能量色散X射線熒光光譜儀EDX720多種功能和選項可滿足 EDX (EDXRF) 分析中的各種需求。能量色散 X 射線熒光 (EDX) 光譜儀是通過測量元素重新發(fā)射的特征 X 射線對構(gòu)成材料的元素進行定性和定量分析的儀器. EDX 是非破壞性的，因此可用于各種應(yīng)用，如固體、粉末、液體和晶片。  

  

大力支持樹脂中有害金屬的控制  

最近，痕量分析和快速分析越來越重視符合 RoHS 和 ELV 等環(huán)境法規(guī)。島津 EDX 系列以更高的靈敏度和重復(fù)性幫助您控制樹脂中的有害金屬，以符合這些規(guī)定。該EDX系列是基于島津在該領(lǐng)域的杰出經(jīng)驗而開發(fā)的。

測量方法：能量分散 

測量對象：液體和粉末 

測量范圍：22 (Ti) 至 92 (U)

準直器：1、3、5、10 毫米

試樣幾何形狀：最大。300 毫米直徑 x 高 150 毫米

X射線管：Rh靶 

電壓：5 至 50 kV

電流：1 至 1000 μA

冷卻方式：風(fēng)冷

探測器 

型號：Si（Li）半導(dǎo)體探測器 

液化氮：提供，僅在測量時提供 

液化氮消耗量：約。1升/天

測量介質(zhì)：大氣 

電源：AC 100 V 50/60 Hz

尺寸：寬 580 x 深 650 x 高 420 毫米

重量：約。80 公斤