毛細(xì)管微焦點(diǎn)鍍層測(cè)厚儀iEDX-150μT X熒光光譜儀 萊雷科技
毛細(xì)管微焦點(diǎn)鍍層測(cè)厚儀iEDX-150μT X熒光光譜儀 萊雷科技
毛細(xì)管微焦點(diǎn)鍍層測(cè)厚儀iEDX-150μT X熒光光譜儀 萊雷科技
毛細(xì)管微焦點(diǎn)鍍層測(cè)厚儀iEDX-150μT X熒光光譜儀 萊雷科技

毛細(xì)管微焦點(diǎn)鍍層測(cè)厚儀iEDX-150μT-X熒光光譜儀-萊雷科技

價(jià)格

訂貨量(臺(tái))

￥120.00

≥1

聯(lián)系人 張歡

掃一掃添加商家

钳钶钴钹钼钹钸钹钵钷钵

發(fā)貨地 廣東省深圳市
進(jìn)入商鋪
掃碼查看

掃碼查看

手機(jī)掃碼 快速查看

在線客服

商品參數(shù)
|
商品介紹
|
聯(lián)系方式
型號(hào) iEDX-150μT
產(chǎn)品 毛細(xì)管微焦點(diǎn)鍍層測(cè)厚儀
濾片材料 Al（鋁）
攝像機(jī)像素 2 million
光管電壓 0 - 50kVp
尺寸 530 X780 X530
在線 24小時(shí)
可售賣地 全國(guó)
其他 見(jiàn)詳情
重量 108kg(NET)
商品介紹
毛細(xì)管微焦點(diǎn)鍍層測(cè)厚儀
毛細(xì)管微焦點(diǎn)鍍層測(cè)厚儀iEDX-150uT是一種高性能高精度X熒光光譜儀,具備極高的性價(jià)比.

概況
iEDX-150uT是一種X射線熒光分析儀器。將測(cè)量用的物體（如：電路板）放在臺(tái)上并開(kāi)始分析，則分析第二熒光X射線是否被分析，以及所含元素的種類，并將其開(kāi)發(fā)制成iEDX-150uT，用于X射線的物體調(diào)查和生成。為適應(yīng)RoHS元素分析的需要，對(duì)其進(jìn)行了早期的定性和定量分析， iEDX-150uT能準(zhǔn)確完成。

軟件特性
1.高性能高精度X熒光光譜儀（XRF）
2.計(jì)算機(jī) / MCA(多通道分析儀)
  2048通道逐次近似計(jì)算法ADC（模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器）
  Multi Ray. 運(yùn)用基本參數(shù)（FP）軟件，通過(guò)簡(jiǎn)單的三步進(jìn)行無(wú)標(biāo)樣標(biāo)定，使用基礎(chǔ)參數(shù)計(jì)算方法，對(duì)樣品進(jìn)行的鍍層厚度分析
3.MTFFP (多層薄膜基本參數(shù)法) 模塊進(jìn)行鍍層厚度
4.勵(lì)磁模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A1
  吸收模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A2
  線性模式進(jìn)行薄鍍層厚度測(cè)量
  相對(duì)（比）模式  無(wú)焦點(diǎn)測(cè)量 DIN 50987.3.3/ ISO 3497 
  多鍍層厚度同時(shí)測(cè)量
  單鍍層應(yīng)用 [如：Cu/ABS等]
  雙鍍層應(yīng)用 [如：Ag/Pd/Zn, Au/Ni/Cu等]
  三鍍層應(yīng)用 [如：Au/Ni-P/Cu/Brass等]
  四鍍層應(yīng)用 [如：Cr/Ni/Cu/Zn/SnPb等]
  合金鍍層應(yīng) [如：Sn-Pb/Cu  ]
5.Multi-Ray. WINDOWS7軟件操作系統(tǒng)
6.完整的統(tǒng)計(jì)函數(shù)均值、 標(biāo)準(zhǔn)差、 低/高讀數(shù)，趨勢(shì)線，Cp 和 Cpk 因素等
7.自動(dòng)移動(dòng)平臺(tái)，用戶使用預(yù)先設(shè)定好的程序進(jìn)行自動(dòng)樣品測(cè)量。測(cè)量點(diǎn)數(shù)量 = 每9999 每個(gè)階段文件。每個(gè)階段的文件有最多 25 個(gè)不同應(yīng)用程序。特殊工具如"線掃描"和"格柵"。每個(gè)階段文件包含完全統(tǒng)計(jì)軟件包。包括自動(dòng)對(duì)焦功能、方便加載函數(shù)、瞄準(zhǔn)樣品和拍攝、激光定位和自動(dòng)多點(diǎn)測(cè)量功能。

規(guī)格

組成

名稱

參數(shù)

備注

 

 

 

X射線源

光管電壓

0 - 50kVp

 

光管電流

0 - 1mA

 

靶材

Mo（鉬）

 

光斑

65-90um

 

射線窗口

Be（鈹）

 

 

 

 

X射線探測(cè)器

探測(cè)器類型

SDD探測(cè)器

 

Cooling

Peltier

 

分辨率

125eV @5.9keV

 

探測(cè)范圍

70mm2

 

探測(cè)器窗口

Be 0.5mil(12.5um)

 

濾片

材料

Al（鋁）

 

 

準(zhǔn)直器

直徑

35um

 

材料

/

 

 

攝像機(jī)

像素

2 million

 

連接方式

USB

 

光學(xué)成像

實(shí)際尺寸軟件調(diào)節(jié)

 

 

機(jī)體

尺寸

530 X780 X530

寬 x長(zhǎng) x高

重量

108kg(NET)

 

控制系統(tǒng)

電腦

DELL

 

接口

USB接口

 

 

軟件

操作系統(tǒng)

 

MultiRay

 

自主制造

分析

 

電源

電壓范圍

195 – 265VAC

自由電壓

市電

600W (800W max)


產(chǎn)品應(yīng)用：

毛細(xì)管微焦點(diǎn)鍍層測(cè)厚儀 iEDX-150μT，具備極高的性價(jià)比。產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于特殊鍍層厚度檢測(cè)：化學(xué)鍍鎳鈀浸金、鈀、鎳、銠等；汽車零部件、線路板（PCB）鍍層厚度檢測(cè)，如：電容；單層、多層、合金鍍層檢測(cè)；還可用于礦山、化工、金銀首飾、冶煉及金屬加工、機(jī)械與電子制造等行業(yè)，對(duì)企業(yè)產(chǎn)品品質(zhì)檢測(cè)、成本控制、生產(chǎn)效率的提高有著極高的經(jīng)濟(jì)價(jià)值。


聯(lián)系方式
公司名稱 深圳市萊雷科技發(fā)展有限公司
聯(lián)系賣家 張歡 （QQ：1791756023）
手機(jī) 钳钶钴钹钼钹钸钹钵钷钵
地址 廣東省深圳市
聯(lián)系二維碼