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項目簡介：

X射線吸收精細結(jié)構(gòu)（X-ray absorption fine structure，XAFS）也叫做X射線吸收譜（X-ray absorption spectroscopy，XAS），是一種基于同步輻射光源的，研究材料局域原子、電子結(jié)構(gòu)的一種有力的工具。XAFS廣泛應(yīng)用于催化、能源、納米等熱門領(lǐng)域，主要是基于以下優(yōu)點：

1、不依賴于長程有序結(jié)構(gòu)，可用于非晶態(tài)材料的研究；

2、不受其它元素的干擾，可對同一材料中不同的元素分別研究；

3、不受樣品狀態(tài)的影響，可以測量固體（晶體、粉末），液體（溶液、熔融態(tài)）和氣體等；

4、對樣品無破壞，可以進行原位測試；

5、能獲得高精度的配位原子的種類、配位數(shù)以及原子間距等結(jié)構(gòu)參數(shù)，一般認為原子間距的精確度可達0.01 ?；

6、檢測下限低，最低可達幾個ppm。