丞普諾儀器（蘇州）有限公司主營產(chǎn)品有：視頻接觸角測定儀、張力儀、水滴角檢測儀、表、界面儀器的設(shè)計(jì)與開發(fā)、模具保護(hù)監(jiān)視器、視覺類等檢測儀器的定制與開發(fā)。

鍍層厚度測量已成為加工工業(yè)、表面工程質(zhì)量檢測的重要環(huán)節(jié)，是產(chǎn)品達(dá)到優(yōu)等質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的必要手段。為使產(chǎn)品國際化，我國出口商品和涉外項(xiàng)目中，對鍍層厚度有了明確要求。

X射線膜厚儀采用高度定位激光，可自動定位測試高度，定位激光確定定位光斑，確保測試點(diǎn)與光斑對齊。鼠標(biāo)可控制平臺，鼠標(biāo)點(diǎn)擊的位置就是被測點(diǎn)。高分辨率探頭使分析結(jié)果更加。良好的射線屏蔽作用，測試口高度敏感性傳感器保護(hù)。

隨著技術(shù)的日益進(jìn)步，特別是近年來引入微機(jī)技術(shù)后，采用X射線鍍層測厚儀 向微型、智能、多能、高精度、實(shí)用化的方向進(jìn)了一步。測量的分辨率已達(dá)0.1微米，精度可達(dá)到1%，有了大幅度的提高。它適用范圍廣，量程寬、操作簡便且價(jià)廉，是工業(yè)和科研使用廣泛的測厚儀器。

X射線和β射線法是無接觸無損測量，測量范圍較小，X射線法可測極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號大于3的鍍層測量。電容法僅在薄導(dǎo)電體的絕緣覆層測厚時(shí)采用。

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