SHSIWI/思為 半導體元器件缺陷檢測設備 材料高速分析器 水浸超聲顯微鏡 水浸超聲c掃描CT
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品牌 SHSIWI
型號 GSS300
類型 顯微鏡
測量范圍 10*85*10cm
外形尺寸 50*33*10
適用范圍 半導體
分辨率 50um
工作溫度 0-40℃
頻率范圍 50MHz
產地 上海
商品介紹

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 SHSIWI/上海思為儀器可為客戶提供超聲無損檢測儀器定制、檢測標準定制、檢測方案及夾具定制服務?,F已形成110金剛石一體機、100標準機型、200大構件機型、300高速機型、400桌面機及500小型機一體機,產品已通過ISO9001認證;

 可滿足低壓電器焊接質量檢測、金剛石缺陷和厚度測量、水冷板散熱器檢測、半導體封測等行業(yè)需求。

 支持非標訂制,根據產品測試件來料提供免費測試,提代ODM、OEM等全面服務

 需要詳細了解,請聯(lián)系我們哦,期待您的來電!徐1.5.0.8.8.9.9.2.7.3.3

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公司名稱 上海思為儀器制造有限公司
聯(lián)系賣家 張金桂 (QQ:2361285022)
電話 钺钼钵钵-钼钵钳钼钸钵钸钵
手機 钳钻钹钼钵钵钺钹钻钹钼
傳真 钺钼钵钵-钼钵钳钻钺钶钵钼
地址 浙江省溫州市
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