在僅僅三十年的時(shí)間里，射頻探針技術(shù)便取得了驚人的進(jìn)步，從低頻測(cè)量到適用多種應(yīng)用場(chǎng)合的商用方案：如在110GHz高頻和高溫環(huán)境進(jìn)行阻抗匹配，多端口，差分和混合信號(hào)的測(cè)量裝置，連續(xù)波模式中直到60W的高功率測(cè)量，以及直到750GHz的太赫茲應(yīng)用，都能見(jiàn)到射頻探針的身影。
村田探針主要與帶開(kāi)關(guān)的高頻同軸連接器和高頻同軸連接器相匹配來(lái)測(cè)試使用。不同型號(hào)的高頻同軸連接器對(duì)應(yīng)的村田探針型號(hào)也不相同，不同的排列方式也有不同體積的探針選擇。

奧納科技銷售射頻探針，主要是日本muRata村田探針。
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村田無(wú)浮動(dòng)機(jī)構(gòu)的自動(dòng)探針可用于產(chǎn)線大批量測(cè)試。探針內(nèi)置在測(cè)量裝置內(nèi)，與連接器加壓連接，探針不帶夾爪鎖固功能，因此不會(huì)使連接器受損，探針不帶浮動(dòng)機(jī)構(gòu)，因此測(cè)量裝置應(yīng)具備浮動(dòng)機(jī)構(gòu)。
常用型號(hào)有MM126036  MM126038  MM126048,MM126310等。

村田校準(zhǔn)適配器用于探針的校準(zhǔn)。適配器一側(cè)帶有SMA接頭，另一側(cè)匹配村田連接器形狀，可以連接網(wǎng)絡(luò)分析儀和相應(yīng)探針進(jìn)行校準(zhǔn)。常用型號(hào)有MM126312,MM126712等。
其他一些相關(guān)的概念
Probe pitch：指的是針尖(Probe Tips)之間的間距，一般在50-1000um之間不等。對(duì)于毫米波頻率的應(yīng)用，針尖間距一般都比較小。
Probe skate :當(dāng)你在Z軸方向往下“按壓”探針時(shí)，當(dāng)探針接觸到DUT，它將在ZY平面彎曲移動(dòng)。通常，這也是我們判斷針是否扎上的一個(gè)現(xiàn)象。
De-embeding :去嵌是在探針出現(xiàn)之前就有的技術(shù)，之前經(jīng)常用在一些標(biāo)準(zhǔn)的分立的夾具測(cè)試中。