USPM-RUⅢ鏡片反射率測定儀 奧林巴斯顯微鏡 奧林巴斯工業(yè)顯微鏡 上海蠻吉
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USPM-RUⅢ鏡片反射率測定儀-奧林巴斯顯微鏡-奧林巴斯工業(yè)顯微鏡-上海蠻吉

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品牌 上海蠻吉
產(chǎn)品 USPM-RUⅢ鏡片反射率測定儀
在線 24小時
規(guī)格 USPM-RU III
可售賣地 全國
測定波長 380 nm～780 nm
光源規(guī)格： 鹵素?zé)?12 V 100 W
測定方法 與參照樣本的比較測定
其他 見詳情
PC接口 USB方式
商品介紹

USPM-RUⅢ鏡片反射率測定儀

USPM-RUⅢ鏡片反射率測定儀的特點：
◆背面反射光
采用特殊光學(xué)系，背面反射光。不必進行背面的防反射處理，可正確測定表面的反射率。

◆可測定微小領(lǐng)域的反射率
用對物鏡對焦于小區(qū)域（φ60μm），可測定鏡片曲面以及鍍膜層斑點。

◆測定時間短
使用Flat Field Grating（平面光柵）和線傳感器的高速分光測定，可迅速實現(xiàn)再現(xiàn)性很高的測定。

◆XY色度圖、L*a*b測定可能
以分光測定法為基準(zhǔn)，從分光反射率情況可測定物體顏色。

◆可測定的Hard Coat（高強度鍍膜）膜厚
用于涉光分光法，可以不接觸、不破壞地測定被測物的膜厚（單層膜）。

USPM-RUⅢ鏡片反射率測定儀主要用途：

1、各種透鏡（眼鏡透鏡、光讀取透鏡等）

2、反射鏡、棱鏡以及其他鍍膜部品等的分光反射率、膜厚測定（單層膜）


技術(shù)規(guī)格


USPM-RU III：規(guī)格
測定波長380 nm～780 nm
測定方法與參照樣本的比較測定
被檢物N.A.0.12（使用10×物鏡時） 
0.24（使用20×物鏡時） 
* 與物鏡的N.A.不同。
被檢物W.D.10.1 mm（使用10×物鏡時） 
3.1 mm（使用20×物鏡時）
被檢物的曲率半徑-1R ～-∞、+1R～∞
被檢物的測定范圍約?60 μm（使用10×物鏡時） 
約?30 μm（使用20×物鏡時）
測定再現(xiàn)性（2σ）±0.1%（380 nm～410 nm測定時） 
±0.01%（410 nm～700 nm測定時）
顯示分辨率1 nm
測定時間數(shù)秒～十幾秒（因取樣時間而異）
光源規(guī)格鹵素?zé)?12 V 100 W
載物臺Z方向驅(qū)動范圍85mm
PC接口USB方式
裝置重量機身：約20 kg（PC、打印機除外） 
光源用電源：約3 kg 
控制器盒：約8 kg
裝置尺寸機身： 
300（W）×550（D）×570（H） mm 
光源用電源： 
150（W）×250（D）×140（H） mm 
控制器盒： 
220（W）×250（D）×140（H） mm
電源規(guī)格光源用電源： 
100 V（2.8 A）/220 V AC 
控制器盒： 
100V（0.2A）/220V AC
使用環(huán)境水平且無振動的地方 
溫度： 23±5 °C 
濕度： 60%以下、無結(jié)露

* 本裝置不溯源體系中的精度。 
* 可以特別訂做測定波長440 nm～840 nm規(guī)格。


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公司名稱 上海蠻吉光電科技有限公司
聯(lián)系賣家 季凱 （QQ：793631729）
手機 㜉㜊㜋㜃㜌㜊㜄㜊㜉㜃㜋
地址 上海市嘉定區(qū)
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