x熒光光譜儀檢測熒光光譜儀 日本理學(xué) 熒光光譜儀
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x熒光光譜儀檢測熒光光譜儀-日本理學(xué)-熒光光譜儀

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產(chǎn)品 日本
品牌 日本理學(xué)
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儀器名 波長色散x射線熒光光譜儀
產(chǎn)品編號 9108121
商品介紹
廣州儀德精密科學(xué)儀器股份有限公司主營:直讀光譜儀,熒光光譜儀,日本理學(xué)光譜儀,便攜式光譜儀,顯微鏡

不同元素的熒光x射線具有各自的特定波長或能量,因此根據(jù)熒光x射線的波長或能量可以確定元素的組成。如果是波長色散型光譜儀,對于一定晶面間距的晶體,由檢測器轉(zhuǎn)動的2e角可以求出x射線的波長入,從而確定元素成份。對于能量色散型光譜儀,可以由通道來判別能量,從而確定是何種元素及成份。但是如果元素含量過低或存在元素間的譜線干擾時,仍需人工鑒別。首先識別出管靶材的特征x射線和強峰的伴隨線,然后根據(jù)能量標注剩余譜線。在分析未知譜線時,要同時考慮到樣品的來源、性質(zhì)等元素,以便綜合判斷。

3、X熒光光譜儀定量分析

X射線熒光光譜法進行定量分析的根據(jù)是元素的熒光X射線強度Ii與試樣中該元素的含量Ci成正比:Ii=Is×Ci式中Is為Ci=100%時,該元素的熒光X射線的強度。根據(jù)上式,可以采用標準曲線法、增量法、內(nèi)標法等進行定量分析。但是這些方法都要使標準樣品的組成與試樣的組成盡可能相同或相似,否則試樣的基體效應(yīng)是指樣品的基本化學(xué)組成和物理化學(xué)狀態(tài)的變化對X射線熒光強度所造成的影響?;瘜W(xué)組成的變化,會影響樣品對一次X射線和X射線熒光的吸收,也會改變熒光增應(yīng)。例如,在測定不銹鋼中Fe和Ni等元素時,由于一次X射線的激發(fā)會產(chǎn)生Nika熒光X射線,Nika在樣品中可能被Fe吸收,使Fe激發(fā)產(chǎn)生Feka。測定Ni時,因為Fe的吸收效應(yīng)使結(jié)果偏低,測定Fe時,由于熒光增應(yīng)使結(jié)果偏高。





土壤是重金屬污染的主要載體,也是重金屬污染防治,修復(fù)的主要目標。摸清土壤污染狀況,監(jiān)測土壤污染動態(tài)是污染防治的基礎(chǔ)。土壤中重金屬污染的分析除了常見的原子吸收,等離子體發(fā)射光譜和等離子體質(zhì)譜法之外,使用zui頻繁的是X射線熒光光譜儀(XRF), 按照儀器設(shè)計與檢測原理的不同,XRF產(chǎn)品可分為能量色散EDXRF與波長色散型WDXRF。其中EDXRF有分為臺式與手持式儀器。

   在固體廢棄物,尤其是廢舊電器產(chǎn)品的重金屬檢測(Rohs)指令也日益重要,在這類應(yīng)用中,臺式EDXRF或便攜手持式XRF經(jīng)常作為有害重金屬元素的初級篩查工具在市場上得以廣泛應(yīng)用。







原子熒光光譜法具有原子吸收和原子發(fā)射兩種分析方法的優(yōu)勢,并且克服了這2種方法在某些地方的不足。該法的優(yōu)點是靈敏度高,目前已有20多種元素的檢出限優(yōu)于原子吸收光譜法和原子發(fā)射光譜法;譜線簡單;在低濃度時校準曲線的線性范圍寬達3~5個數(shù)量級,特別是用激光做激發(fā)光源時更佳,但其存在熒光淬滅效應(yīng),散射光干擾等問題。

該方法主要用于金屬元素的測定,在環(huán)境科學(xué)、高純物質(zhì)、礦物、水質(zhì)監(jiān)控、生物制品和醫(yī)學(xué)分析等方面有廣泛的應(yīng)用。





原子吸收光譜法又稱原子吸收分光光度分析法,是基于氣態(tài)的基態(tài)原子外層電子對紫外光和可見光范圍的相對應(yīng)原子共振輻射線的吸收強度來定量被測元素含量為基礎(chǔ)的分析方法,是一種測量特定氣態(tài)原子對光輻射的吸收的方法。

其基本原理是從空心陰極燈或光源中發(fā)射出一束特定波長的入射光,通過原子化器中待測元素的原子蒸汽時,部分被吸收,透過的部分經(jīng)分光系統(tǒng)和檢測系統(tǒng)即可測得該特征譜線被吸收的程度即吸光度,根據(jù)吸光度與該元素的原子濃度成線性關(guān)系,即可求出待測物的含量。


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