北京華測試驗儀器有限公司
主營產品: 沖擊電壓試驗儀, 耐電弧測試儀, 數字電荷儀, 表面體積電阻率測試儀, 納米測試儀, 海綿壓陷硬度測試儀, 納米犬分析測試儀, 多功能精密電池測試分, 高壓漏電起痕試驗機
北京華測鐵電參數測試功能材料電學綜合測試系統(tǒng)《2023全新升級》
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功能材料電學綜合測試系統(tǒng)
鐵電參數測試功能
Dynamic Hysteresis 動態(tài)電滯回線測試頻率Static Hysterestic 靜態(tài)電滯回線測試;PUND 脈沖測試;Fatigue 疲勞測試;Retention保持力;Imprint印跡;Leakage current漏電流測試;Thermo Measurement 變溫測試功能。壓電參數測試功能可進行壓電陶瓷的準靜態(tài)d33等參數測試,也可通過高壓放大器與位移傳感器(如激光干涉儀)動態(tài)法測量壓電系數測量。
熱釋電測試功能主要用于薄膜及塊體材料變溫的熱釋電性能測試。采用電流法進行測量材料的熱釋電電流、熱釋電系數、剩余極化強度對溫度和時間的曲線。薄膜材料變溫范圍:-196℃到+600℃;塊體材料變溫范圍:室溫到200℃、室溫到600℃、室溫到800℃
介電溫譜測試功能用于分析寬頻、高低溫環(huán)境條件下功能材料的阻抗Z、電抗X、導納Y、電導G、電納B、電感L、介電損耗D、品質因數Q等物理量,同時還可以分析被測樣品隨溫度、頻率、時間、偏壓變化的曲線。也可進行壓電陶瓷的居里溫度測試。
熱激發(fā)極化電流測試儀 TSDC 用于研究材功材料性能的一些關鍵因素,諸如分子弛豫、相轉變、玻璃化溫度等等,通過TSDC技術也可以比較直觀的研究材料的弛豫時間、活化能等相關的介電特性。
絕緣電阻測試功能精準度高的電壓輸出與電流測量,保障測試的品質,適用于功能材料在高溫環(huán)境材料的數據的檢測。例如:陶瓷材料、硅橡膠測試、PCB、云母、四氟材料電阻測試、也可做為科研院所新材料的高溫絕緣電阻的性能測試。
高溫四探針測試功能符合功能材料導體、半導體材料與其它新材料在高溫環(huán)境下測試多樣化的需求。雙電測數字式四探針測試儀是運用直線或方形四探針雙位測量。也可應用于產品檢測以及新材料電學性能研究等用途。
塞貝克系數/電阻測量系統(tǒng)適用于半導體,陶瓷材料,金屬材料等多種材料的多種熱電性能分析;可根據用戶需求配置薄膜測量選件,低溫選件溫度范圍-100℃到200℃,高阻選件高至10MΩ。
電卡效應測試功能還可以用于測試材料在寬溫度范圍內的電卡性能。溫度范圍:-50℃到200℃、熱流時間范圍:1s-1000s,電壓可達10kV,波形:用戶自定、脈沖、三角波、正弦波、任意波形、預定義波形。
功能材料電學綜合測試系統(tǒng)用戶可選擇不同的配置
功能材料電學綜合測試系統(tǒng)設備優(yōu)勢
本套系統(tǒng)可完成功能材料鐵電、壓電、熱釋電、介電、絕緣電阻等電學測試,以及高、低溫環(huán)境下的電學測試。與電學檢測儀器在通訊協(xié)議、數據庫處理、軟件兼容性做了大量的接口。無論在軟件與硬件方面,使本套儀器在未來易于擴展。更加節(jié)省改造時間與硬件成本。
性能優(yōu)勢
華測儀器依托多年高壓控制、測試方面多年的技術成果,安全保護:增加TVS保護過壓、過流、過溫等技術,更加安全與可靠。軟件設計:在測試功能、數據處理、操作等人性化等方面做了大量的改進;測量精度:與品牌儀器做了大量的測試對標,與國內航天計量院通力合作;進行檢測計量。保證數據的有效與真實。
研發(fā)優(yōu)勢
研發(fā)團隊擁有多領域、多學科的博士、碩士專業(yè)技術人員,他們致力于材料電學、電力電子、信號、測控、精密加工方面的研究,自成立以來獲多方科研機構、大學試驗室支持
定制化服務
電學試驗室擁有泰克、是德科技品牌大批檢測設備;生產制造方面,公司有4軸、5軸CNC加工中心、超精磨床等一大批生產、加工設備,ISO9001質量體系認證,在工裝、夾具定制化方面方便、高效。
更優(yōu)xiu的測試功能
HCTD3000鐵電測試系統(tǒng)具有寬頻率響應范圍及寬測試電壓范圍,性價比非常高,滿足了用戶追求高性價的需求。主機內置電壓檔位有±10V,±30V,±100V,±200V和±500V可選。在±10V的內置電壓下,電滯回線測試頻率達到2MHz;在±500V的內置電壓下,電滯回線測試頻率達到±2kHz。此系統(tǒng)還可外部擴展電壓到4kV和10kV,也可加載選件實現(xiàn)壓電、熱釋電和磁電測試功能。此系統(tǒng)包含Vision基本鐵電管理測試軟件。此外還可外部擴展電壓到4kV和10kV,Premier II在不改變樣品連接的情況下可執(zhí)行電滯回線,脈沖,漏電流,IV和CV測試,也可加載選件實現(xiàn)壓電、熱釋電、磁電測試和晶體管特性測試功能。
標準配置
Dynamic Hysteresis 動態(tài)電滯回線測試頻率;
PUND 脈沖測試:zui小脈沖寬度2μs,zui小上升時間1 μs;Fatigue 疲勞測試,zui大頻率300kHz;
Retention 保持力測試;
Static Hysterestic 靜態(tài)電滯回線測試;
Imprint 印跡;
Leakage current 漏電流測試:100fA to 1A
更多測試功能
高溫部分通過近紅外爐實現(xiàn)zui高可實現(xiàn)RT~1500°c環(huán)境下測試低溫部分通過冷熱臺實現(xiàn)可實現(xiàn)-180~450°c環(huán)境下測試高、低溫介電溫譜測試頻率I 測試范圍20HZ-30MHZ。
擴展測試裝置