尼通合金光譜儀代理商 尼通 尼通合金光譜儀公司 尼通合金光譜儀
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商品參數(shù)
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商品介紹
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聯(lián)系方式
重復(fù)性 0.1%
行業(yè)專用類型 通用
是否進(jìn)口
品牌 尼通
報(bào)價(jià)方式 按實(shí)際訂單報(bào)價(jià)為準(zhǔn)
分析含量范圍 1ppm-99.99% 元素
分析范圍 Mg 到 U
儀器種類 持/便攜式能量色散型X熒光光譜、XRF
產(chǎn)品編號(hào) 12790926
商品介紹
朗鐸科技(北京)有限公司主營:手持光譜儀,激光誘導(dǎo)擊穿光譜儀(LIBS),直讀光譜儀




手持式光譜儀

手持式光譜儀是一種基于XRF光譜分析技術(shù)的光譜分析儀器,主要由探測器、CPU以及存儲(chǔ)器組成,由于其便攜具有、便攜、準(zhǔn)確等特點(diǎn),使其在合金、礦石、環(huán)境、消費(fèi)品等領(lǐng)域有著重要的應(yīng)用。

手持式光譜儀要求具有高的分辨率和信噪比、更好的強(qiáng)度準(zhǔn)確性和波長準(zhǔn)確性以及強(qiáng)的抗外界干擾性和優(yōu)良的儀器穩(wěn)定性,在儀器的軟件上,要求能夠進(jìn)行導(dǎo)數(shù)、去卷積等復(fù)雜的數(shù)學(xué)計(jì)算,能夠計(jì)算光譜間相似度、模式識(shí)別分析、支持多元校正分析和用戶自建譜庫并進(jìn)行檢索。

手持式光譜儀是一種基于XRF光譜分析技術(shù)的光譜分析儀器,當(dāng)能量高于原子內(nèi)層電子結(jié)合能的高能X射線與原子發(fā)生碰撞時(shí),驅(qū)逐一個(gè)內(nèi)層電子從而出現(xiàn)一個(gè)空穴,使整個(gè)原子體系處于不穩(wěn)定的狀態(tài),當(dāng)較外層的電子躍遷到空穴時(shí),產(chǎn)生一次光電子,擊出的光子可能再次被吸收而逐出較外層的另一個(gè)次級(jí)光電子,發(fā)生俄歇效應(yīng),亦稱次級(jí)光電效應(yīng)或無輻射效應(yīng)。所逐出的次級(jí)光電子稱為俄歇電子。當(dāng)較外層的電子躍入內(nèi)層空穴所釋放的能量不被原子內(nèi)吸收,而是以光子形式放出,便產(chǎn)生X射線熒光,其能量等于兩能級(jí)之間的能量差。因此,射線熒光的能量或波長是特征性的,與元素有一一對(duì)應(yīng)的關(guān)系。由Moseley定律可知,只要測出熒光X射線的波長,就可以知道元素的種類,這就是熒光X射線定性分析的基礎(chǔ)。此外,熒光X射線的強(qiáng)度與相應(yīng)元素的含量有一定的關(guān)系,據(jù)此,可以進(jìn)行元素定量分析。X射線探測器將樣品元素的X射線的特征譜線的光信號(hào)轉(zhuǎn)換成易于測量的電信號(hào)來得到待測元素的特征信息。

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淺談手持式光譜儀操作注意事項(xiàng)

1.手持式光譜儀如果有粘性膠狀物需要清理時(shí),盡量用紗布蘸取少量酒精沿著小孔周圍輕輕擦拭。記住,千萬不要把任何物體插入檢測器內(nèi),這樣可能會(huì)損壞檢測器,使手持式光譜儀受到重大的損失。

2.如果手持式光譜儀的表面有臟物或塵土?xí)r,要先用壓縮空氣的方法吹走,再用一小塊濕紗布進(jìn)行徹底的清理,千萬不要用粗糙的布來解決,以免使手持式光譜儀受到損傷。

3.手持式光譜儀的觸摸屏采用敏感電子器件構(gòu)成,要定期使用柔軟、不掉毛的超細(xì)纖維布料進(jìn)行清潔,不要使用清潔劑或液體清潔用品進(jìn)行清潔,因?yàn)檫@樣可能會(huì)使手持式光譜儀屏幕被劃傷。

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光譜儀處理的不確定度


光譜儀數(shù)據(jù)處理過程中

在這里,數(shù)據(jù)處理過程是指從測量的譜線強(qiáng)度計(jì)算樣品中元素濃度的過程,包括根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)樣品建立校正和根據(jù)校正計(jì)算未知樣的濃度。在采用線性回歸方法校正的過程中,校正模型的選用、基體校正方法、譜線重疊的校正方法、標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性至分析濃度的范圍等都對(duì)分析結(jié)果的準(zhǔn)確度產(chǎn)生影響。要對(duì)這些因素進(jìn)行逐一分析是比較困難的,但對(duì)于一些比較簡單的體系,還是能作比較的計(jì)算。Rashmi等就對(duì)用散射法測定輕基體中Fe時(shí)的不度進(jìn)行了較的分析。

光譜儀標(biāo)準(zhǔn)

前面對(duì)X射線熒譜儀分析中的度來源進(jìn)行了介紹,下面介紹幾個(gè)主要過程的標(biāo)準(zhǔn)度估計(jì)方法。測量結(jié)果的標(biāo)準(zhǔn)度實(shí)際上是由多個(gè)度分量合成的。X射線熒譜分析中度的來源分別從以下幾個(gè)方面考慮,即取樣(ul)、樣品制備(u2)、強(qiáng)度測量(u3)和回歸分析(u4,包括校正模型、校正系數(shù)的選擇和標(biāo)準(zhǔn)樣品標(biāo)準(zhǔn)值的準(zhǔn)確性)。在實(shí)際分析中,其中的一個(gè)或幾個(gè)可能是對(duì)分析結(jié)果的合成標(biāo)準(zhǔn)度起決定作用的分量,那么就應(yīng)采取措施盡量減小其度。此處的標(biāo)準(zhǔn)度均采用相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)度,以免量綱。如不說明,標(biāo)準(zhǔn)度均指相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)度,實(shí)驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)偏差也指相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差。


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