XRF熒光光譜儀是可以對任何種類的樣品進行元素分析的分析技術，無論分析的樣品是液體、固體、漿料還是粉末。 它是一種可靠的技術，結合了高精度和準確性以及簡便、快速的樣品制備等優(yōu)點?？梢栽谝髮崿F(xiàn)高處理量的工業(yè)環(huán)境下自動完成使用準備，并且提供定性和定量的樣品相關信息。

XRF熒光譜儀系統(tǒng)通常分為兩大類：波長色散型(WDXRF) 和能量色散型(EDXRF)。

廣州儀德精密科學儀器股份有限公司（原廣州市儀德科學儀器有限公司）創(chuàng)立于2005年，十三年來堅持服務于國內(nèi)實驗分析領域，專注于各類儀器的研究制造與營銷服務，是一家專門為客戶打造一站式、全鏈條和“交鑰匙”實驗室而組建的高新技術企業(yè)。

 產(chǎn)品資源豐富，種類齊全，涵蓋實驗室通用儀器、化學分析、表面科學等，如全譜直讀光譜儀、波長\能量色散型X射線熒光光譜儀、電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀、輝光放電光譜儀、紫外可見分光光譜儀、分子熒光光譜儀、原子吸收光譜儀、掃描電鏡、原子力顯微鏡、金相顯微鏡、氧氮氫分析儀、碳硫分析儀等。

 在儀德人的深耕細作下，客戶遍及汽車制造、鋼鐵冶金、有色金屬、電子電器、能源電力、石油化工、鐵路運輸、機械制造、商檢、質(zhì)檢、環(huán)境保護、食品藥品和教學科研等各行各業(yè)。

當樣品與聚焦點距離變化在-20μm～20 μm時,激發(fā)出的Fe、Cu、Zn、S的強度值。X射線熒光光譜分析測定金屬膜層的厚度,其測量值與實際值偏差不大。該儀器還可以獲取清晰的以不同材料為基底的指紋圖像,在玻璃基底上獲取的指紋紋理更清晰。微區(qū)X射線熒光光譜無損分析可得到類似切割板的多元素分布圖,是分析元素分布規(guī)律的一種較快的方法,能快速測出金屬膜層的厚度,高效率提取指紋。通過蘭坪盆地鉛鋅銅多金屬成礦區(qū)帶典型礦山地區(qū)1:50000地質(zhì)調(diào)查,采集云龍縣的山坡、林地、草地等的土壤樣品400多件,用波長色散-能量色散復合型X射線熒光光譜儀測量土壤重金屬含量。得到土壤中重金屬元素的平均值、中位值等,發(fā)現(xiàn)Zn和Pb元素含量的值點在同一位置點,在河庫旁干涸處草地。

波長色散X射線熒光光譜儀，快速定量元素分析的高性能WDXRF。

波長色散X射線熒光光譜儀

ZSX Primus

理學公司的ZSX Primus提供從Be到U主、次元素快速定量分析，廣泛的樣品種類，很少的標樣要求。

強度高、靈活性大且元素分析可靠

ZSX Primus是理學公司ZSX系列中的儀器。繼續(xù)通過及時和無縫的方式提供準確的結果，具有的可靠性、靈活性和易用性。滿足當今實驗室中的任何挑戰(zhàn)。

低原子序數(shù)性能、Mapping分析和多點分析

對分析復雜樣品提供卓越的性能和靈活性，ZSX Primus中具有一個30μm的X射線管（工業(yè)中薄端窗的X射線管），用于特殊輕元素（低原子序數(shù)）檢出限。結合了的Mapping分析包來檢測均質(zhì)性和夾雜物，ZSX Primus簡單地提供了其他分析方法無法提供的詳細樣品分析。可用多點分析幫助消除非均質(zhì)材料的抽樣誤差。