奧林巴斯 超聲測厚儀測頭 探傷儀探頭

公司簡介

Olympus公司是一家專營光學、電子及精密工程產(chǎn)品，涉及工業(yè)、醫(yī)療及消費市場的跨國公司。Olympus生產(chǎn)的儀器有助于保證產(chǎn)品質(zhì)量，提高基礎(chǔ)設(shè)施及設(shè)備的安全性。Olympus ND的生產(chǎn)創(chuàng)新型無損檢測和測量儀器的企業(yè)。其生產(chǎn)的儀器應(yīng)用于包括航空航天、電力、石油化工、民用基礎(chǔ)設(shè)施、汽車以及消費產(chǎn)品在內(nèi)的各種工業(yè)和研究領(lǐng)域。其掌握的前沿檢測技術(shù)包括超聲、超聲相控陣、渦流、渦流陣列、顯微鏡檢查、光學計量，以及X光熒光分析。其生產(chǎn)的產(chǎn)品包括探傷儀、厚儀、工業(yè)NDT系統(tǒng)及掃查器、視頻鏡、管道鏡、高速視頻攝像機、顯微鏡、便攜式X光分析儀、探頭及各種輔助設(shè)備。Olympus NDT公司的總部設(shè)在美國馬薩諸塞州的沃爾瑟姆，并在范圍內(nèi)的各大主要工業(yè)地區(qū)都設(shè)有銷售和服務(wù)中心。若需要在產(chǎn)品的應(yīng)用及服務(wù)方面得到幫助，請咨詢我們。

Panametrics ? 超聲探頭

我們提供的各種頻率、晶片直徑及連接器類型的Panametrics超聲探頭有5000種以上。擁有40多年探頭研制經(jīng)驗的Olympus

NDT已經(jīng)開發(fā)了用于缺陷探測、焊縫檢測、厚度測量及材料分析等特殊應(yīng)用的各種各樣的定制探頭。

接觸式探頭：

接觸式探頭是一個通?？缮煽v波且與被測樣件直接接觸的單晶探頭。所有接觸式探頭都裝有WC-5防磨面，不僅具防磨效果，可以延長探頭壽命，還可以提供適合于大多數(shù)金屬的極佳的聲阻抗。

接觸式探頭是一種可與被檢工件直接接觸的單晶縱波探頭。

優(yōu)勢

? WC-5防磨板增加了這種探頭的耐用性、抗裂性及防磨性。

? 所有這類探頭都可用于檢測面粗糙的工業(yè)部件。

? 具有與大多數(shù)金屬匹配的近似聲阻抗。

? 可用于檢測多種材料

應(yīng)用

? 垂直聲束缺陷探測和厚度測量。

? 分層缺陷的探測和定量。

? 材料特性評價和聲速測量。? 檢測平板、坯材、棒材、鍛件、鑄件、擠壓成形件及多種其它金屬與非金屬部件。

? 可在50°C（122°F）的高溫下持

指尖接觸式

? 大于6毫米（0.25英寸）的探頭帶有凸節(jié)，便于抓取。

?303不銹鋼外殼。

? 薄外形的特點便于檢測難于接觸到的表面。

? 根據(jù)客戶的要求，可免費提供用于方便抓取探頭的可拆裝塑料套筒。

6毫米（0.25英寸）套筒的工件編號為CAP4；3毫米

（0.125英寸）套筒的工件編號為CAP8。

? 標準配置為直角連接器，并適用于Microdot連接器。

奧林巴斯超聲探傷儀測頭M1054

介紹

接觸式探頭是一種可與被檢工件直接接觸的單晶縱波探頭。

優(yōu)勢

? 專WC-5防磨板增加了這種探頭的耐用性、抗裂性及防磨性。
? 所有這類探頭都可用于檢測面粗糙的工業(yè)部件。
? 具有與大多數(shù)金屬匹配的近似聲阻抗。
? 可用于檢測多種材料。

應(yīng)用

? 垂直聲束缺陷探測和厚度測量。
? 分層缺陷的探測和定量。
? 材料特性評價和聲速測量。
? 檢測平板、坯材、棒材、鍛件、鑄件、擠壓成形件及多種其它金屬與非金屬部件。
? 可在50°C（122°F）的高溫下持續(xù)使用。

磁性固定接觸式

? 繞探頭外殼的磁性環(huán)可將探頭穩(wěn)固在鐵性材料上。

? 具有與Videoscan系列探頭相似的寬帶性能

注意：以上所有磁性固定接觸式探頭都帶有平直Microdot 連接器。

高頻探頭：

高頻探頭包括延遲塊探頭和聚焦水浸探頭。這些探頭的頻率范圍在20 MHz至225

MHz之間。高頻延遲塊探頭可以對厚度薄如0.010毫米（0.0004英寸）的材料進行厚度測量（取決于材料、探頭、表面條件、溫度和設(shè)置）。高頻聚焦水浸探頭是對硅制微型芯片等具有低衰減性的薄材料進行高分辨率成像和缺陷探測應(yīng)用的理想探頭。

高頻探頭為單晶接觸式或水浸式探頭，可產(chǎn)生等于或高于20 MHz的頻率。

優(yōu)勢

? 強阻尼寬帶設(shè)計提供了極佳的時間分辨率。

? 短波長可獲得極強的缺陷分辨率能力。

? 直徑極小的聲束也可以聚焦。

? 頻率范圍為20 MHz到225 MHz。

應(yīng)用

? 高分辨率缺陷探測，如：微孔隙檢測或微裂紋檢測。

? 表面斷裂或不平整性的C掃描成像。

? 可測量薄如0.010毫米（0.0004英寸）材料的厚度

? 可對陶瓷及高級工程材料進行檢測。

? 可對材料進行分析。

*厚度范圍取決于材料、探頭、表面條件、溫度及所選的的設(shè)置。高頻接觸式

? 使用直接接觸檢測法時，利用熔融石英延遲塊可進行缺陷評價、材料分析或厚度測量。

?3種不同延遲塊的配置（BA、BB、BC）可形成多種延遲塊回波的組合。

? 其標準連接器類型為直角Microdot（RM）。