廣州儀德精密科學(xué)儀器股份有限公司主營(yíng)：直讀光譜儀,熒光光譜儀,日本理學(xué)光譜儀,便攜式光譜儀,顯微鏡

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直讀光譜儀--發(fā)射光譜儀

管他叫直讀的原因是相對(duì)于攝譜儀和早期的發(fā)射光譜儀而言，由于在70年代以前還沒(méi)有計(jì)算機(jī)采用，所有的光電轉(zhuǎn)換出來(lái)的電流信號(hào)都用數(shù)碼管讀數(shù)，然后在對(duì)數(shù)轉(zhuǎn)換紙上繪出曲線并求出含量值，計(jì)算機(jī)技術(shù)在光譜儀應(yīng)用后，所有的數(shù)據(jù)處理全部由計(jì)算機(jī)完成，可以直接換算出含量，所以比較形象的管它叫直接可以讀出結(jié)果，簡(jiǎn)稱就叫直讀了，在國(guó)外沒(méi)有這個(gè)概念。

直讀光譜儀和ICP都屬于發(fā)射光譜分析儀器,區(qū)別在于他們的激發(fā)方式不同,ICP中文名字是電感耦合等離子體,是通過(guò)線圈磁場(chǎng)達(dá)到高溫使樣品的狀態(tài)呈等離子態(tài)然后進(jìn)行測(cè)量的,而直讀光譜儀一般采用電火花,電弧或者輝光放電的方式把樣品打成蒸氣進(jìn)行激發(fā)的,在效果上ICP要比直讀光譜儀器的檢出限小,精度高,但是在進(jìn)樣系統(tǒng)上要求非常嚴(yán)格,沒(méi)有好的進(jìn)樣系統(tǒng)就只能做溶液樣品.部分國(guó)外先進(jìn)的ICP可以做固體樣品，例如熱電ICP.

光電直讀光譜儀特點(diǎn)

計(jì)算機(jī)軟件建有數(shù)據(jù)庫(kù)系統(tǒng)，方便了測(cè)量數(shù)據(jù)的查詢與打印，也可通過(guò)網(wǎng)絡(luò)遠(yuǎn)程傳輸數(shù)據(jù)，方便快捷。

各項(xiàng)系統(tǒng)i獨(dú)立供電，組成單元，使用方便，維護(hù)簡(jiǎn)單。

采用光學(xué)部分恒溫措施，保證了儀器的正常運(yùn)行，從而降低了對(duì)環(huán)境的要求。

采用高精度直線電機(jī)進(jìn)行入縫掃描，速度快，精i確度高。

采用整體出射狹縫，方面增加通道。

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維護(hù)直讀光譜儀的要點(diǎn)

一、直讀光譜儀維護(hù)保養(yǎng)原則

光電直讀光譜儀是光和電結(jié)合的精密儀器，正確地使用和維護(hù)保養(yǎng)是機(jī)器正常運(yùn)行，延長(zhǎng)使用壽命，保持高性能和高指標(biāo)的關(guān)鍵。一定要按照儀器說(shuō)明書(shū)來(lái)全i面理解，從原理到實(shí)際操作、測(cè)試等整個(gè)過(guò)程。直讀光譜儀維護(hù)要做到三防一恒。即防震，防塵，防潮，儀器要保持恒溫。這個(gè)條件必須在設(shè)計(jì)試驗(yàn)室需要考慮的。

二、直讀光譜儀激發(fā)光源的維護(hù)

光源的穩(wěn)定性與直讀光譜分析至關(guān)重要；光源內(nèi)積塵太多和空氣溫度較大時(shí)容易造成漏電或放電。所以我們應(yīng)該定期進(jìn)行清掃，吸去塵土。

關(guān)于選擇直讀光譜儀的分析

CCD具有體積小、重量輕、測(cè)量范圍寬的優(yōu)點(diǎn)，每個(gè)CCD可以測(cè)量多條譜線。因此CCD光譜儀體積小重量輕，性價(jià)比較高。后期儀器增設(shè)也比較簡(jiǎn)單。適合檢測(cè)產(chǎn)品種類多且成分復(fù)雜的客戶使用。但是由于CCD噪聲相對(duì)PMT要高，因此CCD光譜儀的檢出限比PMT機(jī)型相對(duì)要差一點(diǎn)，對(duì)于需要分析純金屬的客戶是不太適合的。DF400、DF500屬于CCD型機(jī)器。

PMT/CCD混合型的機(jī)器集PMT和CCD的優(yōu)點(diǎn)于一身，微量元素用PMT測(cè)量，常量及高含量元素用CCD測(cè)量，兼顧了PMT的低檢出限和CCD的多通道特性，性能和價(jià)格都比較理想。

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小編教你如何避免直讀光譜儀的誤差

(1)試樣表面要平整，當(dāng)試樣放在電極架上時(shí)，不能有漏氣現(xiàn)象。如有漏氣，激發(fā)時(shí)聲音不正常。

(2)樣品與控制標(biāo)樣的磨紋粗細(xì)要一致，不能有交叉紋，磨樣用力不要過(guò)大，而且用力要均勻，用力過(guò)大，容易造成試樣表面氧化。

(3)對(duì)高鎳鉻鋼磨樣時(shí)，要使用新砂輪片磨樣，磨紋操作要求更嚴(yán)格。

(4)試樣不能有偏析、裂紋、氣孔等缺陷，試樣要有一定的代表性。

直讀光譜儀有哪些誤差來(lái)源

系統(tǒng)誤差的來(lái)源

(1)標(biāo)樣和試樣中的含量和化學(xué)組成不完全相同時(shí)，可能引起基體線和分析線的強(qiáng)度改變，從而引入誤差。

(2)標(biāo)樣和試樣的物理性能不完全相同時(shí)，激發(fā)的特征譜線會(huì)有差別從而產(chǎn)生系統(tǒng)誤差。

(3)澆注狀態(tài)的鋼樣與經(jīng)過(guò)退火、淬火、回火、熱軋、鍛壓狀態(tài)的鋼樣金屬組織結(jié)構(gòu)不相同時(shí)，測(cè)出的數(shù)據(jù)會(huì)有所差別。