力之鋒專注于SMT周邊電子設(shè)備的研發(fā)、生產(chǎn)與銷售，自主品牌商標有力鋒LTCL、力之鋒LEADFREE與PBFREE。
現(xiàn)主要經(jīng)營3D AOI，3D SPI，X-RAY，全自動印刷機二手貼片機，代理YAMAHA 、 i-PULSE等SMT周邊設(shè)備的銷售和租賃。
AOI自動光學檢測儀（ALD510）
AOI自動光學檢測儀（AOI-AutomatedOpticalInspection）是應(yīng)用于表面貼裝（SMT-SurfaceMountedTechnology）生產(chǎn)流水線上的一種自動光學檢查裝置，可有效的檢測印刷質(zhì)量、貼裝質(zhì)量以及焊點質(zhì)量。通過使用AOI自動光學檢測儀作為減少缺陷的工具,在裝配工藝過程的早期查找和消除錯誤,以實現(xiàn)良好的過程控制。早期發(fā)現(xiàn)缺陷將避免將不良品送到后工序的裝配階段,AOI自動光學檢測儀將減少修理成本將避免報廢不可修理的電路板.
ALD510應(yīng)用用范疇：
SMT爐后檢測、紅膠溢膠檢測、AI波峰焊后檢測、鉚釘裝配檢測、鍵盤字符檢測、色環(huán)電阻檢測

AOI自動光學檢測儀ALD510設(shè)備技術(shù)參數(shù)
檢測的電路板：回流爐后、DIP波峰焊后、點膠后、鍵盤字符等
檢測方法：統(tǒng)計建模，全彩像比對，根據(jù)不同檢測點自動設(shè)定其參數(shù)（如偏移、極性、短路等）
檢測覆蓋類型：錫膏印刷：有無、偏移、少錫、多錫、斷路、連錫、污染等
零件缺陷：缺件、偏移、歪斜、立碑、側(cè)立、翻件、錯件，OCV、破損、反向等
焊點缺陷：錫多、錫少、虛焊、連錫、銅箔污染等
分辨率/視覺范圍/速度：（standard）20μm/PixelFOV:32.56×24.72檢測速度＜210ms/FOV（標配）（option）25μm/PixelFOV:40.7×30.9檢測速度＜230ms/FOV（選配）
小零件測試：20μm：0201chip&0.3pitchIC
PCB尺寸范圍：50×50(Min)～430×330(Max)

AOI檢測目的是覆蓋檢測上述各類缺陷，也就是說生產(chǎn)過程中出現(xiàn)的所有缺陷都可以被檢測出來。與此同時，必須將各種缺陷誤報降到低，以大化設(shè)備產(chǎn)出率。
當AOI系統(tǒng)進行焊點和元器件的檢測時，有些外部客觀因素，也就是與AOI無關(guān)的因素，也不得不要考慮進來，因為它們會有利于或妨礙上述檢測目標的實現(xiàn)。
其中影響大的因素就是焊盤設(shè)計。如果不同單板及同類封裝能使用統(tǒng)一的焊盤設(shè)計，那就有助于AOI檢測，因為這樣焊點外觀的一致性就好。好焊點的外觀越一致，焊點缺陷被檢測出來的可能性就越大，誤報率就會越少。如果焊盤過小，會導(dǎo)致焊點的潤濕面不可見，是不利于檢測的。另外一個重要的影響因素是元器件質(zhì)量，主要體現(xiàn)在待焊部位的可焊性和元器件的尺寸穩(wěn)定性要好。好的可焊性會使焊點更好、更一致。好的尺寸穩(wěn)定性，如QFP引腳長度尺寸的穩(wěn)定性，會使編程更容易。
其它影響因素包括印制電路板和阻焊膜的顏色、印制電路板變形塌陷量等。由于不可能改變所有外部客觀條件，所以AOI系統(tǒng)必須在設(shè)計上（傳感器、軟件及系統(tǒng)設(shè)置）充分考慮，具備彌補各種影響因素的能力。

AOI測試及環(huán)境要求
         AOI主要針對產(chǎn)品的顏色、外觀、尺寸、瑕疵等項目進行檢測分析。而目前我們公司使用的AOI可以對大于0.2范圍的產(chǎn)品外觀進行檢測。
         AOI在實際運用中，對測試環(huán)境的搭建，相機、鏡頭及光源的選取要求比較嚴格及。針對不同的產(chǎn)品，顏色不同，大小不同，測試環(huán)境及選擇的檢測設(shè)備也不一同。其中測試環(huán)境中的光源尤為重要，如果產(chǎn)品測試面有反光現(xiàn)象，直接會影響到測試結(jié)果精準度。