射頻探針應用于：
1）射頻和微波模塊信號插入，檢測和測量輸出；
2）高頻電路板電氣性能分析；
3）高速數(shù)字電路分析
村田探針主要與帶開關(guān)的高頻同軸連接器和高頻同軸連接器相匹配來測試使用。不同型號的高頻同軸連接器對應的村田探針型號也不相同，不同的排列方式也有不同體積的探針選擇。

村田無電纜探針主要用于實驗室評估，測量電纜能夠與村田探針相連，配合完成后，探針可憑借與連接器接觸點上的夾爪自行站立，配合完成后對探針施加的任何壓力都可能導致探針脫落，連接受損或電級剝離。需要細心使用測試。這類探針一般采用SMA接口進行轉(zhuǎn)接。

村田電纜探針主要用于實驗室評估。就是把探針與SMA接口延長了，在中間加了一斷細軟射頻線，長度通常為300mm，測量射頻電纜裝配探針。配合完成后，探針可憑借與連接器接觸點上的夾爪自行站立，配合完成后對探針施加的任何壓力都可能導致探針脫落，連接受損或電級剝離。需要細心使用測試。
常用型號有MXHS83QE3000,MXHQ87WJ3000,MXHQ87WA3000,MXHQ87PA3000,MXHQ87PK3000，
MXHQ87PP3000,MXHQ87PN3000等。

村田無浮動機構(gòu)的自動探針可用于產(chǎn)線大批量測試。探針內(nèi)置在測量裝置內(nèi)，與連接器加壓連接，探針不帶夾爪鎖固功能，因此不會使連接器受損，探針不帶浮動機構(gòu)，因此測量裝置應具備浮動機構(gòu)。
常用型號有MM126036  MM126038  MM126048,MM126310等。
其他一些相關(guān)的概念
Probe pitch：指的是針尖(Probe Tips)之間的間距，一般在50-1000um之間不等。對于毫米波頻率的應用，針尖間距一般都比較小。
Probe skate :當你在Z軸方向往下“按壓”探針時，當探針接觸到DUT，它將在ZY平面彎曲移動。通常，這也是我們判斷針是否扎上的一個現(xiàn)象。
De-embeding :去嵌是在探針出現(xiàn)之前就有的技術(shù)，之前經(jīng)常用在一些標準的分立的夾具測試中。