日本理學(xué) X射線熒光光譜儀WDXRF熒光 X熒光光譜儀WDXRF熒光
日本理學(xué) X射線熒光光譜儀WDXRF熒光 X熒光光譜儀WDXRF熒光
日本理學(xué) X射線熒光光譜儀WDXRF熒光 X熒光光譜儀WDXRF熒光
日本理學(xué) X射線熒光光譜儀WDXRF熒光 X熒光光譜儀WDXRF熒光
日本理學(xué) X射線熒光光譜儀WDXRF熒光 X熒光光譜儀WDXRF熒光
日本理學(xué) X射線熒光光譜儀WDXRF熒光 X熒光光譜儀WDXRF熒光

日本理學(xué)-X射線熒光光譜儀WDXRF熒光-X熒光光譜儀WDXRF熒光

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生產(chǎn)加工

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商品參數(shù)
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商品介紹
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產(chǎn)地 日本
是否進(jìn)口 進(jìn)口
品牌 理學(xué)
產(chǎn)品名 波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀
產(chǎn)品編號(hào) 7409058
商品介紹

廣州儀德精密科學(xué)儀器股份有限公司(原廣州市儀德科學(xué)儀器有限公司)創(chuàng)立于2005年,十三年來(lái)堅(jiān)持服務(wù)于國(guó)內(nèi)實(shí)驗(yàn)分析領(lǐng)域,專注于各類儀器的研究制造與營(yíng)銷服務(wù),是一家專門為客戶打造一站式、全鏈條和“交鑰匙”實(shí)驗(yàn)室而組建的高新技術(shù)企業(yè)。

 產(chǎn)品資源豐富,種類齊全,涵蓋實(shí)驗(yàn)室通用儀器、化學(xué)分析、表面科學(xué)等,如全譜直讀光譜儀、波長(zhǎng)\能量色散型X射線熒光光譜儀、電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀、輝光放電光譜儀、紫外可見分光光譜儀、分子熒光光譜儀、原子吸收光譜儀、掃描電鏡、原子力顯微鏡、金相顯微鏡、氧氮?dú)浞治鰞x、碳硫分析儀等。

EDXRF 光譜儀的特點(diǎn):

儀器結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單小巧,省略了精密運(yùn)動(dòng)裝置

沒有分光晶體

X射線管功率低(一般<50W)

無(wú)需昂貴的高壓發(fā)生器和冷卻系統(tǒng)(空氣冷卻即可)

可同時(shí)執(zhí)行元素分析

優(yōu)點(diǎn)在于X射線利用率高,可同時(shí)檢測(cè)多元素,價(jià)格低;

缺點(diǎn)是靈敏度低、分辨率低、檢出限高(相對(duì)于WDXRF).

WDXRF一般由光源(X-射線管)、樣品室、分光晶體和檢測(cè)系統(tǒng)等組成。它可以分析從鈹

(Be) 到鈾

(U) 的各種元素, 濃度范圍從100 % 到低至亞 ppm

級(jí)。




原子光譜和離子光譜的波長(zhǎng)與特定元素是一一對(duì)應(yīng)的,而且光譜信號(hào)強(qiáng)度與對(duì)應(yīng)元素的含量具有一定的定量關(guān)系。因此該技術(shù)可以實(shí)時(shí)、快速地現(xiàn)化學(xué)元素的定性和定量分析。

激光誘導(dǎo)擊穿光譜可以真正做到現(xiàn)場(chǎng)快速分析,無(wú)須進(jìn)行樣品預(yù)處理,分析方便,也不受研究對(duì)象的限制。但是,其測(cè)量?jī)x器成本較高,激光脈沖能量的起伏性,樣品的不均勻性,樣品的特性會(huì)直接影響測(cè)量的穩(wěn)定性,也就是說(shuō)研究樣品的特性對(duì)結(jié)果的性影響較大。







日本理學(xué)波長(zhǎng)色散X射線熒光硫(S)分析儀,根據(jù)ASTM D2622-10測(cè)量石油燃料中超低硫(ULS)

波長(zhǎng)色散X射線熒光硫(S)分析儀

Micro-Z ULS

為石油、以及其他燃料的超低硫分析設(shè)計(jì)的理學(xué)Micro-Z ULS波長(zhǎng)色散X射線熒光儀(WDXRF),擁有一個(gè)新的特征,可以同時(shí)測(cè)定硫的峰強(qiáng)和背景強(qiáng)度。測(cè)定并校正背景強(qiáng)度變化的能力使獲得一個(gè)更好的凈峰強(qiáng)度測(cè)定,從而獲得優(yōu)越的校正以及提高精度。理學(xué)Micro-Z ULS 遵照ASTM 2622-10、ISO 20884和JIS K2541-7方法。





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