BZ-STD-C介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀
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上海標卓科學(xué)儀器有限公司

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品牌 標卓
產(chǎn)地 上海
型號 BZ-STD-C
是否進口
適用范圍 BZ-STD-C介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀
可銷售地 全國
商品介紹

BZ-STD-C介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀

介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀STD-C,可直接顯示介電常數(shù)(ε)和介質(zhì)損耗(tanδ).檢測固體材料。
STD-C介電常數(shù)測試儀
STD-C高頻絕緣材料介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試系統(tǒng)由測試裝置(夾具)、高頻Q表、數(shù)據(jù)采集和tanδ自動測量控件(裝入STD-C的軟件模塊)、及電感器組成。依據(jù)國標GB/T 5594.4-2015 電子元器件結(jié)構(gòu)陶瓷材料性能測試方法 第4部分:介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角正切值測試方法、GB/T 1693-2007 硫化橡膠介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角正切值的測定方法.GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、美標ASTM D150以及電工委員會IEC60250的規(guī)定設(shè)計制作。系統(tǒng)提供了絕緣材料的高頻介質(zhì)損耗角正切值(tanδ)和介電常數(shù)(ε)自動測量的解決方案。本儀器中測試裝置是由平板電容器組成,平板電容器一般用來夾被測樣品,配用Q表作為指示儀器。絕緣材料的損耗角正切值是通過被測樣品放入平板電容器和不放樣品的Q值變化和厚度的刻度讀數(shù)通過公式計算得到。使用STD-C數(shù)字Q表具有自動計算介電常數(shù)(ε)和介質(zhì)損耗(tanδ)。
STD-C介電常數(shù)/介質(zhì)損耗測試系統(tǒng)系統(tǒng)組成:
主機:高頻Q表
功能名稱: STD-C
信號源范圍DDS數(shù)字合成信號 100KHZ-160MHz
信號源頻率覆蓋比 16000:1
信號源頻率精度 6位有效數(shù) 3×10-5 ±1個字
采樣精度 12BIT
高精度的AD采樣,保證了Q值的穩(wěn)定性,以及低介質(zhì)損耗材料測試時候的穩(wěn)定性
Q測量范圍 1-1000自動/手動量程
Q分辨率 4位有效數(shù),分辨率0.1
Q測量工作誤差 <5%
電感測量范圍 4位有效數(shù),分辨率0.1nH 1nH-140mH分辨率0.1nH
電感測量誤差 <3%
調(diào)諧電容 主電容17-240pF
(一體鍍銀成型,精度高)
電容自動搜索 是(帶步進馬達)
電容直接測量范圍 1pF~25nF
調(diào)諧電容誤差
分辨率 ±1 pF或<1%
0.1pF
諧振點搜索 自動掃描
Q合格預(yù)置范圍 5-1000聲光提示
Q量程切換 自動/手動
LCD顯示參數(shù) F,L,C,Q,Lt,Ct, tn, Σr
自身殘余電感和測試引線電感的
自動扣除功能() 有
大電容值直接測量顯示功能() 測量值可達25nF
介質(zhì)損耗系數(shù) 精度 萬分之一
介電常數(shù) 精度 千分之一
材料測試厚度 0.1mm-10mm
介電常數(shù) LCD直接顯示
介質(zhì)損耗系數(shù) LCD直接顯示
介電常數(shù)測試頻率范圍 100KHz-100MHz
介電常數(shù)εr和介質(zhì)損耗因數(shù)tanδ測試裝置:
樣品尺寸:固體:材料測量直徑 Φ38mm ;厚度可調(diào) <15mm ;
(極片可以定制)
選配液體杯,可做液體材料的檢測。
電感組:
電感No 電感量 準確度% Q值≥ 分布電容約略值 諧振頻率范圍 MHz 適合介電常數(shù)測試頻率
1 0.1μH ±0.05μH 200 5pF 31~103 50MHz
2 0.5μH ±0.05μH 200 5pF 14.8~46.6 15MHz
3 2.5μH ±5% 200 5pF 6.8~21.4 10MHz
4 10μH ±5% 200 6pF 3.4~10.55 5MHz
5 50μH ±5% 200 6pF 1.5~4.55 1.5MHz
6 100μH ±5% 200 6pF 1.06~3.20 1MHz
7 1mH ±5% 150 8pF 0.34~1.02 0.5MHz
8 5mH ±5% 130 8pF 0.148~0.39 0.25MHz
9 10mH ±5% 90 8pF 0.107~0.32 0.1MHz
10 14nH ±5% 100 5pF 100MHz 100MHz
配置:含STD-C測試主機1臺,樣品夾具1套,電感1組(9個),如需選配液體杯,費用另計。



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