X熒光光譜儀在無(wú)損檢測(cè)方面，具有其他剖析技能無(wú)法比較的長(zhǎng)處，應(yīng)用X射線光譜儀掃描辦法探測(cè)土壤表層下面的是元素是X射線無(wú)損檢側(cè)技能的一個(gè)主要使用范疇。
X熒光光譜儀優(yōu)點(diǎn)：
1、分析速度高。測(cè)定用時(shí)與測(cè)定精密度有關(guān)，但一般都很短，2～5分鐘*可以測(cè)完樣品中的全部待測(cè)元素；
2、X射線熒光光譜跟樣品的化學(xué)結(jié)合狀態(tài)無(wú)關(guān)，而且跟固體、粉末、液體及晶質(zhì)、非晶質(zhì)等物質(zhì)的狀態(tài)也基本上沒(méi)有關(guān)系。(氣體密封在容器內(nèi)也可分析)但是在高分辨率的精密測(cè)定中卻可看到有波長(zhǎng)變化等現(xiàn)象。特別是在超軟X射線范圍內(nèi)，這種效應(yīng)更為顯著。波長(zhǎng)變化用于化學(xué)位的測(cè)定；
3、非破壞分析。在測(cè)定中不會(huì)引起化學(xué)狀態(tài)的改變，也不會(huì)出現(xiàn)試樣飛散現(xiàn)象。同一試樣可反復(fù)多次測(cè)量，結(jié)果重現(xiàn)性好；
4、X射線熒光分析是一種物理分析方法，所以對(duì)在化學(xué)性質(zhì)上屬同一族的元素也能進(jìn)行分析；
5、分析精密度高；
6、制樣簡(jiǎn)單，固體、粉末、液體樣品等都可以進(jìn)行分析。

X熒光光譜儀的使用注意事項(xiàng)： 
1、 為了保持儀器的良好外觀，需經(jīng)常對(duì)儀器表面做清潔工作，用軟布擦拭灰塵；
2、 向樣品腔內(nèi)放樣品時(shí)，一定要注意清潔，不可使樣品塵粒掉入其中，否則會(huì)污染X光管和探測(cè)器窗口，造成測(cè)量失準(zhǔn)和探頭損壞；
3、 樣品蓋需要用酒精棉球做好清潔工作； 
4、為使儀器能長(zhǎng)期工作正常，需定期對(duì)各項(xiàng)參數(shù)進(jìn)行測(cè)試，并進(jìn)行調(diào)整；
5、 儀器只允許經(jīng)培訓(xùn)的人員才能操作，其他人員一律不能操作；
6、 使用、保存和搬動(dòng)中，要特別小心，以免磕碰、損傷外表、損壞內(nèi)部線路。

X熒光光譜儀根據(jù)有手持和臺(tái)式兩種，所采用的都是X熒光光譜儀的原理。X熒光光譜儀由激發(fā)源和探測(cè)系統(tǒng)構(gòu)成，根據(jù)各元素的特征X射線的強(qiáng)度，也可以獲得各元素的含量信息，X熒光光譜儀隨著分光、探測(cè)系統(tǒng)及X光管等的不斷改善和電子計(jì)算機(jī)的應(yīng)用，而得到迅速的推廣和發(fā)展?？梢灶A(yù)料，對(duì)新技術(shù)、新方法的探索，還會(huì)不斷促進(jìn)XRF熒光光譜儀器的更新發(fā)展。

X熒光光譜儀的優(yōu)勢(shì)：
1、制樣簡(jiǎn)單：通常情況下是物理制樣。試樣經(jīng)過(guò)簡(jiǎn)單的破碎、研磨成粉末壓片或熔融制成；
2、分析范圍廣：理論上從元素Be到92號(hào)元素鈾均可進(jìn)行分析；
3、測(cè)量范圍寬：從0.001%到均可進(jìn)行分析。
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