一、產(chǎn)品簡介

SuperView W3白光干涉儀是一款用于對各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級測量的檢測儀器。它是以白光干涉技術(shù)為原理、結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對器件表面進(jìn)行非接觸式掃描并建立表面3D圖像，通過系統(tǒng)軟件對器件表面3D圖像進(jìn)行數(shù)據(jù)處理與分析，并獲取反映器件表面質(zhì)量的2D、3D參數(shù)，從而實(shí)現(xiàn)器件表面形貌3D測量的光學(xué)檢測儀器。

SuperView W3白光干涉儀可廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體制造及封裝工藝檢測、3C電子玻璃屏及其精密配件、光學(xué)加工、微納材料及制造、汽車零部件、MEMS器件等超精密加工行業(yè)及航空航天、國防軍工、科研院所等領(lǐng)域中?？蓽y各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等，提供依據(jù)ISO/ASME/EUR/GBT四大國內(nèi)外標(biāo)準(zhǔn)共計(jì)300余種2D、3D參數(shù)作為評價(jià)標(biāo)準(zhǔn)。

二、產(chǎn)品功能

  1）樣件測量能力：滿足從超光滑到粗糙、鏡面到全透明或黑色材質(zhì)等所有類型樣件表面的測量；

  2）自動(dòng)測量功能：自動(dòng)單區(qū)域測量功能、自動(dòng)多區(qū)域測量功能、自動(dòng)拼接測量功能；

  3）編程測量功能：可預(yù)先配置數(shù)據(jù)處理和分析步驟，結(jié)合自動(dòng)測量功能，實(shí)現(xiàn)一鍵測量；

  4）數(shù)據(jù)處理功能：提供位置調(diào)整、去噪、濾波、提取四大模塊的數(shù)據(jù)處理功能；

  5）數(shù)據(jù)分析功能：提供粗糙度分析、幾何輪廓分析、結(jié)構(gòu)分析、頻率分析、功能分析等五大分析功能。

  6）批量分析功能：可根據(jù)需求參數(shù)定制數(shù)據(jù)處理和分析模板，針對同類型參數(shù)實(shí)現(xiàn)一鍵批量分析；

三、半導(dǎo)體領(lǐng)域?qū)ｍ?xiàng)產(chǎn)品功能

  1）同步支持6、8、12英寸三種規(guī)格的晶圓片測量，并可一鍵實(shí)現(xiàn)三種規(guī)格的真空吸盤的自動(dòng)切換以適配不同尺寸晶圓；

  2）具備研磨工藝后減薄片的粗糙度自動(dòng)測量功能，能夠一鍵測量數(shù)十個(gè)小區(qū)域的粗糙度求取均值；

  3）具備晶圓制造工藝中鍍膜臺(tái)階高度的測量，覆蓋從1nm~1mm的測量范圍，實(shí)現(xiàn)高精度測量；

四、應(yīng)用領(lǐng)域

對各種產(chǎn)品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、波紋度、面形輪廓、表面缺陷、磨損情況、腐蝕情況、孔隙間隙、臺(tái)階高度、彎曲變形情況、加工情況等表面形貌特征進(jìn)行測量和分析。

半導(dǎo)體制造（減薄粗糙度、鐳射槽道輪廓）	光學(xué)元器件.曲率&輪廓尺寸&粗糙度
（超精密）加工.輪廓尺寸&角度	表面工程（摩擦學(xué)）.輪廓面積&體積
3C電子（玻璃屏）.粗糙度	標(biāo)準(zhǔn)塊.臺(tái)階高&粗糙度

五、樣品測試報(bào)告：

點(diǎn)擊表格內(nèi)圖片或文字可查看詳細(xì)報(bào)告數(shù)據(jù)

懇請注意：因市場發(fā)展和產(chǎn)品開發(fā)的需要，本產(chǎn)品資料中有關(guān)內(nèi)容可能會(huì)根據(jù)實(shí)際情況隨時(shí)更新或修改，恕不另行通知，不便之處敬請諒解。

三、半導(dǎo)體領(lǐng)域?qū)ｍ?xiàng)產(chǎn)品功能

  1）同步支持6、8、12英寸三種規(guī)格的晶圓片測量，并可一鍵實(shí)現(xiàn)三種規(guī)格的真空吸盤的自動(dòng)切換以適配不同尺寸晶圓；

  2）具備研磨工藝后減薄片的粗糙度自動(dòng)測量功能，能夠一鍵測量數(shù)十個(gè)小區(qū)域的粗糙度求取均值；

  3）具備晶圓制造工藝中鍍膜臺(tái)階高度的測量，覆蓋從1nm~1mm的測量范圍，實(shí)現(xiàn)高精度測量；