布魯克PI85L電鏡專用原位納米力學(xué)測(cè)試系統(tǒng)
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品牌 布魯克
性能1 通過探針可以獲得材料微區(qū)的硬度、彈性模量、摩擦系數(shù)、磨損率、斷裂剛度、失效、蠕變、粘附力（結(jié)合力）等力學(xué)數(shù)據(jù)
性能2 用來表征材料多項(xiàng)納米力學(xué)性能，包括硬度、彈性模量、摩擦系數(shù)、磨損率、破裂韌性、失效、蠕變、粘附力（結(jié)合力）等力學(xué)數(shù)據(jù)
性能3 在薄膜、陶瓷、復(fù)合物、聚合物、微機(jī)電系統(tǒng)、生物和金屬等領(lǐng)域都有廣泛應(yīng)用
性能4 系統(tǒng)設(shè)計(jì)實(shí)時(shí)控制測(cè)試過程中所有的環(huán)境變量
性能5 靈活的內(nèi)置模塊構(gòu)成一套完整的測(cè)試系統(tǒng)
性能6 獨(dú)特的動(dòng)態(tài)加載： （獨(dú)特的閉環(huán)的伺服加載）恒力加載模式、線性增量加載模式，通過軟件實(shí)現(xiàn)對(duì)樣品的任意動(dòng)態(tài)加載模式。這種動(dòng)態(tài)加載方式在高低溫控制條件下同樣適用
性能7 精度，重復(fù)性和低背景噪音等優(yōu)點(diǎn)
性能8 通過納米級(jí)位成像，可實(shí)現(xiàn)壓痕、劃痕和磨損過程的納米尺度原位可視化表征
商品介紹

長(zhǎng)沙艾克賽普儀器設(shè)備有限公司是一家專注于儀器工控設(shè)備、測(cè)試方案系統(tǒng)集成的高新技術(shù)科技企業(yè)。作為專業(yè)的儀器設(shè)備及測(cè)控集成ATE提供商，多年來堅(jiān)持自主研發(fā)創(chuàng)新，結(jié)合引進(jìn)代理各大知名品牌的優(yōu)質(zhì)儀器設(shè)備，致力于提供更科學(xué)智能的軟硬件測(cè)試方案，廣泛應(yīng)用于科研行業(yè)、生命科學(xué)、醫(yī)學(xué)、化學(xué)、化工、材料、環(huán)境、地質(zhì)、能源、、刑事和其他相關(guān)領(lǐng)域。如有需求請(qǐng)致電我們，我們將為你提供的測(cè)試方案。

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該系統(tǒng)通過接口將材料的力學(xué)數(shù)據(jù)（載荷-位移曲線）與相應(yīng)SEM之間實(shí)現(xiàn)時(shí)間同步，允許研究者在整個(gè)測(cè)試過程中極其地壓頭并對(duì)變形過程成像。解決了傳統(tǒng)納米壓痕方法，只能通過光學(xué)顯微鏡或原位掃描成像觀察壓痕前后的形貌變化，因無法監(jiān)測(cè)中間過程，而最終對(duì)載荷-位移曲線上的一些突變無法給出解釋甚至錯(cuò)誤解釋的問題。

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公司名稱 長(zhǎng)沙艾克賽普儀器設(shè)備有限公司
聯(lián)系賣家 龔經(jīng)理 （QQ：3010745177）
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地址 湖南省長(zhǎng)沙市
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