MarSurf XCR 20輪廓儀和粗糙度儀測量一體機

  組合“輪廓和粗糙度“測量任務(wù)使用的測量站 - MarSurf XCR 20

 

描述

組合“輪廓和粗糙度“測量任務(wù)使用的測量站 - MarSurf XCR 20MarSurf XCR 20 組合測量站是輪廓和粗糙度測量的理想選擇。

此測量站包含 PCV / CD 120 驅(qū)動單元和 GD 25 粗糙度驅(qū)動單元和 MFW 250 B 測頭系統(tǒng)。

兩個驅(qū)動單元均使用聯(lián)合支架安裝在測量立柱 (ST 500/ST 750)上，可用于粗糙度 (GD 25) 或輪廓（PCV 或 CD 120）測量。

結(jié)合 XCR 20 測量和評定軟件，此測量站配置可用作通用型測量站測量粗糙度深度和輪廓。

主要優(yōu)勢有：

一個測量站適合兩種測量任務(wù)

* 使用經(jīng)過檢驗和測試的 PCV 200 輪廓驅(qū)動和測頭系統(tǒng)（如上文所述）。

* 使用*** GD 25 和 MFW 250 B 測頭和高分辨率測量系統(tǒng)測量粗糙度

另外，此聯(lián)合測量站還可改裝為 XC 20 配置。換句話說，如有需要，您可使用 PCV / CD 120 驅(qū)動單元方便地將 XC 20 測量站升級為聯(lián)合測量站。只需添加 GD 25 驅(qū)動單元和聯(lián)合支架。軟件需要從 XC 20 升級為 XCR 20。

 

技術(shù)參數(shù):

接觸速度(Z方向)	0.1-1mm/s
測桿長度	175mm，350mm
測量速度（文本）	0.2mm/s至4mm/s
針尖半徑	25
掃描長度末尾（X方向）	200mm
分辨率	Z方向，相對探針針頭： 0.38μm（350mm測桿）/0.19μm（175mm測桿） Z方向，相對測量系統(tǒng)：0.04μm
掃描長度開始（X方向）	0.2mm
取樣角	在平滑表面上，取決于偏差：后緣高至88°，前緣高至77°
定位速度（文本）	X方向返回速度：0.2至8mm/s Z方向：0.2至10mm/s
導塊偏差	＜1μm（200mm以上）
測量原則	探針法
輸入	R測頭，MFW250 光學測頭Focodyn*、LS 1*、LS 10* （*僅結(jié)合PGK或GD 120 CNC驅(qū)動裝置）
測量范圍mm	（in Z）50mm MFW 250：±25μm，±250μm，（±750μm）；±1000μm,±10000μm（±30000μm）
掃描長度（文本）	自動；0.56mm；1.75mm；5.6mm；17.5mm，56mm， （.022/.070/.224/.700/2.240英寸） 測量至擋塊，可變
采樣長度數(shù)量符合ISO/JIS	1至50（默認：5）
測量力(N)	1mN至120mN左右（可在MarSurf XC 20中設(shè)置）

 

測量站配件

標準

MarSurf XCR 20

包含 Midrange 標準控制單元、 XCR 20 軟件、 Mahr 許可密鑰

MarWin PC*

TFT 24“ 顯示器

MCP 21 手動控制面板

GD 25 驅(qū)動單元

MFW 250 B 測頭系統(tǒng)套件

PCV 200 驅(qū)動單元

標準輪廓校準套件

ST-500 測量立柱

GD 25 和 PCV 聯(lián)合支架

CT 300 XY 工作臺

 

可選：

PPS 平口虎鉗