漿巖常規(guī)九項(xiàng)檢測燒失減量測試鋁含量化驗(yàn)
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應(yīng)用 材料質(zhì)量檢驗(yàn)
需要檢測 驗(yàn)收
報(bào)告發(fā)放 紙質(zhì)版和標(biāo)簽
是否可加急 根據(jù)情況
檢測類型 委托檢驗(yàn)
檢測周期 根據(jù)協(xié)議
服務(wù)方式 一對(duì)一服務(wù)
商品介紹

正長石的化學(xué)組成是KAlSi3O8,晶體屬單斜晶系的架狀結(jié)構(gòu)硅酸鹽礦物。正長石是鉀長石的亞穩(wěn)相變體,鉀長石和鈉長石不完全類質(zhì)同象系列。短柱狀或厚板狀晶體,常見卡斯巴雙晶、巴溫諾雙晶和曼尼巴雙晶,體為致密塊狀。肉紅或淺黃、淺黃白色,玻璃光澤,解理面珍珠光澤,半透明。兩組解理(一組完全、一組中等)相交成90°,由此得正長石之名。摩氏硬度6,比重2.56-2.58。900℃以上生成的無色透明長石稱透長石。

正長石廣泛分布于酸性和堿性成分的巖漿巖、火山碎屑巖中,在鉀長片麻巖和花崗混合巖以及長石砂巖和硬砂巖中也有分布。正長石是陶瓷業(yè)和玻璃業(yè)的主要原料,也可用于制取鉀肥。

斜長石:

斜長石是長石礦物中的一個(gè)系列, 包括鈉長石、奧長石、中長石、拉長石、培長石和鈣長石。斜長石中的大多數(shù)品種會(huì)在表面產(chǎn)生細(xì)而且平行的條紋,有的還會(huì)有藍(lán)或綠色的暈彩發(fā)生,這是由于它們的雙晶結(jié)構(gòu)引起。斜長石可用來制造玻璃和陶瓷。*常見的斜長石是奧長石,*少見的是培長石。

斜長石屬于NaAlSi3O8(Ab)-CaAl2Si2O8(An)類質(zhì)同象系列的長石礦物的總稱,共分為6個(gè)礦物種:鈉長石(An0-10Ab100-90)、奧長石(An10-30Ab90-70)、中長石(An30-50Ab70-50)、拉長石(An50-70A-30)、倍長石(An70-90Ab30-10)和鈣長石(An90-100Ab10-0)。巖石學(xué)中將前二者統(tǒng)稱為酸性斜長石,而將后三者統(tǒng)稱為基性斜長石。晶體屬三斜晶系的架狀結(jié)構(gòu)硅酸鹽礦物,多為柱狀或板狀,常見聚片雙晶,在晶面或解理面上可見細(xì)而平行的雙晶紋。白至灰白色,有些呈微淺藍(lán)或淺綠色,玻璃光澤,半透明。兩組解理(一組完全、一組中等)相交成86°24′,故得名斜長石。摩氏硬度6-6.5,比重2.6-2.76。

斜長石廣泛分布于巖漿巖、變質(zhì)巖和沉積碎屑巖中。斜長石是陶瓷業(yè)和玻璃業(yè)的主要原料,色澤美麗者可作寶玉石材料,如日光石。

1、X-光衍射(XRD)

檢測含量較多的礦物,比如橄欖石、斜長石等,地礦部門,高等院校都可以做,對(duì)于含量較少的礦物可能分析不出來,需要用電子探針,而這些較少的礦物僅僅用于科學(xué)研究探索并不影響的鑒定分析,因此,可以不做電子探針。

XRD的優(yōu)點(diǎn)是價(jià)格低、可以測出含碳的礦物(電子探針無法測碳,由于要在樣品表面噴碳,無法區(qū)分是樣品原有的還是后噴的);缺點(diǎn)是含量較少的礦物分析不出來,有的還需要借助于元素組成才能定性。

2、X-熒光光譜(XRF)

檢測中的常量元素(含量約高于0.01%),如硅Si、鋁Al、鐵Fe、鎂Mg等,XRF的檢測報(bào)告一般是以氧化物的形式出現(xiàn),如上述四種元素常表示為SiO2、Al2O3、Fe2O3、MgO等,你也可以要求分析人員以元素的形式給你出報(bào)告,如果只做XRF分析而不做XRD,地礦部門,高等院??梢宰?。

這兩項(xiàng)分析都需要200目以上的粉末樣品,需要在瑪瑙研缽中處理,自己可能處理不了。這兩項(xiàng)分析完以后,對(duì)于那些不是的樣品基本可以確定,分析到此結(jié)束。對(duì)于那些結(jié)果靠近范圍的樣品,還需要進(jìn)行下面的分析:

3、等離子體發(fā)射-質(zhì)譜(ICP-MS)

檢測中的微量元素含量,實(shí)際上ICP-MS能檢測所有的常量元素和微量元素,就是說,可以不用第2步的XRF,這樣設(shè)計(jì)步驟是為了節(jié)省。 因?yàn)镮CP-MS價(jià)格較貴,常量元素和微量元素都測定價(jià)格更貴。

這3項(xiàng)分析完以后,是否是基本可以確定,如果要更確切地得到,分析第4項(xiàng)。

4、氧同位測定

如果要檢測的年齡或者檢測前太陽顆粒,還可以做銣鍶同位素、惰性氣體同位素、氮同位素、碳同位素等。

通過對(duì)析得到的數(shù)據(jù),就可以確認(rèn)是否是,國外的分析步驟也是相似的。當(dāng)然分析的方法不一定一樣,但結(jié)果是相似的。

5、光片制作

如果想觀察樣品內(nèi)部的顯微結(jié)構(gòu),需要制作光片,地質(zhì)科研單位都可以做。

制作方法是:先將樣品的一面拋光,用無水清洗樣品拋光面和載波片,用樹膠將樣片和載波片粘在一起固化,然后在玻璃板上撒碳化硅或碳化硼砂研磨樣品的另一面,直到巖片低于0.1mm透光為止。

說說樣品。除了電子探針和光片分析外,所有的分析都不需要原樣,只提給粉末(約3~5克)即可,而電子探針和光片分析又不是鑒定中所必需的,換言之,大家可以向所有的檢測部門提供粉末樣品。

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