

X射線熒光光譜法進(jìn)行定量分析的根據(jù)是元素的熒光X射線強(qiáng)度Ii與試樣中該元素的含量Ci成正比:Ii=Is×Ci式中Is為Ci=100%時，該元素的熒光X射線的強(qiáng)度。根據(jù)上式，可以采用標(biāo)準(zhǔn)曲線法、增量法、內(nèi)標(biāo)法等進(jìn)行定量分析。但是這些方法都要使標(biāo)準(zhǔn)樣品的組成與試樣的組成盡可能相同或相似，否則試樣的基體效應(yīng)是指樣品的基本化學(xué)組成和物理化學(xué)狀態(tài)的變化對X射線熒光強(qiáng)度所造成的影響?；瘜W(xué)組成的變化，會影響樣品對一次X射線和X射線熒光的吸收，也會改變熒光增應(yīng)。例如，在測定不銹鋼中Fe和Ni等元素時，由于一次X射線的激發(fā)會產(chǎn)生Nika熒光X射線，Nika在樣品中可能被Fe吸收，使Fe激發(fā)產(chǎn)生Feka。測定Ni時，因為Fe的吸收效應(yīng)使結(jié)果偏低，測定Fe時，由于熒光增應(yīng)使結(jié)果偏高。

低成本

理學(xué)的Supermini200不僅是XRF元素分析需要的一個經(jīng)濟(jì)實惠的選擇，運(yùn)行成本也很低。只有氣流正比探測器的P10氣體為消耗物。Supermini200不需要冷卻水、管道或外部冷卻裝置。因此降低了系統(tǒng)維修和產(chǎn)品生命周期成本，以及耗材和維修的年度預(yù)算。

超級輕元素性能

分析從微量到高濃度的具有廣泛范圍的輕元素和重元素的復(fù)雜基體材料，是儀器的核心技術(shù)。理學(xué)的Supermini200為了解決復(fù)雜基體中的線重疊，無需反卷積，提供輕元素高靈敏度和卓越的光譜分辨率。輕元素（F、Na、Mg、Ca、Si、Al和P）的低濃度水平分析簡單。

日本理學(xué)同時型波長色散X射線熒光光譜儀，從輕元素到重元素的大容許功率、高精度元素分析！

Simultix 15

Simutix14是人氣的多道同時型波長色散X射線熒光（WDXRF）光譜儀?；?0多年積累的經(jīng)驗，Simultix14可用的全自動系統(tǒng)以滿足當(dāng)下分析需要的高靈敏度、高通量和多功能性。

產(chǎn)品資源豐富，種類齊全，涵蓋實驗室通用儀器、化學(xué)分析、表面科學(xué)等，如全譜直讀光譜儀、波長\能量色散型X射線熒光光譜儀、電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀、輝光放電光譜儀、紫外可見分光光譜儀、分子熒光光譜儀、原子吸收光譜儀、掃描電鏡、原子力顯微鏡、金相顯微鏡、氧氮氫分析儀、碳硫分析儀等。