X熒光光譜儀如何建立面向應(yīng)用的標(biāo)樣

如何建立面向應(yīng)用的標(biāo)準(zhǔn)樣品呢？可以從以下幾步實(shí)施：

1、先將用戶(hù)要檢測(cè)的樣品材料進(jìn)行分類(lèi)，將不同材質(zhì)的樣品分成不同類(lèi)別。

2、同類(lèi)別的材料再按其基材和主要組份分類(lèi)。

3、同基材的材料按照其主要組份進(jìn)行分類(lèi)。

4、確認(rèn)材料的組份差別控制在可容許范圍內(nèi)，并確認(rèn)其中應(yīng)無(wú)影響譜線(xiàn)的不確定特征干擾元素出現(xiàn)，或者按照供應(yīng)商進(jìn)行分類(lèi)。

5、在1-4步基礎(chǔ)上(用戶(hù)可根據(jù)自己需要的可操作性選擇進(jìn)行到那一步)后細(xì)分的類(lèi)別，使用ICP_OES和GC_MS等儀器對(duì)其中的主要組份、相關(guān)組分和待測(cè)組分進(jìn)行定量分析。并根據(jù)待測(cè)組分的含量情況可以人為添加一定量的待測(cè)元素，為了保證添加的元素的狀態(tài)穩(wěn)定，應(yīng)盡量添加其穩(wěn)態(tài)化合物。以此建立給分類(lèi)材料的標(biāo)準(zhǔn)樣品，并使用該標(biāo)準(zhǔn)樣品在X射線(xiàn)熒光光譜儀上建立標(biāo)準(zhǔn)曲線(xiàn)。

6、根據(jù)用戶(hù)需要，不斷擴(kuò)充標(biāo)準(zhǔn)樣品種類(lèi)，并對(duì)應(yīng)材料使用者進(jìn)行對(duì)應(yīng)的物料編號(hào)或使用用戶(hù)編號(hào)，使操作員能準(zhǔn)確使用對(duì)應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)曲線(xiàn)進(jìn)行該類(lèi)材料的檢測(cè)。

不同元素的熒光x射線(xiàn)具有各自的特定波長(zhǎng)或能量，因此根據(jù)熒光x射線(xiàn)的波長(zhǎng)或能量可以確定元素的組成。如果是波長(zhǎng)色散型光譜儀，對(duì)于一定晶面間距的晶體，由檢測(cè)器轉(zhuǎn)動(dòng)的2e角可以求出x射線(xiàn)的波長(zhǎng)入，從而確定元素成份。對(duì)于能量色散型光譜儀，可以由通道來(lái)判別能量，從而確定是何種元素及成份。但是如果元素含量過(guò)低或存在元素間的譜線(xiàn)干擾時(shí)，仍需人工鑒別。首先識(shí)別出管靶材的特征x射線(xiàn)和強(qiáng)峰的伴隨線(xiàn)，然后根據(jù)能量標(biāo)注剩余譜線(xiàn)。在分析未知譜線(xiàn)時(shí)，要同時(shí)考慮到樣品的來(lái)源、性質(zhì)等元素，以便綜合判斷。

3、X熒光光譜儀定量分析

X射線(xiàn)熒光光譜法進(jìn)行定量分析的根據(jù)是元素的熒光X射線(xiàn)強(qiáng)度Ii與試樣中該元素的含量Ci成正比:Ii=Is×Ci式中Is為Ci=100%時(shí)，該元素的熒光X射線(xiàn)的強(qiáng)度。根據(jù)上式，可以采用標(biāo)準(zhǔn)曲線(xiàn)法、增量法、內(nèi)標(biāo)法等進(jìn)行定量分析。但是這些方法都要使標(biāo)準(zhǔn)樣品的組成與試樣的組成盡可能相同或相似，否則試樣的基體效應(yīng)是指樣品的基本化學(xué)組成和物理化學(xué)狀態(tài)的變化對(duì)X射線(xiàn)熒光強(qiáng)度所造成的影響。化學(xué)組成的變化，會(huì)影響樣品對(duì)一次X射線(xiàn)和X射線(xiàn)熒光的吸收，也會(huì)改變熒光增應(yīng)。例如，在測(cè)定不銹鋼中Fe和Ni等元素時(shí)，由于一次X射線(xiàn)的激發(fā)會(huì)產(chǎn)生Nika熒光X射線(xiàn)，Nika在樣品中可能被Fe吸收，使Fe激發(fā)產(chǎn)生Feka。測(cè)定Ni時(shí)，因?yàn)镕e的吸收效應(yīng)使結(jié)果偏低，測(cè)定Fe時(shí)，由于熒光增應(yīng)使結(jié)果偏高。

廣州儀德精密科學(xué)儀器股份有限公司（原廣州市儀德科學(xué)儀器有限公司）創(chuàng)立于2005年，十三年來(lái)堅(jiān)持服務(wù)于國(guó)內(nèi)實(shí)驗(yàn)分析領(lǐng)域，專(zhuān)注于各類(lèi)儀器的研究制造與營(yíng)銷(xiāo)服務(wù)，是一家專(zhuān)門(mén)為客戶(hù)打造一站式、全鏈條和“交鑰匙”實(shí)驗(yàn)室而組建的高新技術(shù)企業(yè)。

 產(chǎn)品資源豐富，種類(lèi)齊全，涵蓋實(shí)驗(yàn)室通用儀器、化學(xué)分析、表面科學(xué)等，如全譜直讀光譜儀、波長(zhǎng)\能量色散型X射線(xiàn)熒光光譜儀、電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀、輝光放電光譜儀、紫外可見(jiàn)分光光譜儀、分子熒光光譜儀、原子吸收光譜儀、掃描電鏡、原子力顯微鏡、金相顯微鏡、氧氮?dú)浞治鰞x、碳硫分析儀等。

Features

石油和的超低硫分析

0.3 ppm檢測(cè)低限（LLD）

無(wú)需He(g)凈化

簡(jiǎn)易使用臺(tái)式分析儀

遵照ASTM D2622-10

遵照ISO 20884

遵照J(rèn)IS K2541-7

擁有一個(gè)新的特征，可以同時(shí)測(cè)定硫的峰強(qiáng)和背景強(qiáng)度。測(cè)定并校正背景強(qiáng)度變化的能力使獲得一個(gè)更好的凈峰強(qiáng)度測(cè)定，從而獲得優(yōu)越的校正以及提高精度。理學(xué)Micro-Z ULS 遵照ASTM 2622-10、ISO 20884和JIS K2541-7方法。

理學(xué)ZSX Primus III+提供主要和次要原子元素的快速定量測(cè)定，從氧（O）到鈾（U）的標(biāo)準(zhǔn)的廣泛樣品類(lèi)型。

高度可靠性的上照射式光學(xué)系統(tǒng)

ZSX Primus III+具有場(chǎng)新的上照射式光學(xué)配置。用戶(hù)再也不用擔(dān)心由于維護(hù)樣品室導(dǎo)致的路徑污染或停止時(shí)間。上照射式幾何結(jié)構(gòu)消除了清掃的擔(dān)心并增加了時(shí)間。