奧林巴斯 超聲測(cè)厚儀測(cè)頭 探傷儀探頭

公司簡(jiǎn)介

Olympus公司是一家專營(yíng)光學(xué)、電子及精密工程產(chǎn)品，涉及工業(yè)、醫(yī)療及消費(fèi)市場(chǎng)的跨國(guó)公司。Olympus生產(chǎn)的儀器有助于保證產(chǎn)品質(zhì)量，提高基礎(chǔ)設(shè)施及設(shè)備的安全性。Olympus ND的生產(chǎn)創(chuàng)新型無損檢測(cè)和測(cè)量?jī)x器的企業(yè)。其生產(chǎn)的儀器應(yīng)用于包括航空航天、電力、石油化工、民用基礎(chǔ)設(shè)施、汽車以及消費(fèi)產(chǎn)品在內(nèi)的各種工業(yè)和研究領(lǐng)域。其掌握的前沿檢測(cè)技術(shù)包括超聲、超聲相控陣、渦流、渦流陣列、顯微鏡檢查、光學(xué)計(jì)量，以及X光熒光分析。其生產(chǎn)的產(chǎn)品包括探傷儀、厚儀、工業(yè)NDT系統(tǒng)及掃查器、視頻鏡、管道鏡、高速視頻攝像機(jī)、顯微鏡、便攜式X光分析儀、探頭及各種輔助設(shè)備。Olympus NDT公司的總部設(shè)在美國(guó)馬薩諸塞州的沃爾瑟姆，并在范圍內(nèi)的各大主要工業(yè)地區(qū)都設(shè)有銷售和服務(wù)中心。若需要在產(chǎn)品的應(yīng)用及服務(wù)方面得到幫助，請(qǐng)咨詢我們。

Panametrics ? 超聲探頭

我們提供的各種頻率、晶片直徑及連接器類型的Panametrics超聲探頭有5000種以上。擁有40多年探頭研制經(jīng)驗(yàn)的Olympus

NDT已經(jīng)開發(fā)了用于缺陷探測(cè)、焊縫檢測(cè)、厚度測(cè)量及材料分析等特殊應(yīng)用的各種各樣的定制探頭。

接觸式探頭：

接觸式探頭是一個(gè)通?？缮煽v波且與被測(cè)樣件直接接觸的單晶探頭。所有接觸式探頭都裝有WC-5防磨面，不僅具防磨效果，可以延長(zhǎng)探頭壽命，還可以提供適合于大多數(shù)金屬的極佳的聲阻抗。

接觸式探頭是一種可與被檢工件直接接觸的單晶縱波探頭。

優(yōu)勢(shì)

? WC-5防磨板增加了這種探頭的耐用性、抗裂性及防磨性。

? 所有這類探頭都可用于檢測(cè)面粗糙的工業(yè)部件。

? 具有與大多數(shù)金屬匹配的近似聲阻抗。

? 可用于檢測(cè)多種材料

應(yīng)用

? 垂直聲束缺陷探測(cè)和厚度測(cè)量。

? 分層缺陷的探測(cè)和定量。

? 材料特性評(píng)價(jià)和聲速測(cè)量。? 檢測(cè)平板、坯材、棒材、鍛件、鑄件、擠壓成形件及多種其它金屬與非金屬部件。

? 可在50°C（122°F）的高溫下持

指尖接觸式

? 大于6毫米（0.25英寸）的探頭帶有凸節(jié)，便于抓取。

?303不銹鋼外殼。

? 薄外形的特點(diǎn)便于檢測(cè)難于接觸到的表面。

? 根據(jù)客戶的要求，可免費(fèi)提供用于方便抓取探頭的可拆裝塑料套筒。

6毫米（0.25英寸）套筒的工件編號(hào)為CAP4；3毫米

（0.125英寸）套筒的工件編號(hào)為CAP8。

? 標(biāo)準(zhǔn)配置為直角連接器，并適用于Microdot連接器。

奧林巴斯超聲探傷儀測(cè)頭M1054

介紹

接觸式探頭是一種可與被檢工件直接接觸的單晶縱波探頭。

優(yōu)勢(shì)

? 專利WC-5防磨板增加了這種探頭的耐用性、抗裂性及防磨性。
? 所有這類探頭都可用于檢測(cè)面粗糙的工業(yè)部件。
? 具有與大多數(shù)金屬匹配的近似聲阻抗。
? 可用于檢測(cè)多種材料。

應(yīng)用

? 垂直聲束缺陷探測(cè)和厚度測(cè)量。
? 分層缺陷的探測(cè)和定量。
? 材料特性評(píng)價(jià)和聲速測(cè)量。
? 檢測(cè)平板、坯材、棒材、鍛件、鑄件、擠壓成形件及多種其它金屬與非金屬部件。
? 可在50°C（122°F）的高溫下持續(xù)使用。

磁性固定接觸式

? 繞探頭外殼的磁性環(huán)可將探頭穩(wěn)固在鐵性材料上。

? 具有與Videoscan系列探頭相似的寬帶性能

注意：以上所有磁性固定接觸式探頭都帶有平直Microdot 連接器。

高頻探頭：

高頻探頭包括延遲塊探頭和聚焦水浸探頭。這些探頭的頻率范圍在20 MHz至225

MHz之間。高頻延遲塊探頭可以對(duì)厚度薄如0.010毫米（0.0004英寸）的材料進(jìn)行厚度測(cè)量（取決于材料、探頭、表面條件、溫度和設(shè)置）。高頻聚焦水浸探頭是對(duì)硅制微型芯片等具有低衰減性的薄材料進(jìn)行高分辨率成像和缺陷探測(cè)應(yīng)用的理想探頭。

高頻探頭為單晶接觸式或水浸式探頭，可產(chǎn)生等于或高于20 MHz的頻率。

優(yōu)勢(shì)

? 強(qiáng)阻尼寬帶設(shè)計(jì)提供了極佳的時(shí)間分辨率。

? 短波長(zhǎng)可獲得極強(qiáng)的缺陷分辨率能力。

? 直徑極小的聲束也可以聚焦。

? 頻率范圍為20 MHz到225 MHz。

應(yīng)用

? 高分辨率缺陷探測(cè)，如：微孔隙檢測(cè)或微裂紋檢測(cè)。

? 表面斷裂或不平整性的C掃描成像。

? 可測(cè)量薄如0.010毫米（0.0004英寸）材料的厚度

? 可對(duì)陶瓷及高級(jí)工程材料進(jìn)行檢測(cè)。

? 可對(duì)材料進(jìn)行分析。

*厚度范圍取決于材料、探頭、表面條件、溫度及所選的的設(shè)置。高頻接觸式

? 使用直接接觸檢測(cè)法時(shí)，利用永久熔融石英延遲塊可進(jìn)行缺陷評(píng)價(jià)、材料分析或厚度測(cè)量。

?3種不同延遲塊的配置（BA、BB、BC）可形成多種延遲塊回波的組合。

? 其標(biāo)準(zhǔn)連接器類型為直角Microdot（RM）。