德國布魯克DektakXT臺階儀（探針式表面輪廓儀）可以提供更高的重復(fù)性和分辨率，測量重復(fù)性可以到5?。臺階儀這項性能的到了過去四十年Dektak技術(shù)，更加鞏固了其行業(yè)。不論應(yīng)用于研發(fā)還是產(chǎn)品測量，通過在研究工作中的廣泛使用，DektakXT能夠做到功能更強(qiáng)大，操作更簡易，檢測過程和數(shù)據(jù)采集更完善。第十代DektakXT臺階儀（探針式表面輪廓儀）的技術(shù)，使納米尺度的表面輪廓測量成為可能，從而可以廣泛的應(yīng)用于微電子器件，半導(dǎo)體，電池，高亮度發(fā)光二管的研發(fā)以及材料科學(xué)領(lǐng)域。

    臺階儀DektakXT能實現(xiàn)：

    1、 使用溫度條件：10-30℃；

    2、無可匹敵的性能，臺階高度重現(xiàn)性低于4埃

    3、Single-arch設(shè)計提供掃描穩(wěn)定性

    4、先進(jìn)的“智能電子器件”設(shè)立了新低噪音基準(zhǔn)

    5、新硬件配置使數(shù)據(jù)采集時間縮短

    6、64-bit，Vision64同步數(shù)據(jù)處理軟件，使數(shù)據(jù)分析速度高了10倍

    7、頻率，操作簡易

    8、直觀的Vision64用戶界面，操作簡易

    9、針尖自動校準(zhǔn)系統(tǒng)

    10、布魯克（Bruker）以實惠的配置實現(xiàn)高的性能

    11、單傳感器設(shè)計，提供單一平面上低作用和寬掃描范圍