廣州市固潤光電科技有限公司
主營產(chǎn)品: 主動(dòng)減震臺(tái), 探針臺(tái), 光譜輻射計(jì)
半自動(dòng)探針臺(tái)-晶圓測試探針臺(tái)-半導(dǎo)體探針臺(tái)-高低溫探針臺(tái)-SemiProbe
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廣東省廣州市
主營產(chǎn)品
半自動(dòng)探針臺(tái)/晶圓測試探針臺(tái)/半導(dǎo)體探針臺(tái)/高低溫探針臺(tái)/SemiProbe
品牌:SemiProbe
型號:PS4L SA-x
描述:SemiProbe半自動(dòng)探針臺(tái)采用了 SemiProbe 獨(dú)家專利技術(shù) Probe System for Life (PS4L)可適應(yīng)性模塊化結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì),提供了無與倫比的靈活性并大大地節(jié)省了設(shè)備資金和費(fèi)用。與傳統(tǒng)的探針臺(tái)相比,SemiProbe 的 PS4L 系列探針臺(tái)中所有的基礎(chǔ)模塊-基座,卡盤支架,卡盤,顯微鏡裝置,顯微鏡移動(dòng),光學(xué)組件,操縱器等都是可以更換的,使得 PS4L 系列探針臺(tái)以其極大的靈活性和性價(jià)比滿足了多種應(yīng)用需求,為客戶提供了非常經(jīng)濟(jì)適用以及完美的解決方案。更重要的是,PS4L的模塊化結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì),可以使探針臺(tái)在一個(gè)基本平臺(tái)的基礎(chǔ)上不斷的進(jìn)行升級??筛鶕?jù)測試環(huán)境和測試條件的改變而進(jìn)行現(xiàn)場升級,由手動(dòng)探針臺(tái)升級為半自動(dòng)探針臺(tái),半自動(dòng)探針臺(tái)升級為全自動(dòng)探針臺(tái),或者6”升級為8”,8”升級為12”,增加密閉測試倉,增加高低溫等,以滿足用戶新的要求。這樣的設(shè)計(jì)理念使得即使當(dāng)晶圓尺寸,自動(dòng)化的程度或者測試要求發(fā)生改變時(shí),PS4L 也無需重新更換新的平臺(tái),便可用最短的時(shí)效和最少的費(fèi)用完成測試。
PILOT控制軟件:
SemiProb的半自動(dòng)探針系統(tǒng)使用 SemiProbe 的 PILOT 控制軟件包進(jìn)行操作,軟件和 PS4L 硬件一樣采用的是SemiProbe 獨(dú)家專利技術(shù) Probe System for Life(PS4L)可適應(yīng)性結(jié)構(gòu)化設(shè)計(jì)。PILOT 軟件包是一款模塊化最明顯、最直觀且易操作的軟件。在不改變核心控制軟件的前提上,客戶可增添控制模塊來增加額外的功能和附件。其一般的功能比如2點(diǎn)校準(zhǔn),功能強(qiáng)大且易操作——甚至不經(jīng)常操作設(shè)備的用戶也非常容易上手。
產(chǎn)品特點(diǎn):
l 可靈活改變測試尺寸
l 半自動(dòng)測試,節(jié)省測試時(shí)間
l 可升級為全自動(dòng)探針系統(tǒng)
l 模塊化設(shè)計(jì),可以更換關(guān)鍵部件
l 結(jié)構(gòu)簡潔,方便操作
應(yīng)用范圍:
l 光伏工業(yè)
l 材料科學(xué)
l 光電行業(yè)
l 失效分析
l 通信器件測試
l 微機(jī)電技術(shù)
技術(shù)參數(shù)(型號:PS4L SA-4):
產(chǎn)品尺寸:900 mm x 650 mm x 750 mm
重量:80Kg
輸入電壓:110/220V 50/60Hz,20A
真空:23 Hg or -0.8 bar
卡盤X-Y軸軌道:NEMA 17步進(jìn)電機(jī),光學(xué)線性編碼器
行程:105*105mm
速度:50mm/s(最大)
平面性:±6μm
分辨率:0.1μm
重復(fù)性:±0.5μm
精度:±3um
卡盤Z軸軌道:行程:15mm
分辨率:0.5μm
重復(fù)性:±1.5μm
θ移動(dòng):行程:±4°(可定制)
分辨率:0.0008°
卡盤類型:真空或機(jī)械夾緊,圓形或方形,三軸,高頻,高壓/高電流,高低溫等
壓盤:鋁和不銹鋼頂部,可拆卸前楔
360度機(jī)械手放置
壓盤位移:可選擇固定和線性調(diào)節(jié)
線性調(diào)節(jié)范圍:40mm粗調(diào),200um微調(diào)
可選配件:包括探針卡,操縱器,操縱臂和基座, 探針,激光,光學(xué)部件,CCTV 系統(tǒng),隔振臺(tái),暗箱。
半自動(dòng)探針臺(tái)/晶圓測試探針臺(tái)/半導(dǎo)體探針臺(tái)/高低溫探針臺(tái)/SemiProbe