濱松InGaAs工業(yè)相機C15333-10E 太陽能電池缺陷檢查 短波紅外 WX
濱松InGaAs工業(yè)相機C15333-10E 太陽能電池缺陷檢查 短波紅外 WX
濱松InGaAs工業(yè)相機C15333-10E 太陽能電池缺陷檢查 短波紅外 WX
濱松InGaAs工業(yè)相機C15333-10E 太陽能電池缺陷檢查 短波紅外 WX
濱松InGaAs工業(yè)相機C15333-10E 太陽能電池缺陷檢查 短波紅外 WX
濱松InGaAs工業(yè)相機C15333-10E 太陽能電池缺陷檢查 短波紅外 WX

濱松InGaAs工業(yè)相機C15333-10E-太陽能電池缺陷檢查-短波紅外-WX

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品牌 濱松
型號 C15333-10E
有效像素數(shù) 1024 (H) × 1 (V)
像素尺寸 12.5 μm (H) × 12.5 μm (V)
有效面積 12.8 mm (H) × 0.0125 mm (V)
曝光時間 21 μs to 1 s (1 μs step)
接口 Gigabit Ethernet
A/D轉(zhuǎn)換器 14 bit
鏡頭卡口 C mount
成像器件 InGaAs line sensor
商品介紹

SWIR（短波紅外）成像是無損檢測的絕佳解決方案。它可以根據(jù)物體表面SWIR光譜特征區(qū)分材料，并提供安全便捷的方法來保證產(chǎn)品質(zhì)量，包括檢查包裝中的液體質(zhì)量，檢查密封容器里的內(nèi)容以及檢測農(nóng)產(chǎn)品中的損壞和雜志等。另外，還可以在半導(dǎo)體工業(yè)中進行硅晶圓的太陽能電池缺陷檢查。


將SWIR成像方式集成到產(chǎn)線中需要高行頻，高靈敏度的相機，針對這些應(yīng)用，濱松目前正是推出了新型C15333-10EInGaAs線陣掃描相機。

產(chǎn)品型號C15333-10E
有效像素數(shù)1024 (H) × 1 (V)
像素尺寸12.5 μm (H) × 12.5 μm (V)
有效面積12.8 mm (H) × 0.0125 mm (V)
滿阱容量Gain 0: 4.0 M electrons Gain 1: 0.76 M electrons Gain 2: 0.16 M electrons Gain 3: 0.051 M electrons
讀出速度Internal mode: 40 kHz (21 μs exposure time) Sync readout: 40 kHz
曝光時間21 μs to 1 s (1 μs step)
外部觸發(fā)輸入Sync readout
外部觸發(fā)信號路徑12 pin SMA or HIROSE connector
圖像處理功能Background subtraction, Real time shading correction
接口Gigabit Ethernet
A/D轉(zhuǎn)換器14 bit
鏡頭卡口C mount
電源DC 12 V
量子效率above 60 % (1100 nm ～ 1600 nm) *
功耗6 W max.
推薦環(huán)境工作溫度0 ℃ to +40 ℃
環(huán)境儲存溫度-10 ℃ to +50 ℃
環(huán)境工作濕度30 % to 80 % (with no condensation)
環(huán)境儲存濕度90 % max. (with no condensation)
成像器件InGaAs line sensor



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公司名稱杭州微圖視覺科技有限公司
公司地址杭州市西湖區(qū)西園九路8號
郵政編碼310030
電話0571-86888309-809
銷售熱線王工 13588832187
電子郵件wangx@visiondatum.com
微圖網(wǎng)址www.visiondatum.com
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聯(lián)系賣家 盧工
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地址 浙江省杭州市
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