美國(guó)GE相控陣探頭 GE直探頭 GE斜探頭 GE水浸探頭 GE超聲波探頭

美國(guó)GE特殊探頭 原德國(guó)KK

數(shù)字化 | 渦流 | 膠片 | 檢測(cè)系統(tǒng) | 超聲波 | X射線

特殊探頭能為您解決特殊檢測(cè)問(wèn)題

① RB…,MRB…型

用于管道周向檢測(cè)的斜探頭，能夠同時(shí)從兩個(gè)周向檢測(cè)管道的。Lemo00接頭。

② IR…型

從管道內(nèi)部檢測(cè)缺陷或測(cè)量厚度。

③ Z4R6X6/6X

多晶片探頭—4MHz，6個(gè)6x6mm晶片水浸探頭，帶2.5m探頭線。我們也能提供其他

頻率，晶片尺寸和晶片數(shù)量的探頭，相應(yīng)的多晶片斜探頭可以用來(lái)檢測(cè)橫向缺陷。

④ IALF10…型

10MHz水浸探頭，園柱曲面，晶片寬30mm，由PVDF材料制成，帶1.5m

Lemo1接口探頭線。可提供其他頻率和晶片尺寸的探頭。

用于軸承和輪軸

① B2S-0A…型

1MHz，2MHZ，4MHZ斜探頭，晶片直徑24mm，可更換保護(hù)膜。通過(guò)不同角度延

遲塊得到7o 14o 21o 28o 縱波斜探頭。頂部Lemo1接頭。尤其適用于檢測(cè)大軸承偏

心位置的體積型缺陷。

② AW…型

斜探頭，延遲塊可更換，2MHZ，晶片直徑24mm，Lemo1接頭；適用于橫波探

傷，探頭接觸面可與曲面耦合。

③ ASW…型

斜探頭，用橫波檢測(cè)輪軸中心孔，帶有2m探頭線，Lemo1插頭一個(gè)。

④ B…S, MB…S

直探頭，可提供各種頻率，晶片直徑為10mm和24mm，帶延遲塊。B…S型為

Lemo1接頭，MB…S探頭為Lemo00接頭。

⑤ Z2GB1, Z4NB5

帶延遲塊的縱波斜探頭，專為電梯軸承檢測(cè)設(shè)計(jì)，與Lemo 00插頭匹配。

注釋:

對(duì)于粗晶材料(由于晶粒散射而導(dǎo)致信噪比差)，請(qǐng)參照第15頁(yè)“粗晶結(jié)構(gòu)材料

的檢測(cè)”。關(guān)于特大軸承檢測(cè)請(qǐng)參照第6頁(yè)“大型部件檢測(cè)”。

用于板坯

① SEZ4R10…型

雙晶4MHz探頭，聲束寬度約為50mm，由一個(gè)發(fā)射晶片和3個(gè)接收晶片組成，一根探頭線，帶有4個(gè)Lemo1接頭。

① 5Z6X27ND型

雙晶5MHZ探頭，聲束寬度約為25mm，帶Lemo1接頭的探頭線，尤其適合板材邊緣檢測(cè)。

② B…S-O型

提供各種頻率的直探頭，可更換保護(hù)膜，頂部Lemo1接頭。例如用于檢測(cè)平板輥筒。

③ SEZ4N30V，SEB4TV型

4MHz雙晶探頭，2.5m帶Lemo1接頭探頭線一根，即使在不斷升高的溫度下也適用于檢測(cè)平板輥筒。

④ UWB…

1 MHz，2 MHz或4 MHz入射角可調(diào)斜探頭，可以得到縱波和橫波，配有Lemo1接

口，用于產(chǎn)生蘭姆波。

用于大型部件

① NQP…型

用 于 直 接 接 觸 法 的 聚 焦 直 探 頭 ，2MHZ，晶片直徑34mm，50mm，或

75mm，深度越深處，焦點(diǎn)直徑越小，Lemo1接頭。尤其適用于各個(gè)方向的相

鄰缺陷。

② WQP…型

聚 焦 斜 探 頭 ， 晶 片 直 徑 3 4 m m ，50mm，或75mm，深度越深處，焦點(diǎn)直徑越小，Lemo1接頭。

③ SEB…G型

雙晶探頭，1 MHz 或 2 MHz， 大晶片，深度聚焦，Lemo 00接頭。

④ GRST…型

相控陣探頭，聲束焦點(diǎn)和角度可變，可用于自動(dòng)檢測(cè)系統(tǒng)。

用于特殊形狀工件

例如飛機(jī)零件

① G…MN，G…KS型

多 種 頻 率 高 分 辨 率 的 直 探 頭 ， 可 更換延遲塊，Microdot接頭，G…KS為

Lemo00探頭。例如用于渦輪葉片冷卻壁 測(cè) 量 。 檢 測(cè) 塑 料 時(shí) ， 延 遲 塊 可 根

據(jù) 實(shí) 際 使 用 環(huán) 境 設(shè) 計(jì) ， 使 延 遲 塊 跟工件耦合，界面回波（0界面探頭）。

② H…MN…F型

高分辨率水浸探頭，多種頻率和晶片直徑可選，探頭帶有噴水耦合的噴嘴和防

水Lemo03接頭；例如用于渦輪葉片的厚度測(cè)量。

③ SMWB…

小晶片斜探頭，4 MHz，5MHz或6 MHz，晶片尺寸3mm x 4mm，Microdot接頭；例如檢測(cè)鉚釘孔的裂紋，也可用串聯(lián)式技術(shù)檢測(cè)。

例如：汽車部件

汽車零件的檢測(cè)幾乎是機(jī)械自動(dòng)化的?；钊?，閥門，輪軸，齒輪檢測(cè)的相關(guān)信

息可在特別發(fā)布的SD263資料中找到。點(diǎn)焊檢測(cè)的信息參見(jiàn)第10頁(yè)。

用于混凝土，石頭，和木材

① B0.05N，B0.05U…型

直 探 頭 ， 5 0 K H Z ， 接 觸 面 3 0 m m 和55mm，信號(hào)衰減弱，Lemo1接頭；只

能用于穿透式檢測(cè)。我們可以提供更高頻率探頭。

② B0.05NN型

直探頭，50KHZ，探頭通過(guò)增強(qiáng)桿增強(qiáng)超聲信號(hào)，聲束傳播直徑大，Lemo1接

頭，只適用于穿透式軟質(zhì)材料的檢測(cè)(如木材）。

③ K0.1G，K0.25G型

100KHZ和250KHZ直探頭，接觸面直徑45mm，阻尼性好，例如脈沖持續(xù)時(shí)間

短，防水Lemo1接頭；在脈沖回波模式可用于精確測(cè)量超聲傳播時(shí)間。

③ B…SL，G0.5G型

250 kHz，500 kHz，1 MHz直探頭，各種晶片尺寸可選，Lemo1接頭。

用于陶瓷（如絕緣材料）

① K…G，K…N 型

高分辨率直探頭，提供各種頻率，晶片直徑24mm和10mm，耐磨接觸面和Lemo00接頭。

② IB…

2MHZ或4MHZ，Lemo00接頭，窄外殼設(shè)計(jì)使得探頭能進(jìn)入傘形絕緣體的縫隙中。

③ IW…B…

4MHZ 斜探頭，Lemo00接頭。入射角取決于缺陷位置和探頭耦合點(diǎn)。注釋：大部分標(biāo)準(zhǔn)探頭可以用于檢測(cè)大絕緣體，成形的陶瓷工件可使用高頻探頭（如AP-FM50.3.1）水浸法探傷。

用于簡(jiǎn)單復(fù)合纖維塑料

① G…NS，G…KS型

各種頻率沖擊波直探頭，晶片尺寸可選，通過(guò)螺紋固定保護(hù)膜或延遲塊，Lemo00接頭?？梢愿鶕?jù)工件材料設(shè)計(jì)延遲塊，盡量界面波的影響（0界面探頭）。也適用于帶涂層工件的厚度測(cè)量。

② CA212，CA214

高分辨率直探頭，2MHZ，5MHZ，晶片尺寸10mm和24mm，Microdot接頭，通過(guò)螺紋固定保護(hù)膜或延遲塊，適用于帶涂層工件的厚度測(cè)量。

② G…N，G…KB

各種頻率沖擊波直探頭，晶片尺寸可選，Lemo00接頭，耐磨接觸面。

③ W70B2GT型

70o斜探頭，頻率為2MHZ，Lemo00接頭，適合檢測(cè)PE和PVC材料。65o斜探頭可用于檢測(cè)大厚度材料，WB70-1適合厚度更大的材料。

說(shuō)明：

關(guān) 于 熱 塑 料 的 檢 測(cè) 請(qǐng) 參 見(jiàn) 特 別 版SD277資料，干耦合檢測(cè)相關(guān)信息見(jiàn)第14頁(yè)。

用于點(diǎn)焊檢測(cè)

① G20MN…型

高 分 辨 率 直 探 頭 ， P V D F 晶 片 ，20MHZ，Microdot接頭和水延遲線，由可更換彈性保護(hù)膜密封，用于點(diǎn)焊檢測(cè)；晶片尺寸取決于點(diǎn)焊焊核，可以用15MHZ探頭檢測(cè)更大厚度的點(diǎn)焊。更多詳情請(qǐng)看特別版SD272。

用于精密部件檢測(cè)

① G…MN型

各種頻率沖擊波探頭，晶片直徑可選，Microdot接頭，可更換延遲塊；尤其適用于點(diǎn)焊檢測(cè)。

② H…NA，H…KA，H…MA型

各種頻率，晶片尺寸可選的水浸沖擊波探頭，H…N，H…K帶2.5m探頭線，H…M帶1.5m探頭線，Lemo00接頭；尤其適合厚度測(cè)量。

③ H...KP...F, H...MP...F型

各種頻率，晶片尺寸，焦距可選的高分辨率水浸探頭，防水Lemo03接頭，并附有用于機(jī)械自動(dòng)檢測(cè)的噴水耦合噴嘴。

用于結(jié)構(gòu)復(fù)雜，空間接觸面積受限制的工件

SMWB型

小晶片斜探頭，頻率4MHZ，5MHZ，6MHZ。晶片尺寸3mmx4mm，入射角可選，Microdot接頭。

② K…M…型

各頻率小晶片直探頭，（外徑2.5mm，高度3mm），Microdot接頭或固定細(xì)探頭線?？商峁┙佑|面直徑為2mm的錐形延遲塊。

③ WSY型

90o爬波探頭，Lemo00接頭，用來(lái)檢測(cè)難以接近的位置。

注釋：

爬波在工件表面下沿直線傳播。它并不像表面波一樣沿著表面?zhèn)鞑?。所以有些用其他超聲波無(wú)法檢測(cè)到的缺陷可以用爬波檢測(cè)到。這種探頭必須很好的與材料表面貼合在一起才能產(chǎn)生爬波。

不用耦合劑（干耦合）檢測(cè)

如果在檢測(cè)工件表面不能使用液體耦合劑，某些情況下可以使用塑料來(lái)代替。

用塑料箔或塑料冒安裝在探頭前面探頭和檢測(cè)工件耦合。滾筒探頭，

B1KS，B1KE型帶有特殊接觸面可以在沒(méi)有耦合的情況下連續(xù)檢測(cè)。在這種情

況下，探頭和被檢物件表面的清潔是十分重要的，因?yàn)楣ぜ砻娴呐K物會(huì)

使探頭不能與工件耦合。這種技術(shù)尤其適合于塑料檢測(cè)。詳情請(qǐng)參見(jiàn)SD261。

用于粗晶材料的檢測(cè)（鑄件和奧氏體材料）

很多用于檢測(cè)粗晶材料的探頭都得到成功應(yīng)用，現(xiàn)在已成為標(biāo)準(zhǔn)探頭。

包括：

①   K…S，K…SM

各頻率高分辨率直探頭，晶片尺寸34或28mm，Lemo1接頭，通過(guò)螺紋固定保護(hù)膜，延遲線和斜楔。

② WRY…，WSY…

45o，60o，70o縱波斜探頭，高分辨率，頻率2MHZ。WSY…頻率4MHZ，Lemo00接頭。

③ VRY…，VSY…

45o，60o，70o，2MHZ縱波雙晶斜探頭。VSY… 4MHZ，Lemo00接頭。如果您需要與上述標(biāo)準(zhǔn)探頭頻率、入射角、接頭型號(hào)不同的探頭，請(qǐng)聯(lián)系我們，我們將給您提供探頭，使其能滿足您的應(yīng)用需求。

根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)

很多國(guó)家的標(biāo)準(zhǔn)都規(guī)定了探頭的技術(shù)參數(shù)，常規(guī)檢測(cè)的檢測(cè)方法和規(guī)范。這些

標(biāo)準(zhǔn)的數(shù)量和范圍都非常大，在此對(duì)于具體的探頭參數(shù)不一一列舉。

如果您需要符合特定標(biāo)準(zhǔn)的探頭，請(qǐng)聯(lián)系我們，如果您急需探頭的話，我

們建議您給我們提供基于標(biāo)準(zhǔn)的探頭技術(shù)資料。