丞普諾儀器（蘇州）有限公司一家從事精密檢測儀器設備的銷售，培訓，維修維護，并提供配套應用分析及實驗室建構方案的一家專屬公司。

膜厚儀分類

定性定量分析:可定性分析20多種金屬元素,并可定量分析成分含量.

光譜對比功能:可將樣品的光譜和標準件的光譜進行對比,可確定樣品與標準件的差別,從而控制來料的純度.

統(tǒng)計功能:能夠將測量結果進行系統(tǒng)分析統(tǒng)計,方便有效的控制品質.

膜厚儀是一種比較精密的監(jiān)測設備，它在平時的使用中對于精準度的要求很高，但是還是會有誤差的現(xiàn)象發(fā)生，除了儀器本身的一些故障以外，環(huán)境因素也是造成誤差的“元兇”，本文就介紹一下膜厚儀在不同環(huán)境下影響因素的有關說明：

1、基體金屬磁性質

磁性法測厚受基體金屬磁性變化的影響(在實際應用中，低碳鋼磁性的變化可以認為是輕微的)，為了避免熱處理和冷加工因素的影響，應使用與試件基體金屬具有相同性質的標準片對儀器進行校準;亦可用待涂覆試件進行校準。

2、基體金屬電性質

基體金屬的電導率對測量有影響，而基體金屬的電導率與其材料成分及熱處理方法有關。使用與試件基體金屬具有相同性質的標準片對儀器進行校準。

3、基體金屬厚度

每一種儀器都有一個基體金屬的臨界厚度。大于這個厚度，測量就不受基體金屬厚度的影響。

4、邊緣效應

本儀器對試件表面形狀的陡變敏感。因此在靠近試件邊緣或內轉角處進行測量是不可靠的。

5、曲率

試件的曲率對測量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地。因此，在彎曲試件的表面上測量是不可靠的。

6、試件的變形

測量頭會使軟覆蓋層試件變形，因此在這些試件上測出可靠的數(shù)據。

7、表面粗糙度

基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度對測量有影響。粗糙程度，影響。粗糙表面會引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差，每次測量時，在不同位置上應增加測量的次數(shù)，以克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙，還必須在未涂覆的粗糙度相類似的基體金屬試件上取幾個位置校對儀器的零點;或用對基體金屬沒有腐蝕的溶液溶解除去覆蓋層后，再校對儀器的零點。

8、磁場

周圍各種電氣設備所產生的強磁場，會嚴重地干擾磁性法測厚工作。

9、附著物質

本儀器對那些妨礙測量頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質敏感，因此，必須清除附著物質，以保證儀器測量頭和被測試件表面直接接觸。

10、測量頭壓力

測量頭置于試件上所施加的壓力大小會影響測量的讀數(shù)，因此，要保持壓力恒定。

11、測量頭的取向

測量頭的放置方式對測量有影響。在測量中，應當使測量頭與試樣表面保持垂直。

膜厚儀的應用行業(yè)分布在電鍍、噴涂；管道防腐；鋁型材；鋼結構；印刷線路版、及絲網印刷等。

電鍍、噴涂：這個行業(yè)是使用我們儀器多的，占每年銷量相當大的比例，是我們主要用戶群體，需要精力去不斷挖掘。

膜厚儀磁感應測量原理：

膜厚儀采用磁感應原理時，利用從測頭經過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來測定覆層厚度。也可以測定與之對應的磁阻的大小，來表示其覆層厚度。覆層越厚，則磁阻越大，磁通越小。利用磁感應原理的測厚儀，原則上可以有導磁基體上的非導磁覆層厚度。一般要求基材導磁率在500以上。如果覆層材料也有磁性，則要求與基材的導磁率之差足夠大（如鋼上鍍鎳）。當軟芯上繞著線圈的測頭放在被測樣本上時，儀器自動輸出測試電流或測試。早期的產品采用指針式表頭，測量感應電動勢的大小，儀器將該放大后來指示覆層厚度。一些電路設計引入穩(wěn)頻、鎖相、溫度補償?shù)鹊匦录夹g，利用磁阻來調制測量。還采用專利設計的集成電路，引入微機，使測量精度和重現(xiàn)性有了大幅度的提高（幾乎達一個數(shù)量級）?，F(xiàn)代的磁感應測厚儀，分辨率達到0.1um，允許誤差達1%，量程達10。

丞普諾儀器（蘇州）有限公司以誠信、實力和質量獲得業(yè)界的高度認可，堅持以客戶為核心，“質量到位、服務”的經營理念為廣大客戶提供的服務。