斜長石是長石礦物中的一個(gè)系列，包括鈉長石、奧長石、中長石、拉長石、培長石和鈣長石。斜長石中的大多數(shù)品種會(huì)在表面產(chǎn)生細(xì)而且平行的條紋，有的還會(huì)有藍(lán)或綠色的暈彩發(fā)生，這是由于它們的雙晶結(jié)構(gòu)引起。斜長石可用來制造玻璃和陶瓷。*常見的斜長石是奧長石，少見的是培長石。

斜長石屬于NaAlSi3O8（Ab）-CaAl2Si2O8（An）類質(zhì)同象系列的長石礦物的總稱，共分為6個(gè)礦物種：鈉長石（An0-10Ab100-90）、奧長石（An10-30Ab90-70）、中長石（An30-50Ab70-50）、拉長石（An50-70A-30）、倍長石（An70-90Ab30-10）和鈣長石（An90-100Ab10-0）。巖石學(xué)中將前二者統(tǒng)稱為酸性斜長石，而將后三者統(tǒng)稱為基性斜長石。晶體屬三斜晶系的架狀結(jié)構(gòu)硅酸鹽礦物，多為柱狀或板狀，常見聚片雙晶，在晶面或解理面上可見細(xì)而平行的雙晶紋。白至灰白色，有些呈微淺藍(lán)或淺綠色，玻璃光澤，半透明。兩組解理（一組完全、一組中等）相交成86°24′，故得名斜長石。摩氏硬度6-6.5，比重2.6-2.76。

斜長石廣泛分布于巖漿巖、變質(zhì)巖和沉積碎屑巖中。斜長石是陶瓷業(yè)和玻璃業(yè)的主要原料，色澤美麗者可作寶玉石材料，如日光石。

1、X－光衍射（XRD）

檢測含量較多的礦物，比如橄欖石、斜長石等，地礦部門，高等院校都可以做，對于含量較少的礦物可能分析不出來，需要用電子探針，而這些較少的礦物僅僅用于科學(xué)研究探索并不影響的鑒定分析，因此，可以不做電子探針。

XRD的優(yōu)點(diǎn)是價(jià)格低、可以測出含碳的礦物（電子探針無法測碳，由于要在樣品表面噴碳，無法區(qū)分是樣品原有的還是后噴的）；缺點(diǎn)是含量較少的礦物分析不出來，有的還需要借助于元素組成才能定性。

2、X－熒光光譜（XRF）

檢測中的常量元素（含量約高于0.01％），如硅Si、鋁Al、鐵Fe、鎂Mg等，XRF的檢測報(bào)告一般是以氧化物的形式出現(xiàn)，如上述四種元素常表示為SiO2、Al2O3、Fe2O3、MgO等，你也可以要求分析人員以元素的形式給你出報(bào)告，如果只做XRF分析而不做XRD，地礦部門，高等院?？梢宰?。

這兩項(xiàng)分析都需要200目以上的粉末樣品，需要在瑪瑙研缽中處理，自己可能處理不了。這兩項(xiàng)分析完以后，對于那些不是的樣品基本可以確定，分析到此結(jié)束。對于那些結(jié)果靠近范圍的樣品，還需要進(jìn)行下面的分析：

3、等離子體發(fā)射－質(zhì)譜（ICP－MS）

檢測中的微量元素含量，實(shí)際上ICP－MS能檢測所有的常量元素和微量元素，就是說，可以不用第2步的XRF，這樣設(shè)計(jì)步驟是為了節(jié)省。 因?yàn)镮CP－MS價(jià)格較貴，常量元素和微量元素都測定價(jià)格更貴。

這3項(xiàng)分析完以后，是否是基本可以確定，如果要更確切地得到，分析第4項(xiàng)。

4、氧同位測定

如果要檢測的年齡或者檢測前太陽顆粒，還可以做銣鍶同位素、惰性氣體同位素、氮同位素、碳同位素等。

通過對析得到的數(shù)據(jù)，就可以確認(rèn)是否是，國外的分析步驟也是相似的。當(dāng)然分析的方法不一定一樣，但結(jié)果是相似的。

5、光片制作

如果想觀察樣品內(nèi)部的顯微結(jié)構(gòu)，需要制作光片，地質(zhì)科研單位都可以做。

制作方法是：先將樣品的一面拋光，用無水清洗樣品拋光面和載波片，用樹膠將樣片和載波片粘在一起固化，然后在玻璃板上撒碳化硅或碳化硼砂研磨樣品的另一面，直到巖片低于0.1mm透光為止。

說說樣品。除了電子探針和光片分析外，所有的分析都不需要原樣，只提給粉末（約3～5克）即可，而電子探針和光片分析又不是鑒定中所必需的，換言之，大家可以向所有的檢測部門提供粉末樣品。