北京東方圓通科技發(fā)展有限公司主營(yíng)：活度計(jì),輻射檢測(cè)儀,個(gè)人劑量?jī)x,同位素識(shí)別儀

使用熱釋光劑量片時(shí)有什么需要注意的？

測(cè)  試：使用在相應(yīng)的熱釋光劑量?jī)x器，開機(jī)30分鐘后調(diào)準(zhǔn)光源靈敏度，使用M2程序（即：升溫速率為15℃/S，恒溫135℃/8S，第二恒溫240℃/12S），空測(cè)3次以上后進(jìn)行測(cè)量。

注意事項(xiàng)：禁止用手直接接觸摸探測(cè)器，被灰塵污染的探測(cè)器要用酒精清洗，酒精揮發(fā)后晾干再使用，放通風(fēng)干燥處，避免光線照射，每批次探測(cè)器使用后不能和其它批次探測(cè)器混合使用。污染嚴(yán)重和退火不正確的探測(cè)器做報(bào)廢處理。

期望大家在選購(gòu)熱釋光劑量片時(shí)多一份細(xì)心，少一份浮躁，不要錯(cuò)過(guò)細(xì)節(jié)疑問。想要了解更多熱釋光劑量片的相關(guān)資訊，歡迎撥打圖片上的熱線電話?。?！

熱釋光探測(cè)器的依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)

熱釋光探測(cè)器的基本依據(jù)是某些材料的晶體受輻射照射后具有能量累積儲(chǔ)存作用。當(dāng)加熱到一定溫度時(shí)又以發(fā)光的形式釋放能量，而且與受照射劑量成正比關(guān)系。

當(dāng)磷光體（晶體）受到電離輻照時(shí)，射線與晶體相互作用，產(chǎn)生電離和激發(fā)，使晶體價(jià)帶中的電子獲得足夠的能量游離出來(lái)，上升到導(dǎo)帶，在價(jià)帶中剩下空穴。被電離激發(fā)的電子空穴在亞穩(wěn)態(tài)能級(jí)分別被晶體中的缺陷所俘獲（激發(fā)），這些缺陷稱為“陷阱”（俘獲電子的缺陷）或“中心”（俘獲空穴的缺陷），統(tǒng)稱為“發(fā)光中心”。處于亞穩(wěn)態(tài)能級(jí)上的電子和空穴在無(wú)外源激發(fā)的環(huán)境下，可以長(zhǎng)時(shí)間滯留在缺陷中。隨著時(shí)間的積累，輻射劑量增加，被缺陷俘獲的受電離激發(fā)的電子和空穴數(shù)量增加，所以在線性劑量范圍內(nèi)磷光體熱釋光的強(qiáng)度與所接受的輻射劑量成正比。

當(dāng)加熱磷光體時(shí)，電子和空穴從發(fā)光中心中逸出，電子和空穴快速?gòu)?fù)合，或游弋經(jīng)導(dǎo)帶后與禁帶中的空穴復(fù)合。在上述幾種復(fù)合過(guò)程中，都以可見光或紫外光的形式釋放能量，這種現(xiàn)象稱為熱釋光。

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熱釋光探測(cè)器的特點(diǎn)

頻率特性好。其他熱探測(cè)器都是在熱平衡后輸出較大，工作時(shí)輻照時(shí)間必須大于熱平衡的時(shí)間常數(shù)（一般為數(shù) ms 至數(shù)十 ms）。而熱釋電探測(cè)器，是在非熱平衡狀態(tài)下工作的，熱平衡時(shí)反而沒有輸出，因此工作時(shí)輻照時(shí)間必須小于熱平衡時(shí)間常數(shù)（一般為 0.1～1s）。也就是說(shuō)它的工作速度不受熱平衡的限制，其頻率的上限主要取決于其等效電容和后續(xù)電路。

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