熒光光譜儀 日本理學(xué) 熒光光譜儀熒光
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熒光光譜儀 日本理學(xué) 熒光光譜儀熒光

熒光光譜儀-日本理學(xué)-熒光光譜儀熒光

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品牌 理學(xué)
是否進(jìn)口 進(jìn)口
報價方式 按實(shí)際訂單報價為準(zhǔn)
產(chǎn)品名 波長色散X射線熒光光譜儀
產(chǎn)品編號 7544248
商品介紹

SQX基本參數(shù)軟件和EZ掃描軟件

EZ掃描允許用戶在沒有事先設(shè)定任何條件的情況下分析未知樣品。此節(jié)省時間的功能僅要求單擊幾次鼠標(biāo)和輸入樣品名稱。結(jié)合SQX基本參數(shù)軟件,可以提供準(zhǔn)確、快速的XRF的結(jié)果。SQX可以自動修復(fù)包括重疊的全部矩陣效果。SQX還可以通過光電子(輕元素和超輕元素)、變化的氣體環(huán)境、雜質(zhì)和不同的樣品尺寸,校正二次激發(fā)的效應(yīng)。使用匹配庫和的掃描分析程序提高了準(zhǔn)確性。




日本理學(xué)波長色散X射線熒光硫(S)分析儀,根據(jù)ASTM D2622-10測量石油燃料中超低硫(ULS)

波長色散X射線熒光硫(S)分析儀

Micro-Z ULS

為石油、以及其他燃料的超低硫分析設(shè)計的理學(xué)Micro-Z ULS波長色散X射線熒光儀(WDXRF),擁有一個新的特征,可以同時測定硫的峰強(qiáng)和背景強(qiáng)度。測定并校正背景強(qiáng)度變化的能力使獲得一個更好的凈峰強(qiáng)度測定,從而獲得優(yōu)越的校正以及提高精度。理學(xué)Micro-Z ULS 遵照ASTM 2622-10、ISO 20884和JIS K2541-7方法。





理學(xué)Micro-Z ULS是適用于石油基燃料的硫分析,帶有一個更低的0.3 ppm硫的檢測限(LLD)。 在一個真空環(huán)境中使用堅固的器件和一個特殊設(shè)計的雙曲RX-9分析晶體,Micro Z ULS進(jìn)行連續(xù)的高靈敏度測定。

ASTM D2622性能用于初學(xué)用戶

為初學(xué)用戶進(jìn)行特殊設(shè)計,可通過簡易操作界面進(jìn)行從校正到例行分析的所有操作。該分析儀可使用任意標(biāo)準(zhǔn)墻壁電源插座供電。





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公司名稱 廣州儀德精密科學(xué)儀器股份有限公司
聯(lián)系賣家 丘先生 (QQ:402636448)
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