該方法為X射線熒光分析法在硫化礦樣品分析領(lǐng)域的拓展提供了一套可借鑒的分析程序,有一定的實(shí)際應(yīng)用價(jià)值。隨著分析技術(shù)由整體分析向微區(qū)分析發(fā)展,地學(xué)研究由宏觀表征向微觀信息獲取的發(fā)展,巖礦的分析研究已經(jīng)由宏觀深入到更微觀的領(lǐng)域。目前實(shí)驗(yàn)室常規(guī)使用的微區(qū)分析技術(shù)包括電子探針、激光燒蝕等離子體質(zhì)譜和各類電子顯微鏡等。微區(qū)X射線熒光光譜分析(Micro-XRF)技術(shù)作為一種基于普通X射線熒光的無損分析技術(shù),是X射線光譜學(xué)領(lǐng)域的重要分支,可實(shí)現(xiàn)微米級(jí)微小區(qū)域內(nèi)樣品中多元素定性或定量分析,成為獲取樣品微區(qū)結(jié)構(gòu)元素空間線掃描、面掃描分布及時(shí)序性信息的有力工具。使用了臺(tái)式能量色散X射線熒光儀,對(duì)氧化物組合標(biāo)樣和礦物光片點(diǎn)掃描,對(duì)31個(gè)礦物光片和涂有防曬霜的指紋樣品進(jìn)行面掃描,5個(gè)金屬薄膜片點(diǎn)掃描。

日本理學(xué)波長色散X射線熒光光譜儀，快速定量元素分析的高性能WDXRF！

上照射式波長色散X射線熒光光譜儀

ZSX Primus III+

理學(xué)ZSX Primus III+提供主要和次要原子元素的快速定量測(cè)定，從氧（O）到鈾（U）的標(biāo)準(zhǔn)的廣泛樣品類型。

高度可靠性的上照射式光學(xué)系統(tǒng)

ZSX Primus III+具有場(chǎng)新的上照射式光學(xué)配置。用戶再也不用擔(dān)心由于維護(hù)樣品室導(dǎo)致的路徑污染或停止時(shí)間。上照射式幾何結(jié)構(gòu)消除了清掃的擔(dān)心并增加了時(shí)間。

日本理學(xué)同時(shí)型波長色散X射線熒光光譜儀，從輕元素到重元素的大容許功率、高精度元素分析！

Simultix14可以進(jìn)行Be～U的元素分析，是至今占地面積的光譜儀，是用戶注重安裝面積時(shí)的選擇。通過它完善的硬件和多任務(wù)處理軟件，Simultix14提供了的元素分析工具，以滿足所有工業(yè)領(lǐng)域的應(yīng)用需要。

Features

廣泛的元素分析范圍Be～U

3kW（或者4kW選購）60kV端窗的X射線管

多達(dá)40個(gè)固定道

固定道的背景校正

對(duì)數(shù)螺線晶體和優(yōu)化的光學(xué)路徑

設(shè)計(jì)小巧

可在線進(jìn)行過程控制

8或48位樣品自動(dòng)轉(zhuǎn)換器

多窗口、多功能基本參數(shù)（FP）軟件

廣州儀德精密科學(xué)儀器股份有限公司（原廣州市儀德科學(xué)儀器有限公司）創(chuàng)立于2005年，十三年來堅(jiān)持服務(wù)于國內(nèi)實(shí)驗(yàn)分析領(lǐng)域，專注于各類儀器的研究制造與營銷服務(wù)，是一家專門為客戶打造一站式、全鏈條和“交鑰匙”實(shí)驗(yàn)室而組建的高新技術(shù)企業(yè)。