熒光光譜儀熒光光譜儀 臺(tái)式熒光光譜儀熒光光譜儀熒光 日本理學(xué)
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熒光光譜儀熒光光譜儀-臺(tái)式熒光光譜儀熒光光譜儀熒光-日本理學(xué)

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廣州儀德精密科學(xué)儀器股份有限公司

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商品介紹
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是否進(jìn)口 進(jìn)口
產(chǎn)地 日本
產(chǎn)品名 波長色散X射線熒光光譜儀
報(bào)價(jià)方式 按實(shí)際訂單報(bào)價(jià)為準(zhǔn)
產(chǎn)品編號(hào) 7656245
商品介紹

我國學(xué)者對(duì)不同時(shí)期WDXRF的進(jìn)展曾予以評(píng)述。WDXRF譜儀從儀器光路結(jié)構(gòu)來看,依然是建立在布拉格定律基礎(chǔ)之上,但儀器面目全新??v觀30年來的發(fā)展軌跡,可總結(jié)出如下特點(diǎn) 。

定性和半定量分析自動(dòng)化。在20世紀(jì)80年代,由有經(jīng)驗(yàn)的分析工作者通過查閱掃譜圖來判斷定性分析結(jié)果,但要依據(jù)定性分析結(jié)果估算為含量是十分困難的。現(xiàn)在商品儀器基本上配有定性和無標(biāo)準(zhǔn)樣(半)定量分析軟件,在絕大多數(shù)情況下不僅自動(dòng)給出樣品的元素組成,還可得出近似定量的分析結(jié)果。




X射線熒光光譜分析在20世紀(jì)80年代初已是一種成熟的分析方法,是實(shí)驗(yàn)室、現(xiàn)場分析主、次量和痕量元素的方法之一。X射線熒光光譜儀(XRF)是利用原級(jí)X射線或其他光子源激發(fā)待測物質(zhì)中的原子,使之產(chǎn)生熒光(次級(jí)X射線),從而進(jìn)行物質(zhì)成分分析的儀器。X射線熒光光譜儀又稱XRF光譜儀,有波長色散型和能量色散型兩種,適用于測定鈹

(Be)以上的化學(xué)元素的含量。它的優(yōu)點(diǎn)是不破壞樣品,分析速度快,分析精度高,樣品制備簡單。X射線熒光光譜儀還可以用于微區(qū)分析及確定分層和涂層的厚度和成分。




低成本

理學(xué)的Supermini200不僅是XRF元素分析需要的一個(gè)經(jīng)濟(jì)實(shí)惠的選擇,運(yùn)行成本也很低。只有氣流正比探測器的P10氣體為消耗物。Supermini200不需要冷卻水、管道或外部冷卻裝置。因此降低了系統(tǒng)維修和產(chǎn)品生命周期成本,以及耗材和維修的年度預(yù)算。

超級(jí)輕元素性能

分析從微量到高濃度的具有廣泛范圍的輕元素和重元素的復(fù)雜基體材料,是儀器的核心技術(shù)。理學(xué)的Supermini200為了解決復(fù)雜基體中的線重疊,無需反卷積,提供輕元素高靈敏度和卓越的光譜分辨率。輕元素(F、Na、Mg、Ca、Si、Al和P)的低濃度水平分析簡單。




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