德律測試儀TR5001E特點(diǎn)，少量測點(diǎn)之解決方案與PXI模組功能測試擴(kuò)充。

ICT測試儀數(shù)字測試，支援快閃記憶體及EEPROM及MAC的在線燒錄。

ICT測試儀可編程DUT電源: 25V@8AICT測試儀邊界掃描, BGA Tree測試能力

TR5001E測試儀整合MDA和可選擇性的ICT及Functional測試功能于同一平臺,可以精簡人力，縮短測試時間并提高產(chǎn)能。