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*深圳市扎克貿(mào)易有限公司

*張明軍

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顆粒抽吸系統(tǒng)

用于抽吸大面積干燥粘附顆粒的移動(dòng)式完整系統(tǒng)。

使用抽吸抽吸技術(shù)的新型非破壞性移動(dòng)測(cè)試方法可以對(duì)大型組件或直接在過程環(huán)境中進(jìn)行經(jīng)濟(jì)、快速和面向應(yīng)用的顆粒抽吸。抽吸抽吸過程的
確定和鑒定類似于 VDA 19.1 / ISO 16232 中描述的鑒定研究，通過衰減測(cè)量，從而根據(jù) VDA 19.1 得出以下顯微分析的可重復(fù)和可比較的結(jié)果。與濕式萃?。ㄈ?VDA 19.1 / ISO 16232 中所述）相比，這種創(chuàng)新的萃取工藝在各種應(yīng)用中具有決定性的優(yōu)勢(shì)：

• 用干燥空氣萃取進(jìn)行無損檢測(cè)
• 與濕提取相比，大型組件的時(shí)間和物流支出更少
• 使用自給自足的移動(dòng)系統(tǒng)直接在現(xiàn)場(chǎng)對(duì)組件或在過程環(huán)境中進(jìn)行測(cè)試
• 通過快速顆粒回收避免長(zhǎng)時(shí)間的過程中斷
• 在分析過濾器上收集顆粒后直接進(jìn)行顯微評(píng)估
• 全區(qū)域測(cè)試，包括工藝環(huán)境中的孔等（與顆粒印章相比）
• 無需任何特殊的額外工作（例如掩蔽）即可對(duì)單獨(dú)的控制區(qū)域進(jìn)行完全單獨(dú)的測(cè)試
• 根據(jù) VDA 19.1 通過微觀評(píng)估選項(xiàng)獲得合格、有意義的分析結(jié)果
• 在其預(yù)期功能或液體介質(zhì)中不與液體介質(zhì)接觸的組件的應(yīng)用相關(guān)測(cè)試可能會(huì)從組件材料中分離出不相關(guān)的雜質(zhì)并偽造結(jié)果。
• 由于無需液體萃取介質(zhì)和介質(zhì)過濾，因此運(yùn)行成本低

應(yīng)用領(lǐng)域

使用抽吸進(jìn)行清潔度測(cè)試

• 具有干燥粘附顆粒的大面積部件
• 在物流環(huán)境中，例如負(fù)載載體
• 非濕可提取組件或材料，例如電子組件、電纜線束、Styrodur 容器等。
• 在生產(chǎn)過程中，例如裝配系統(tǒng)中的工件載體、過程環(huán)境等。
• 用于驗(yàn)證生產(chǎn)過程中的清潔過程（吸入）
• 在各個(gè)組裝步驟之間檢查制造過程中的組件清潔度

功能

通過從大表面或工件載體或工藝環(huán)境上的特定控制區(qū)域抽吸干燥的粘附顆粒來進(jìn)行顆粒提取。顆粒通過吸嘴、刷嘴或表面噴嘴從表面松散、吸出并有針對(duì)性地收集或分離。該系統(tǒng)支持兩種顆粒分離方法：

通過旋風(fēng)裝置抽吸

提取的顆粒通過旋風(fēng)裝置收集在干凈的實(shí)驗(yàn)室瓶中。此外，過濾器單元通過特殊的分析過濾器 (> 5 μm) 起到過載保護(hù)的作用，以防止顆粒負(fù)載過大。對(duì)于后續(xù)分析，實(shí)驗(yàn)室瓶中收集的顆粒通過二次萃?。ㄊ褂盟越橘|(zhì)）轉(zhuǎn)移到分析過濾器，然后進(jìn)行顯微和重量分析。

通過過濾裝置抽吸

顆粒直接通過過濾器單元被吸走，并通過特殊的分析過濾器 (> 5 μm) 從氣流中分離出來。然后可以在抽吸和隨后的懸浮之后立即對(duì)分析過濾器進(jìn)行顯微分析。使用浮動(dòng)裝置，可以為顯微分析準(zhǔn)備過濾器覆蓋范圍。

濕法清洗——空白值簡(jiǎn)單安全

分析之間需要進(jìn)行空白值測(cè)量，由于顆粒提取系統(tǒng)的進(jìn)一步發(fā)展，這不僅變得更容易而且更可靠。到目前為止，所有與測(cè)試相關(guān)的組件，例如軟管、旋風(fēng)分離器和過濾裝置，都必須手動(dòng)清潔，但現(xiàn)在可以使用濕式清潔解決方案。整個(gè)顆粒提取系統(tǒng)用清潔溶液以湍流方式?jīng)_洗，然后用過濾空氣流干燥。

抽吸操作 - 應(yīng)用視頻

可在此處找到有關(guān)顆粒抽吸抽吸系統(tǒng) C | PS2 的結(jié)構(gòu)、空白值、各種使用和清潔的詳細(xì)應(yīng)用視頻： 

• C | PS2 - 應(yīng)用視頻

附加信息

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• 顆粒抽吸系統(tǒng) C | PS21 MB

• C | PS2 - 檢查和維護(hù)1 MB
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