

北京華測(cè)試驗(yàn)儀器有限公司
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北京市海淀區(qū)
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北京華測(cè)試驗(yàn)儀器有限公司
主營(yíng)產(chǎn)品: 沖擊電壓試驗(yàn)儀, 耐電弧測(cè)試儀, 數(shù)字電荷儀, 表面體積電阻率測(cè)試儀, 納米測(cè)試儀, 海綿壓陷硬度測(cè)試儀, 納米犬分析測(cè)試儀, 多功能精密電池測(cè)試分, 高壓漏電起痕試驗(yàn)機(jī)
高溫介電溫譜儀華測(cè)
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訂貨量(臺(tái))
¥1500.00
≥1
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北京華測(cè)試驗(yàn)儀器有限公司
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高溫介電溫譜儀
一、高溫介電溫普儀概述:
本高頻介電溫譜系統(tǒng)主要用于絕緣材料在不同溫度不同頻率下的電學(xué)性能測(cè)試,系統(tǒng)包含高溫爐膛,阻抗分析儀,微電流表,夾具,測(cè)試軟件于一體,可測(cè)試材料的介電常數(shù),介質(zhì)損耗,阻抗譜Co-Co圖,機(jī)電耦合系數(shù)等,同時(shí)可分析被測(cè)樣品隨溫度,頻率,時(shí)間變化的曲線,測(cè)試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測(cè)試項(xiàng)目要求選購(gòu)。
二、高溫介電溫普儀特點(diǎn):
公司自主研發(fā)有高溫介電測(cè)試夾具、高溫四探針夾具、高溫兩探針夾具,可與高溫測(cè)試平臺(tái)配套組成一套或多套高溫阻抗、介電測(cè)量系統(tǒng)。
溫度范圍從室溫至600℃、800℃、1000℃、1200℃,具備PID控制算法,控溫精度可到士1℃,確保溫度控制不超調(diào)。提供7種不同控溫方式,滿足客戶多種測(cè)試需求。
高溫介電測(cè)試夾具根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)ASTMD150方法,采用平行板電極原理設(shè)計(jì)。電極由上電極、下電極以及保護(hù)電極組成。上下電有良好的同心度和平行度,保護(hù)電極可減少周圍空氣電容的影響,使得測(cè)試數(shù)據(jù)更加準(zhǔn)確可靠。
公司開(kāi)發(fā)的高溫阻抗、介電測(cè)量系統(tǒng)軟件將高溫測(cè)試平臺(tái)、高溫測(cè)試夾具與WK6500系列、Agilent(Keysight)4294A/E4980A/E4990A、TonghuiTH2826/2827/TH2810、Solartron1260LCR測(cè)量設(shè)備無(wú)縫連接,實(shí)現(xiàn)了自動(dòng)完成高溫環(huán)境下的阻抗、介電參數(shù)的測(cè)量與分析。另外,還可根據(jù)用戶提供的其他LCR品牌或型號(hào)完成定制需求。
軟件可根據(jù)實(shí)驗(yàn)方案設(shè)計(jì),通過(guò)測(cè)量C和D值,自動(dòng)完成介電常數(shù)和介電損耗隨頻率、電壓、偏壓、溫度、時(shí)間多維變化的曲線。一次測(cè)量,同時(shí)輸出,測(cè)量效率高、數(shù)據(jù)豐富多樣。
技術(shù)指標(biāo): |
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型號(hào) | HCJD-801 | HCJD-802 | HCJD-803 | HCJD-804 |
溫度范圍 | 室溫~600℃ | 室溫~800℃ | 室溫~1000℃ | 室溫~1200℃ |
溫度精度 | ±1℃ | ±1℃ | ±1℃ | ±1℃ |
測(cè)量精度 | 0.05% | 0.05% | 0.05% | 0.05% |
升溫速率 | 10℃ | 10℃ | 10℃ | 10℃ |
控溫方式 | PID | PID | PID | PID |
頻率范圍 | 20HZ-30MHZ | 20HZ-30MHZ | 20HZ-30MHZ | 20HZ-30MHZ |
電極材料 | 鉑金 | 鉑金 | 鉑金 | 鉑金 |
通道數(shù) | 通道1 | 通道1 | 通道1 | 通道1 |
測(cè)量環(huán)境 | 常溫\真空\(chéng)氣氛 | 常溫\真空\(chéng)氣氛 | 常溫\真空\(chéng)氣氛 | 常溫\真空\(chéng)氣氛 |
通訊方式 | USB | USB | USB | USB |
設(shè)備尺寸 | 600×400×650mm | 600×400×650mm | 600×400×650mm | 600×400×650mm |
■應(yīng)用領(lǐng)域
■新型復(fù)合絕緣擦亮
■高分子絕緣材料
■無(wú)機(jī)絕緣材料
■有機(jī)絕緣材料
■其它絕緣材料等
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三、高溫介電溫普儀功能特點(diǎn):
測(cè)量精度高,智能控溫,測(cè)量頻率寬,抗交流干擾;
介電軟件功能強(qiáng)大,擁有完善的測(cè)量系統(tǒng);
直接得出介電常數(shù)實(shí)部和虛部的比值曲線;
直接得出復(fù)阻抗實(shí)部和虛部比值曲線的 Cole-Cole圖;
直接得出機(jī)械品質(zhì)因數(shù)0m;
集方案、測(cè)量、分析、數(shù)字化顯示于一體集成化設(shè)計(jì);


