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三維形貌測量儀對于樣品表面特性研究案例

材料科學的目標是研究材料表面結(jié)構(gòu)對于其表面特性的影響。因此，高分辨率分析表面形貌對確定表面粗糙度、反光特性、摩擦學性能及表面質(zhì)量等相關參數(shù)具有重要意義。

符合國際標準的NanoFocus測量系統(tǒng)適用于各種不同材料的測量需求，滿足滿足規(guī)格要求并使工藝流程優(yōu)化，這意味著在縮短開發(fā)時間的同時降低成本。

適用于各種材料的非接觸式三維表面分析NanoFocus測量系統(tǒng)能夠快速、有效地對幾乎所有材料——從金屬、玻璃、陶瓷、半導體、聚合物到有機材料——進行三維表面分析。共焦技術能夠測量各種表面反射特性的材料并獲得有效的測量數(shù)據(jù)。采用NanoFocus技術的μsurf、μscan和μsprint能夠在生產(chǎn)和加工的不同階段對敏感表面進行無損測量，透明涂層表面和層厚也可以同時測量。

無需樣品制備即可在幾秒鐘內(nèi)獲取真正的3D數(shù)據(jù)，進而對表面進行定性和定量的評估。NanoFocus為測量數(shù)據(jù)的分析提供了強大的綜合軟件解決方案以便確定相關參數(shù)。

三維表面形貌儀的特性：     1、采用白光軸向色像差技術，可獲得納米級的分辨率     2、測量具有非破壞性，測量速度快，度高     3、測量范圍廣，可測透明、金屬材料，半透明、高漫反射，低反射率、拋光、粗糙材料(金屬、玻璃、木頭、合成材料、光學材料、塑料、涂層、涂料、漆、紙、皮膚、頭發(fā)、牙齒…)；     4、尤其適合測量高坡度高曲折度的材料表面     5、不受樣品反射率的影響     6、不受環(huán)境光的影響     7、測量簡單，樣品無需特殊處理     8、Z方向測量范圍為27mm