深圳市泰立儀器儀表有限公司
主營(yíng)產(chǎn)品: 金屬材料檢測(cè), 復(fù)合材料檢測(cè), 磁力測(cè)量, 電導(dǎo)率測(cè)量, 相控陣探傷, 汽車(chē)點(diǎn)焊探傷
美國(guó)Dakota測(cè)厚儀-超厚高阻抗測(cè)頭-PT-104-2700
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經(jīng)營(yíng)模式
經(jīng)營(yíng)批發(fā)
所在地區(qū)
廣東省深圳市
主營(yíng)產(chǎn)品
金屬材料檢測(cè), 復(fù)合材料檢測(cè), 磁力測(cè)量, 電導(dǎo)率測(cè)量, 相控陣探傷, 汽車(chē)點(diǎn)焊探傷
美國(guó)DAKOTA公司是一間專(zhuān)門(mén)生產(chǎn)工業(yè)上所使用的測(cè)厚儀及探傷設(shè)備. 儀器是采用超聲波技術(shù),不需將工件損壞就能作出探傷檢查或用作工件厚度或長(zhǎng)度測(cè)量。
深圳市泰立儀器儀表有限公司為授權(quán)經(jīng)銷(xiāo)商,提供全線產(chǎn)品及附件,提供技術(shù)支持于售后服務(wù)。
產(chǎn)品系列
超聲波測(cè)厚儀ZX系列 ZX-3 / ZX-5 / ZX-5DL
超聲波測(cè)厚儀ZX系列 ZX-6 / ZX-6DL
多功能精密超聲測(cè)厚儀 PVX
多功能超聲測(cè)厚儀系列 DFX
A/B掃描超聲波測(cè)厚儀 MVX
多功能涂層超聲測(cè)厚儀 CMX
多功能涂層A/B掃描超聲測(cè)厚儀 CMX DL+
超聲螺栓應(yīng)力測(cè)試儀 MINI-MAX
精密超聲測(cè)厚儀 PZX-7/PZX-7DL
超輕量式水下測(cè)厚儀 UMX-2
美國(guó)Dakota超聲波測(cè)厚儀探頭
標(biāo)準(zhǔn)探頭 | PT-102-2000 | 1.0~152mm/5MHz/晶片 ?6.35mm |
標(biāo)準(zhǔn)高阻抗探頭 | PT-102-2700 | 1.0~152mm/5MHz/晶片 ?6.35mm |
高阻抗探頭 | PT-102-2900 | 1.0~152mm/5MHz/晶片 ?6.35mm/CT 模式 |
高阻抗探頭 | PT-104-9700 | 2.54~100mm/3.2-100mm(穿透模式)/3.5MHz/晶片 ?12.7mm |
小管徑探頭 | PT-101-2000 | 1.0~50mm/5MHz/晶片 ?4.76mm |
小管徑高阻抗探頭 | PT-101-2700 | 1.0~50mm/5MHz/晶片 ?4.76mm |
低頻探頭 | PT-104-0000 | 3.8~50.8mm(鑄鐵中)/1MHz/晶片 ?12.7mm |
低頻探頭 | PT-102-1000 | 1.5~100mm/2.25MHz/晶片 ?6.35mm |
超薄探頭 | PT-102-3300 | 0.63~152mm/7.5MHz/晶片 ?6.35mm |
高阻抗探頭 | PT-102-3700 | 穿透模式 5.0~25.4m/7.5MHz/晶片 ?6.35mm |
超厚探頭 | PT-104-2000 | 1.27~508mm/5MHz/晶片 ?12.7mm |
超厚高阻抗探頭 | PT-104-2700 | 1.27~508mm/5MHz/晶片 ?12.7mm |
標(biāo)準(zhǔn)高溫探頭 | PT-042-2000 | 1.0~152mm/340℃/5MHz/晶片 ?6.35mm |
標(biāo)準(zhǔn)高溫高阻抗探頭 | PT-042-2700 | 1.0~152mm/340℃/5MHz/晶片 ?6.35mm |
超厚高溫探頭 | PT-044-2000 | 1.27~508mm/340℃/5MHz/晶片 ?12.7mm |
超厚高溫高阻抗探頭 | PT-044-2700 | 1.27~508mm/340℃/晶片 ?12.7mm |
高溫探頭 | PT-212-2001 | 1.0~152mm/480℃/5MHz/晶片 ?6.35mm |
高溫探頭 | PT-214-2001 | 1.27~508mm/480℃/5MHz/晶片 ?12.7mm |
曲面探頭 | PT-104-2120 | 配 PR-82/1.27~380mm/R=50mm/5MHz |
水下探頭 | PT-174-2006 | 1.27~508mm/5MHz/晶片 ?12.7mm |
水下探頭 | PT-174-9700 | 2.54~100mm/3.5MHz/晶片 ?12.7mm |
水下探頭 | PT-074-2906 | 2.54~100mm/5MHz/晶片 ?12.7mm |
- 代理歐美的高科技儀器和設(shè)備,其中尤以無(wú)損檢測(cè)和金相理化設(shè)備為主。包括:超聲、渦流、漏磁、磁粉、射線、金相制樣、光譜等等。